Transcript 第20讲
5.1.3 晶体的二次电光效应
可以存在于所有电介质(固体、液体和气体)中,某些极
性液体(如硝基苯)和铁电晶体的克尔效应很大。
所有晶体都具有二次电光效应。但是在无对称中心的20
类晶体中,线性电光效应比二次电光效应显著的多,所以这
类晶体的二次电光效应一般不予考虑。
在具有对称中心的晶体中,最低阶的电光效应就是二次
电光效应,我们感兴趣的是属于立方晶系的那些晶体的二次
电光效应。因为这些晶体在未加电场时,在光学上是各向同
性的,这一点在应用上很重要。
1. 晶体二次电光效应的理论描述
如前所述,二次电光效应的一般表达式为:
Bij = hijpqEpEq
i, j, p, q =1, 2, 3
Ep、Eq是外加电场分量;[hijpq]是晶体的二次电光系数(或克
尔系数),是四阶张量。
人们习惯于将[Bij]与晶体的极化强度联系起来,表示为:
Bij = gijpqPpPq
i, j, p, q = 1, 2, 3
其中,Pp,Pq 是晶体上外加电场后的极化强度分量,[gijpq]也
叫二次电光系数,一般手册给出的是 [gijpq]。
可以证明,[hijpq]和[gijpq]都是对称的四阶张量,均可采
用简化下标表示,即 ij→ m , pq→ n , m、n的取值范围是从
1 到 6。于是, 四阶张量的克尔系数可以从九行九列的方阵
简化成六行六列的方阵。
2
B
h
E
简化表达式: m
mn n
m, n 1,2,,6 (5.1-73)
Bm g mn Pn2
m, n 1,2,,6 (5.1-74)
E12 E1 E1 ; E22 E2 E2 ; E32 E3 E3 ; E42 E2 E3 ; E62 E1 E2 ;
P12 P1P1 ; P22 P2 P2 ; P32 P3 P3 ; P42 P2 P3 ; P52 P3 P1 ; P62 P1P2
且当 n =1, 2, 3 时
当 n =4, 5, 6 时,
hmn hijpq
g mn g ijpq
hmn 2hijpq
g mn 2 g ijpq
2. m3m晶类的二次电光效应
属 于 m3m 晶 体 的 有 KTN( 钽 酸 铌 钾 ) , TaO3( 钽 酸 ) ,
BaTiO3(钛酸钡),NaCl(氯化钠),LiCl(氯化锂), LiF(氟化锂),
NaF(氟化钠)等。
未加电场时,这些晶体在光学上是各向同性的,折射率
椭球为旋转球面:
2
1
2
0
2
2
2
0
2
3
2
0
x
x
x
1
n n n
当晶体外加电场时,折射率椭球发生变化,其二次电光
效应可表示为:
g11 g12 g12
B
1
B g
12 g11 g12
2
B3 g12 g12 g11
0 0
B4 0
B
0 0
5 0
B6
0 0
0
0 0 0 P12
0 0 0 P22
2
0 0 0 P3
2
g 44 0 0 P4
2
0 g 44 0 P5
2
0 0 g 44 P6
由此得:
B1 g P g P g P
2
11 1
2
12 2
2
12 3
B2 g12 P12 g11P22 g12 P32
B3 g12 P12 g12 P22 g11P32
B4 g P
2
44 4
B5 g P
2
44 5
B6 g P
2
44 6
将上面分量代入折射率椭球的一般形式,即可得到:
1
( 2 g11P12 g12 P22 g12 P32 ) x12
n0
1
( 2 g12 P12 g11P22 g12 P32 ) x22
n0
1
( 2 g12 P12 g12 P22 g11P32 ) x32
n0
(5.1-79)
2g P x x 2g P x x 2g P x x 1
2
44 4 2 3
2
44 5 1 3
2
44 6 1 2
讨论一种简单的情况:外电场沿 x3 轴 [011] 方向作用
于晶体,即E1= E2= 0 , E3= E
立方晶体的电场与极化强度间的关系为:
Pi = 0 Ei
i = 1, 2, 3
所以P1 = P2= 0 , P3= 0 E ,则
1
1
2 2 2
2
2 2 2
2
( 2 g12 0 E ) x1 ( 2 g12 0 E ) x2
n0
n0
1
2 2
2
2
( 2 g11 0 E ) x3 1
n0
显然,当沿 x3 方向外加电场时,由于二次电光效应,
折射率椭球由球变成一个旋转椭球,其主折射率为:
1 3
2
2
2
n1 n0 n0 g12 0 E
2
1 3
2
2
2
n2 n0 n0 g12 0 E
2
1 3
2
2
2
n3 n0 n0 g11 0 E
2
当光沿 x3 方向传播时无双折射现象发生;当光沿 x1 方向
( [100]方向)传播时,通过晶体产生的电光延迟为:
2π
(n2 n3 )l
πn03 02 2 E 2l
( g11 g12 )
πn03 02 2U 2l
( g11 g12 )
2
d
相应的半波电压: U / 2
d 2
n03 02 2l ( g11 g12 )
5.1.4 晶体电光效应的应用
在外电场的作用下电光晶体相当于一个受电压控制的波
片,改变外电场,便可改变相应的二特许线偏振光的电光延
迟,从而改变输出光的偏振状态。正是由于这种偏振状态的
可控性,其在光电子技术中获得了广泛应用。
1. 电光调制
光调制技术——将信息电压(调制电压)加载到光波上的技术。
电光调制 —— 利用电光效应实现的调制。
电光晶体(如KDP)放在一对正交偏振器之间,对晶体实
行纵向运用,则加电场后的晶体感应主轴 x1、x2 相对晶轴
x1、x2 方向旋转 45,并与起偏器的偏振轴 P1 成 45 夹角。
典型的电光强度调制器
由正交偏振器偏光干涉,当 晶片 = 45 时,通过检偏器
输出的光强 I 与通过起偏器输入的光强 I0 之比为 :
I
2
sin
I0
2
光路中未插入1/4 波片时,上式的 是晶体的电光延迟。
由 (5.1-31) 、(5.1-32) 有:
U
π
U /2
则:
I
2 π U
sin
I0
2 U /2
——为光强透过率(%)
如果外加电压是正弦信号:U
则透过率为:
U 0 sin( mt )
I
2 π U0
sin
sin( mt )
I0
2 U / 2
该式说明,一般的输出调制信号不是正弦信号,它们发生了
畸变。
在光路中插入 1/4 波片,则光通过调制器后的总相位差
是 ( /2+ ),因此,通过检偏器输出的光强 I 与通过起偏器
输入的光强 I0 之比变为:
I
π U0
2π
sin
sin( mt )
I0
4 2 U / 2
工作点由 0 移到 A 点。在弱信号调制时,U<< U/2,则:
I 1 π U0
sin( mt )
I0 2 2 U / 2
I/I0()
100
1
U0
透射强度
A
50
4
时间
3
0
U 4
2
U 2
外加
电压
调制
电压
可见,当插入 1/4 波片后,一个小的正弦调制电压将引
起透射光强在 50% 透射点附近作正弦变化。
2. 电光偏转(扫描)
与机械转镜式光束偏转技术相比,电光偏转技术具有高
速、高稳定性的特点,因此在光束扫描、光计算等应用中,
倍受重视。
① 玻璃光楔
如图所示,设入射波前与光楔的 AB 面平行,由于光楔
的折射率 n > 1,所以 AB 面上各点的振动传到AB (∥AB)面
上时,通过了不同的光程:
A A,光程为 l ;
B B,光程为 nl ;
C C ,光程为
nl (ll ) = l (n1)l
从上到下,光在玻璃
中的路程 l 线性增加,所
以整个光程线性增加。因
此,透射波的波阵面发生
倾斜,偏角为:
l
nl
(n 1)
D
D
光束通过光楔的偏转
② 电光偏转器
由两块KDP楔形棱镜组成,棱镜外加电压沿 x3 方向,
两块棱镜的光轴方向(x3)相反,x1 、x2为感应主轴方向。
h
l
E
入射光
D
出射光
x1
x3
x2
nl
D
若光线沿 x2 轴方向入射,振动方向为 x1轴方向,则:
1
光在下面棱镜中的折射率: n n n 3 E
1下
o
o 63 3
2
在上面棱镜中,电场与 x3
方向相反,所以折射率:
1 3
n1上 no no 63 E3
2
上下光的折射率之差:
n n1' 上 n1' 下 no3 63 E3
光穿过偏振器后的偏转角:
l 3
l 3
no 63 E3
no 63U 3
D
Dh
5.2 声光效应
5.2.1 弹光效应和弹光系数
5.2.2 声光衍射
5.2.1 弹光效应和弹光系数
弹光效应的概念
各向同性、均匀、线性光学介质,在不受任何外力作用
时,其光学性质稳定。
对介质施加外力作用,介质形变在弹性限度范围内(介
质不至于在力的作用下被损坏)。
介质之中就会产生弹性应力和弹性形变;与之相应,介
质的光学性质(折射率)发生改变,且折射率的改变量与外力
在介质内所产生的张应力的相关、并且是张应力的显函数。
原本各向同性、均匀、线性、稳定的光学介质,在足够
大的外力作用下,因其光学性质发生改变而转变成为各向异
性,结果导致介质能够产生光的双折射现象。
各向异性的光学晶体,在足够大的外力作用下,其光学
各向异性性质会进一步加剧。
介质在足够大的外力作用下,其光学性质发生改变(即
折射率发生变化)的现象,叫做弹光效应。
1. 弹光效应的理论描述
类似电光效应的处理方法,即应力或应变对介质光学性
质(介质折射率)的影响,可以通过介质折射率椭球的形状和
假设介质未受外力作用时的折射率椭球为:
B x xj 1
0
ij i
i, j 1, 2, 3
介质受到应力 作用后的折射率椭球变为:
Bij xi x j 1
或
( Bij0 Bij ) xi x j 1
Bij 为介质受应力作用后折射率椭球各系数的变化量,
它是应力的函数:
Bij = f ()
若考虑线性效应,略去所有的高次项,Bij 可表示为
Bij = Πijklkl
i , j , k , l =1, 2, 3
在此,考虑了介质光学性质的各向异性,认为应力[kl]
和折射率椭球的系数增量 [Bij] 是二阶张量。
[Πijkl]——压光系数,是四阶张量,有 81 个分量。
根据虎克(Hooke)定律,应力和应变有如下关系:
kl = Cklrssrs
k, l, r, s = 1, 2, 3
[srs]——弹性应变; [Cklrs]——倔强系数。
则:
Bij = Πijklkl = ijklCklrs srs = Pijrs srs
Pijrs= ijklCklrs —— 弹光系数,是四阶张量,有81个分量。
由于 [Bij] 和 [kl] 都是对称二阶张量,有 Bij = Bji 和
kl = lk,所以有 ijkl= jilk,故可将前后两对下标 ij 和 kl 分
别替换成单下标,将张量用矩阵表示。
相应的下标关系为:
张量表
示
(ij)
(kl)
(rs)
11
22
33
23,32
31,13
12,21
矩阵表
示
(m)
(n)
1
2
3
4
5
6
且有:
n=1, 2, 3 时, mn= ijkl ,如 21= 2211
n=4, 5, 6 时, mn=2 ijkl ,如 24=2 2223
采用矩阵形式后,则有:
Bm=Πmnn
m, n =1, 2, …, 6
这样,压光系数的分量数由张量表示时的 81 个减少为
36个。应指出,[mn] 在分量形式上与二阶张量分量相似,
但它不是二阶张量,而是一个 6×6 矩阵
类似地,弹光系数[Pijkl]的下标也可以进行简化,于
是可得矩阵(分量)
Bm = Pmn sn
m, n = 1, 2, …,6
与 [mn] 的差别是,[Pmn] 的所有分量均有 Pmn= Pijkl ,并且
有Pmn = mrCrn (m, n, r =1, 2, …, 6) 。
2. 弹光效应的计算示例
(1) 23 和m3立方晶体受到平行于立方体轴的单向应力作用
设立方晶体三个主轴为x1、x2、x3 ,应力平行于x1方向。
施加应力前的折射率椭球为旋转球面:
B 0 ( x12 x22 x32 ) 1
式中,B0 = 1/n02。
在应力作用下折射率椭球发生了变化,在一般情况下:
B x B2 x B x
2
1 1
2
2
2
3 3
2 B4 x2 x3 2 B5 x3 x1 2 B6 x1 x2 1
根据 Bm=Πmnn 及立方晶体的 [mn] 矩阵形式,有:
0
0 Π11σ
B1 Π11 Π12 Π13 0
B
0 Π σ
Π
Π
Π
0
0
0
11
12
2 13
13
B3 Π12 Π13 Π11 0
0
0 0 Π12σ
0
0 Π 44 0
0 0 0
B4 0
B5 0
0
0
0 Π 44 0 0 0
0
0
0
0 Π 44 0 0
B6 0
1
由此可得: B1 B ΔB1
11
2
n0
1
0
B2 B ΔB2 2 13
n0
0
1
B3 B ΔB3 2 12
n0
0
B4 B5 B6 0
则:
1
1
1
2
2
( 2 Π11 ) x1 ( 2 Π13 ) x2 ( 2 Π12 ) x32 1
n0
n0
n0
可见,当晶体沿 x1 方向加单向应力时,折射率椭球由旋
转球变成了椭球,主轴仍为 x1 、x2、x3 ,立方晶体变成双轴
晶体,相应的三个主折射率为:
1 3
n1 n0 n0 11
2
1 3
n2 n0 n0 13
2
1 3
n3 n0 n0 12
2
(2) 43m、432和m3m立方晶体受到平行于立方体轴
(例如x1方向)的单向应力作用
这种情况与上述情况基本相同,只是由于这类晶体的
Π12=Π13,所以:
1 3
n1 n0 n0 11
2
1 3
n2 n0 n0 12
2
1 3
n3 n0 n0 12
2
即晶体由光学各向同性变成了单轴晶体。