高時間分解能光検出器

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Transcript 高時間分解能光検出器

TOP COUNTER
(Time of Propagation)
名古屋大学 理学研究科
素粒子宇宙物理学専攻
高エネルギー物理学研究室
栗本 謙
発表の目的
高時間分解能を持つ光検出器のR&D
・光検出器の性能を測定する
発表概要
・測定するための装置の構築
キーワード①
Belle実験  終状態のπ/K粒子識別が重要
キーワード②
粒子識別装置  π/K識別を主目的とする検出器
キーワード③
TOPカウンター  新型粒子識別装置
Time Of Propagation(光子の伝播時間)
をもちいて粒子識別
キーワード④
高時間分解能光検出器  TOPのために必要
Belle実験概要
Belle検出器
Mt. Tsukuba
KEKB
3.5 GeV e+
Belle
8 GeV e-
直径~1Km
世界最高性能
KEKB 加速器 : 電子陽電子衝突型加速器
非対称エネルギー : 電子 8.0 GeV, 陽電子 3.5 GeV
重心系エネルギー : ECM = 10.58 GeV
e- e+ ⇒ U(4S) → BB
・ルミノシティ増強
・検出器の性能アップ
ピーク・ルミノシティ
1.71 x 1034 cm-2s-1
積分ルミノシティ
> 710fb-1
Super B-factory計画中
Super B-factory用検出器
・Belle検出器の性能アップとは?
崩壊後の終状態粒子を精度よく識別することが重要
(電子e、光子γ、陽子p、μ±、π±、K±、Kl)
p
K
~139.57MeV/c2
~493.67MeV/c2
荷電ハドロン
荷電ハドロン
p/Kが識別が困難
・TOF
粒子識別装置 現在実装されている
p/K識別を主目的とする検出器 ・ACC
・CDC
・粒子識別装置のアップグレード
次世代型p/K識別装置TOPカウンター
インストール予定位置
e8.0GeV
1.2m
2.6m
1.5T
改良型Belle測定器断面
e+
3.5GeV
TOFカウンター
実験グループの目的
よりp/K識別能力の高い検出器
TOPカウンター
TOPカウンターの原理①
TOPカウンターはチェレンコフ光のリングイメージを利用した
粒子識別装置(p/K)
粒子識別の手法
運動量と速度の測定
(p = bgm)
質量同定
粒子識別
運動量 ドリフトチェンバーで測定
速度粒子識別装置で測定
RICHによる粒子の速度測定
チェレンコフ光
高エネルギー荷電粒子が屈折率 nの物質中を通過
すると、速度によってのみ決まる方向に光子を放出
チェレンコフ光の放射角 cosθ c  1/ nβ
チェレンコフ光のリングイメージを観測する
ことで速度測定(粒子識別)が可能!
TOPカウンターの原理②
石英バー
光検出器
p/Kが同じ運動量で入射
チェレンコフ光伝播距離の差
光検出器への到達時間の差
p/Kが同じ運動量ではリングの開きが異なる
光子の伝播時間の情報
y
z
石英バーを上から見たとき(y方向)
x
t
x
200ps
π/K粒子の識別
微小な時間差を識別する
高時間分解能光検出器が
必要となる
検出光子数~20個
光検出器
TOPカウンター用光検出器に求められる性能
•高い時間分解能(1光子に対して40psec以下)
•高いQE(~40%)
•一光子検出が可能
•磁場中で使用可能(B=1.5T)
•位置分解能(5mm以下)
これらの要求を満たす光検出器
現在、浜松ホトニクスと共同開発している
マイクロチャンネルプレート型光電子増倍管(MCP-PMT)
いかにMCP-PMTが高時間分解能光検出器
を実現しているか?
MCP-PMTの動作原理・特徴
10mm
~1cm
~400μm
φ~10mm程度のガラスパイプチャンネルを多数束ねた構造
チャンネル各々が独立した二次電子増倍部
Gain~106倍
800mmという短い距離で増幅高速応答
磁場中(1.5T)でも使用可能
どのような光電面材料でMCP-PMTの検出効率を上げるか?
GaAsP光電面
(最大QE:~40%)
光検出器での検出光子数~20個
長波長側に鋭いピーク
検出光子数を増やしたい
マルチアルカリ光電面
(最大QE:~20%)
QE1光子が光電面に入射し
光電効果を起こす確率
石英中を様々な波長のチェレンコフ光が伝播
波長によって群速度が異なる
群速度と波長の関係
群速度の波長依存性による
時間分解能の悪化を抑えるため
高波長領域に感度(QE)の高い
GaAsP光電面を採用
GaAsP光電面MCP-PMTプロトタイプ
5mm
20mm
プロトタイプ
角型MCP-PMT
有効面積比 78%
4chアノード(位置分解能~5mm)
このMCP-PMTが要求される性能(特に時間分解能)
を満たしているか検査するため、次のような測定を行なった
測定項目
•1光子検出可能か?
•Gain(増幅率)
•時間分解能σ
光学系セットアップ
PLP
光ファイバー
MCP-PMT
BLACK BOX
ND filter
NDフィルター
電気信号
光
光
MCP-PMT
光ファイバー
Black Boxの中
HPKco. PLP
波長408nm
ジッター<±10ps
pulse width~50ps
(FWHM)
レーザーの光はND filterを使いsingle
photo-electronレベルまで減光させた
回路系セットアップ
HPKco.
High Speed AMP
Gain36dB(~63倍)
帯域幅1.5GHz
光
ファイバー
ND filter
光
Camacクレート
ADCとTDCはCamac
クレートに設置
(PCによって制御)
ADC0.25pC/count
TDC25psec/count
MCP-PMT
PC
CAMAC
(daq system)
可変Attenuater
1~11dB
帯域幅18GHz
帯域の狭い機器を使用するとシグナルの高周波成分が落ちる
シグナルの波形がナマる
回路系の時間分解能の悪化
回路系で使われている機材はなるべく帯域の広いものを仕様
NIMクレート
divider,discriminaterは
SMAケーブル
NIMクレートに設置
帯域幅18GHz
回路系の時間分解能
σ~8psec
1光子検出について
出力電荷分布
1光子ピーク
500mV/div
1光子のシグナル
(0.25pC/bin)
シグナル(~300mV)
ノイズ(~10mV)
ノイズと1光子シグナルを十分
ADC分布より、一光子
出力電荷量のピークから
+
+
分けることが可能
ピークが見える
Gainを計算
Gain=1.4×10^6
1光子検出!!
時間分解能測定
光が出てから、検出される
までの時間の分布
Time Walk Correction
⊿t
時間のズレ
threshold電圧
出力電荷量に依存した
検出時間分布
補正
Time Walkとは?
出力電荷量(ADC)が異なる
Threshold電圧を越える時間にズレが生じる
σ=35.33psec
shift
σ<40psec
達成!!
まとめ
測定するための装置の構築
回路系の時間分解能
σ~8psec
十分な精度で測定できる装置を構築した
プロトタイプ
今回、プロトタイプのMCP-PMT性能測定した結果
•一光子での時間分解能 35ps
•一光子検出可能
•Gain 1.4×106
TOPカウンターに要求される性能を
十分に満たしていることを確認