Transcript 第20讲
5.1.3 晶体的二次电光效应 可以存在于所有电介质(固体、液体和气体)中,某些极 性液体(如硝基苯)和铁电晶体的克尔效应很大。 所有晶体都具有二次电光效应。但是在无对称中心的20 类晶体中,线性电光效应比二次电光效应显著的多,所以这 类晶体的二次电光效应一般不予考虑。 在具有对称中心的晶体中,最低阶的电光效应就是二次 电光效应,我们感兴趣的是属于立方晶系的那些晶体的二次 电光效应。因为这些晶体在未加电场时,在光学上是各向同 性的,这一点在应用上很重要。 1. 晶体二次电光效应的理论描述 如前所述,二次电光效应的一般表达式为: Bij = hijpqEpEq i, j, p, q =1, 2, 3 Ep、Eq是外加电场分量;[hijpq]是晶体的二次电光系数(或克 尔系数),是四阶张量。 人们习惯于将[Bij]与晶体的极化强度联系起来,表示为: Bij = gijpqPpPq i, j, p, q = 1, 2, 3 其中,Pp,Pq 是晶体上外加电场后的极化强度分量,[gijpq]也 叫二次电光系数,一般手册给出的是 [gijpq]。 可以证明,[hijpq]和[gijpq]都是对称的四阶张量,均可采 用简化下标表示,即 ij→ m , pq→ n , m、n的取值范围是从 1 到 6。于是, 四阶张量的克尔系数可以从九行九列的方阵 简化成六行六列的方阵。 2 B h E 简化表达式: m mn n m, n 1,2,,6 (5.1-73) Bm g mn Pn2 m, n 1,2,,6 (5.1-74) E12 E1 E1 ; E22 E2 E2 ; E32 E3 E3 ; E42 E2 E3 ; E62 E1 E2 ; P12 P1P1 ; P22 P2 P2 ; P32 P3 P3 ; P42 P2 P3 ; P52 P3 P1 ; P62 P1P2 且当 n =1, 2, 3 时 当 n =4, 5, 6 时, hmn hijpq g mn g ijpq hmn 2hijpq g mn 2 g ijpq 2. m3m晶类的二次电光效应 属 于 m3m 晶 体 的 有 KTN( 钽 酸 铌 钾 ) , TaO3( 钽 酸 ) , BaTiO3(钛酸钡),NaCl(氯化钠),LiCl(氯化锂), LiF(氟化锂), NaF(氟化钠)等。 未加电场时,这些晶体在光学上是各向同性的,折射率 椭球为旋转球面: 2 1 2 0 2 2 2 0 2 3 2 0 x x x 1 n n n 当晶体外加电场时,折射率椭球发生变化,其二次电光 效应可表示为: g11 g12 g12 B 1 B g 12 g11 g12 2 B3 g12 g12 g11 0 0 B4 0 B 0 0 5 0 B6 0 0 0 0 0 0 P12 0 0 0 P22 2 0 0 0 P3 2 g 44 0 0 P4 2 0 g 44 0 P5 2 0 0 g 44 P6 由此得: B1 g P g P g P 2 11 1 2 12 2 2 12 3 B2 g12 P12 g11P22 g12 P32 B3 g12 P12 g12 P22 g11P32 B4 g P 2 44 4 B5 g P 2 44 5 B6 g P 2 44 6 将上面分量代入折射率椭球的一般形式,即可得到: 1 ( 2 g11P12 g12 P22 g12 P32 ) x12 n0 1 ( 2 g12 P12 g11P22 g12 P32 ) x22 n0 1 ( 2 g12 P12 g12 P22 g11P32 ) x32 n0 (5.1-79) 2g P x x 2g P x x 2g P x x 1 2 44 4 2 3 2 44 5 1 3 2 44 6 1 2 讨论一种简单的情况:外电场沿 x3 轴 [011] 方向作用 于晶体,即E1= E2= 0 , E3= E 立方晶体的电场与极化强度间的关系为: Pi = 0 Ei i = 1, 2, 3 所以P1 = P2= 0 , P3= 0 E ,则 1 1 2 2 2 2 2 2 2 2 ( 2 g12 0 E ) x1 ( 2 g12 0 E ) x2 n0 n0 1 2 2 2 2 ( 2 g11 0 E ) x3 1 n0 显然,当沿 x3 方向外加电场时,由于二次电光效应, 折射率椭球由球变成一个旋转椭球,其主折射率为: 1 3 2 2 2 n1 n0 n0 g12 0 E 2 1 3 2 2 2 n2 n0 n0 g12 0 E 2 1 3 2 2 2 n3 n0 n0 g11 0 E 2 当光沿 x3 方向传播时无双折射现象发生;当光沿 x1 方向 ( [100]方向)传播时,通过晶体产生的电光延迟为: 2π (n2 n3 )l πn03 02 2 E 2l ( g11 g12 ) πn03 02 2U 2l ( g11 g12 ) 2 d 相应的半波电压: U / 2 d 2 n03 02 2l ( g11 g12 ) 5.1.4 晶体电光效应的应用 在外电场的作用下电光晶体相当于一个受电压控制的波 片,改变外电场,便可改变相应的二特许线偏振光的电光延 迟,从而改变输出光的偏振状态。正是由于这种偏振状态的 可控性,其在光电子技术中获得了广泛应用。 1. 电光调制 光调制技术——将信息电压(调制电压)加载到光波上的技术。 电光调制 —— 利用电光效应实现的调制。 电光晶体(如KDP)放在一对正交偏振器之间,对晶体实 行纵向运用,则加电场后的晶体感应主轴 x1、x2 相对晶轴 x1、x2 方向旋转 45,并与起偏器的偏振轴 P1 成 45 夹角。 典型的电光强度调制器 由正交偏振器偏光干涉,当 晶片 = 45 时,通过检偏器 输出的光强 I 与通过起偏器输入的光强 I0 之比为 : I 2 sin I0 2 光路中未插入1/4 波片时,上式的 是晶体的电光延迟。 由 (5.1-31) 、(5.1-32) 有: U π U /2 则: I 2 π U sin I0 2 U /2 ——为光强透过率(%) 如果外加电压是正弦信号:U 则透过率为: U 0 sin( mt ) I 2 π U0 sin sin( mt ) I0 2 U / 2 该式说明,一般的输出调制信号不是正弦信号,它们发生了 畸变。 在光路中插入 1/4 波片,则光通过调制器后的总相位差 是 ( /2+ ),因此,通过检偏器输出的光强 I 与通过起偏器 输入的光强 I0 之比变为: I π U0 2π sin sin( mt ) I0 4 2 U / 2 工作点由 0 移到 A 点。在弱信号调制时,U<< U/2,则: I 1 π U0 sin( mt ) I0 2 2 U / 2 I/I0() 100 1 U0 透射强度 A 50 4 时间 3 0 U 4 2 U 2 外加 电压 调制 电压 可见,当插入 1/4 波片后,一个小的正弦调制电压将引 起透射光强在 50% 透射点附近作正弦变化。 2. 电光偏转(扫描) 与机械转镜式光束偏转技术相比,电光偏转技术具有高 速、高稳定性的特点,因此在光束扫描、光计算等应用中, 倍受重视。 ① 玻璃光楔 如图所示,设入射波前与光楔的 AB 面平行,由于光楔 的折射率 n > 1,所以 AB 面上各点的振动传到AB (∥AB)面 上时,通过了不同的光程: A A,光程为 l ; B B,光程为 nl ; C C ,光程为 nl (ll ) = l (n1)l 从上到下,光在玻璃 中的路程 l 线性增加,所 以整个光程线性增加。因 此,透射波的波阵面发生 倾斜,偏角为: l nl (n 1) D D 光束通过光楔的偏转 ② 电光偏转器 由两块KDP楔形棱镜组成,棱镜外加电压沿 x3 方向, 两块棱镜的光轴方向(x3)相反,x1 、x2为感应主轴方向。 h l E 入射光 D 出射光 x1 x3 x2 nl D 若光线沿 x2 轴方向入射,振动方向为 x1轴方向,则: 1 光在下面棱镜中的折射率: n n n 3 E 1下 o o 63 3 2 在上面棱镜中,电场与 x3 方向相反,所以折射率: 1 3 n1上 no no 63 E3 2 上下光的折射率之差: n n1' 上 n1' 下 no3 63 E3 光穿过偏振器后的偏转角: l 3 l 3 no 63 E3 no 63U 3 D Dh 5.2 声光效应 5.2.1 弹光效应和弹光系数 5.2.2 声光衍射 5.2.1 弹光效应和弹光系数 弹光效应的概念 各向同性、均匀、线性光学介质,在不受任何外力作用 时,其光学性质稳定。 对介质施加外力作用,介质形变在弹性限度范围内(介 质不至于在力的作用下被损坏)。 介质之中就会产生弹性应力和弹性形变;与之相应,介 质的光学性质(折射率)发生改变,且折射率的改变量与外力 在介质内所产生的张应力的相关、并且是张应力的显函数。 原本各向同性、均匀、线性、稳定的光学介质,在足够 大的外力作用下,因其光学性质发生改变而转变成为各向异 性,结果导致介质能够产生光的双折射现象。 各向异性的光学晶体,在足够大的外力作用下,其光学 各向异性性质会进一步加剧。 介质在足够大的外力作用下,其光学性质发生改变(即 折射率发生变化)的现象,叫做弹光效应。 1. 弹光效应的理论描述 类似电光效应的处理方法,即应力或应变对介质光学性 质(介质折射率)的影响,可以通过介质折射率椭球的形状和 假设介质未受外力作用时的折射率椭球为: B x xj 1 0 ij i i, j 1, 2, 3 介质受到应力 作用后的折射率椭球变为: Bij xi x j 1 或 ( Bij0 Bij ) xi x j 1 Bij 为介质受应力作用后折射率椭球各系数的变化量, 它是应力的函数: Bij = f () 若考虑线性效应,略去所有的高次项,Bij 可表示为 Bij = Πijklkl i , j , k , l =1, 2, 3 在此,考虑了介质光学性质的各向异性,认为应力[kl] 和折射率椭球的系数增量 [Bij] 是二阶张量。 [Πijkl]——压光系数,是四阶张量,有 81 个分量。 根据虎克(Hooke)定律,应力和应变有如下关系: kl = Cklrssrs k, l, r, s = 1, 2, 3 [srs]——弹性应变; [Cklrs]——倔强系数。 则: Bij = Πijklkl = ijklCklrs srs = Pijrs srs Pijrs= ijklCklrs —— 弹光系数,是四阶张量,有81个分量。 由于 [Bij] 和 [kl] 都是对称二阶张量,有 Bij = Bji 和 kl = lk,所以有 ijkl= jilk,故可将前后两对下标 ij 和 kl 分 别替换成单下标,将张量用矩阵表示。 相应的下标关系为: 张量表 示 (ij) (kl) (rs) 11 22 33 23,32 31,13 12,21 矩阵表 示 (m) (n) 1 2 3 4 5 6 且有: n=1, 2, 3 时, mn= ijkl ,如 21= 2211 n=4, 5, 6 时, mn=2 ijkl ,如 24=2 2223 采用矩阵形式后,则有: Bm=Πmnn m, n =1, 2, …, 6 这样,压光系数的分量数由张量表示时的 81 个减少为 36个。应指出,[mn] 在分量形式上与二阶张量分量相似, 但它不是二阶张量,而是一个 6×6 矩阵 类似地,弹光系数[Pijkl]的下标也可以进行简化,于 是可得矩阵(分量) Bm = Pmn sn m, n = 1, 2, …,6 与 [mn] 的差别是,[Pmn] 的所有分量均有 Pmn= Pijkl ,并且 有Pmn = mrCrn (m, n, r =1, 2, …, 6) 。 2. 弹光效应的计算示例 (1) 23 和m3立方晶体受到平行于立方体轴的单向应力作用 设立方晶体三个主轴为x1、x2、x3 ,应力平行于x1方向。 施加应力前的折射率椭球为旋转球面: B 0 ( x12 x22 x32 ) 1 式中,B0 = 1/n02。 在应力作用下折射率椭球发生了变化,在一般情况下: B x B2 x B x 2 1 1 2 2 2 3 3 2 B4 x2 x3 2 B5 x3 x1 2 B6 x1 x2 1 根据 Bm=Πmnn 及立方晶体的 [mn] 矩阵形式,有: 0 0 Π11σ B1 Π11 Π12 Π13 0 B 0 Π σ Π Π Π 0 0 0 11 12 2 13 13 B3 Π12 Π13 Π11 0 0 0 0 Π12σ 0 0 Π 44 0 0 0 0 B4 0 B5 0 0 0 0 Π 44 0 0 0 0 0 0 0 Π 44 0 0 B6 0 1 由此可得: B1 B ΔB1 11 2 n0 1 0 B2 B ΔB2 2 13 n0 0 1 B3 B ΔB3 2 12 n0 0 B4 B5 B6 0 则: 1 1 1 2 2 ( 2 Π11 ) x1 ( 2 Π13 ) x2 ( 2 Π12 ) x32 1 n0 n0 n0 可见,当晶体沿 x1 方向加单向应力时,折射率椭球由旋 转球变成了椭球,主轴仍为 x1 、x2、x3 ,立方晶体变成双轴 晶体,相应的三个主折射率为: 1 3 n1 n0 n0 11 2 1 3 n2 n0 n0 13 2 1 3 n3 n0 n0 12 2 (2) 43m、432和m3m立方晶体受到平行于立方体轴 (例如x1方向)的单向应力作用 这种情况与上述情况基本相同,只是由于这类晶体的 Π12=Π13,所以: 1 3 n1 n0 n0 11 2 1 3 n2 n0 n0 12 2 1 3 n3 n0 n0 12 2 即晶体由光学各向同性变成了单轴晶体。