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Matière et Rayonnements les techniques expérimentales d’observation et d’analyse des matériaux 1ère partie 1 - INTRODUCTION 1 pourquoi les techniques expérimentales… ? outils de base de la recherche, de l’expertise, du contrôle… Laboratoires de recherches • développement de nouveaux matériaux de nouveaux procédés Laboratoires Industriels • contrôle de production • expertises Techniques expérimentales Vie courante • radiographie • échographie • IRM • Scanner… 2 PLAN DU COURS – 1ère partie 1 – Introduction, quelques rappels utiles… 2 – Interactions rayonnement - matière (électrons, photons…) 3 – Optique électronique : aspects technologiques 4 – Les techniques d’observation 4.1 – La microscopie électronique à balayage 4.2 – les microscopies à champ proche 5 – Les techniques d’analyse 5.1 – La microanalyse X par sonde électronique 5.2 – Les techniques d’analyse de surface - spectrométrie Auger - spectrométrie XPS (ESCA) - la spectrométrie d’émission ionique secondaire (SIMS) 3 La démarche analytique nature du problème l’échantillon est-il imposé (expertise)? ou libre? est-il le résultat d’un étude plus générale ? peut-on le découper ? ... nature des informations recherchées résolutions nécessaires composition structure propriétés particulières ... résolutions spatiales et spectrales, limite de détection quelle(s) technique(s) employer ? Conditions d’analyse ANALYSE(S) nature et préparation de l’échantillon contraintes particulières ? dimensions nature (solide, liquide, poudre…) préparation (polissage, lame mince ..) métallisation.. Pour chaque technique, en fonction de l ’échantillon, des informations et de la résolution désirées résultats bruts traitements des données et statistiques Conclusions 4 Techniques d’Analyse caractérisation mécanique Composition chimique Observations et/ou analyses Dureté traction fatigue fluage résilience ténacité… quelles informations ? Microstructure Cristallographie, texture.. Topographie… Techniques d’observation relief rugosité… 5 Les techniques expérimentales : quelques généralités 1) Les différentes échelles microscopie macroscopie microstructure nanoscopie (atomique) m cm mm mm nm Å TEM oeil microscopies à champ proche (AFM, STM) Sonde Atomique° microscopie optique MEB microscopie électronique à balayage en transmission 6 2) Les différentes techniques Analyse chimique propriétés physiques et mécaniques Observation techniques d’imagerie élémentaires environnent chimique nature des éléments présents •liaisons chimique, •environnement •cristallographie méthodes d’analyse chimique - de la surface - en volume - 2D ou 3D microscopies - optiques - électroniques - à champ proche tomographies… 7 Méthodes d’Analyse chimique réactions chimiques méthodes chimiques interactions physiques méthodes physiques en volume (globale) localisée mm3 au cm3 chimie fluorescence X spectrométries : - d’émission - d’absorption analyseurs de gaz profils de concentration en surface 1 à 10nm Auger XPS SIMS HREELS microanalyse mm3 traces ppb ppt ICP Abs. atomique EPMA MEB-EDS Auger en profondeur ponctuelle « nanoanalyse » nm3 STEM EELS méthodes élémentaires atomique atome sonde atomique STM-AFM SIMS SDL RBS environnement et liaison chimique Infra-rouge Raman RMN 8 non-élémentaires L’analyse chimique On analyse l’échantillon M et on dose l’élément A On prélève un échantillon pour l ’analyse : - cet échantillon est-il bien représentatif ? (« échantillonnage ») - cet échantillon est-il homogène (en cas d’analyses locales ) - prélever plusieurs échantillons - effectuer plusieurs analyses sur le même échantillon traitements statistiques des résultats Questions/réponses : - présence de l’élément A ? analyse qualitative - si oui, en quelle quantité ? analyse quantitative - éventuellement, sous quelle forme chimique ? 9 Les moyens ? Les techniques d’analyse chimique par méthodes physiques sont généralement basées sur la mesure de spectres… spectres : distribution discrète (ou pas) de données émises par l’échantillon spectre de raies - rayonnements électromagnétiques - d’émission, d’ionisation, d’absorption - suite discrète d’énergie spectre de masse - émissions d’ions - pulvérisation - suite discrètes de masses atomiques ou moléculaires spectre d’émission X spectre d’absorption infra rouge spectre de masse 10 terminologie : - spectrographe : on enregistre le spectre sur un enregistreur ou un plan film - spectromètre : on mesure directement le spectre (numériquement) que l’on peut ensuite visualiser sur un écran par exemple On détecte : - généralement des particules (photons, ions, électrons…) - occasionnellement une variation d’une grandeur physique (courant tunnel…) Intensité I : nombre de particules par unité de temps (cps)(1) flux F : intensité par unité de surface (=I/S, en cps/cm2) comptage N : nombre de particules mesuré pendant un temps t (N=It) (1) cps : coups par seconde Que mesure-t-on ? (en terme d’unités) A (contenu) : moles, grammes, cm3, atomes… M (contenant) : cm3, litres, grammes, atomes... chimie en solution : moles/litre, grammes/litre gaz dans les métaux : cm3/100grammes semi-conducteurs : atomes/cm3 analyse de surface : fraction de monocouche (une monocouche = 1015 atomes/cm2) 11 concentration ou titre ? 1) concentration : quantité par unité de volume (atome/cm3 ou g/cm3) atm concentration atomique : C A nA V concentration massique : C A mA V (masse volumique) 2) titre : rapport sans dimension titre atomique : Catm A nA titre massique : n n CA i mA n m i i 1 i1 préfixe : 1 10-2 10-3 millièmes 100% 1% 1% utilisé par les métallurgistes 10-6 10-9 10-12 ppm ppb ppt 1µg/g 1ng/g 1pg/g limite actuelle des techniques analytiques 3ms dans la vie d ’un centenaire 40 mm sur la circonférence de la Terre... 12 Méthodes analytiques : principes généraux relation entre la concentration de l’élément A et un signal mesuré courbe d’étalonnage (mesurée ou calculée) droite ou courbe d ’étalonnage intensité mesurée (I) I= I(C%) + IBF + B émission provenant de de l’échantillon proportionnelle à la concentration de A émission caractéristique (C%) fluctuations statistiques contribution extra-élément (émission provenant de l’échantillon, indépendant de la concentration de A) dispersion de l’émission caractéristique et de fond continu, due au caractère aléatoire du rayonnement (statistique Poissonnienne) fond continu bruit contribution extra-échantillon (émission provenant de l’environnement, indépendant de l’échantillon) C% composition 13 Précision, dispersion, exactitude Accord entre plusieurs mesures analytiques effectuées exactement dans les mêmes conditions expérimentales Accord entre la mesure analytique et la valeur vraie détermination expérimentale répétabilité : dispersion observée pour une série d ’analyses faites rigoureusement dans les mêmes conditions, par la même personne, sur le même échantillon et dans un court intervalle de temps la différence c’est l’erreur ! - erreurs instrumentales mauvais fonctionnement de l’appareil de mesures reproductibilité : dispersion observée pour une série d ’analyses faites dans des conditions différentes, par des personnes différentes, dans un espace de temps plus grand mais sur le même échantillon - erreurs de méthodes mauvais choix de la technique opératoire - erreurs personnelles mauvaise utilisation de la technique Variation de la mesure due à des causes physiques (aspect aléatoire de l’émission) peut être estimée (lois statistiques) mais non supprimée - doit être réduite le plus possible - peut être confondue avec la dispersion statistique 14 ! Attention ne confondons pas justesse et précision (ou exactitude)... une série de mesures peut être précise (faible dispersion) mais fausse… et inversement ! doit être évaluée et vérifiée par des échantillons tests (circuit de comparaison) justesse pas très précis, mais ..juste ! juste et précis... précision doit être évaluée et vérifiée par des tests statistiques (variance, khi2…) et tri des données MSP précis, mais... pas très juste ! (Maîtrise Statistique des Procédés) ou SPC (Statistical Process Control) ni juste, ni précis ! 15 exemple : l’œil résolution : 1 minute d’arc Cela correspond environ à 0,1 mm sur un écran d’observation… 16 Techniques d’observation : conséquence de la résolution oculaire : L’œil représente le dernier élément d’une chaîne d’observation (écran ou photo) Sa résolution doit donc être toujours « inférieure » (c’est à dire moins bonne) que les différentes résolutions successives… xG Observation résolution : échantillon résolution recherchée : r0 (dimension du détail à observer) Instrument : résolution rtech <r0 roeil<robs Visualisation (écran ou photo) résolution : robs<G.rtech (G : facteur de grandissement) En cas d’imagerie numérique, la définition de l’image (nombre de pixels) doit être suffisante pour satisfaire la condition 4… En principe cela correspond à 800- 1000 pixels par ligne (soit 1MégaPixel) 17 Pour un certain nombre de techniques, la résolution spatiale correspond au volume de l’échantillon qui participe à l’émission et d’où provient donc l’information utile Ce sont en général des techniques utilisant l’imagerie indirecte (par balayage) ou un faisceau incident fixe. volume analysé ou excité résolution latérale fluorescence X : cm3 microanalyse X : mm3 STEM : nm3 résolution en profondeur profondeur analysée diamètre de la surface analysée du nm au cm… du nm au cm… spectrométrie Auger spectrométrie XPS 100 mm 10 nm très variables d’une technique à l’autre… 10 nm 1 mm 1 mm microanalyse X 18 Résolution latérale et en profondeur comparaison entre quelques techniques atome résolution latérale 1Å résolution en profondeur monocouche 1 nm 1 µm 100 10 10 1 mm 100 STM-AFM microsonde 1 nm microscope SIMS ESCA-XPS STEM 10 SDL 100 EPMA 1 µm 10 XRF 100 1 mm Analyses chimiques 19 3 – La résolution spectrale (ou énergétique) cas de l’analyse d ’un rayonnement (électromagnétique, électronique…) : caractérise la capacité d ’un système à séparer des rayonnements d’énergie très proche observateur instrument source spectromètre (atome, nuage électronique, noyau) Possède sa propre dispersion statistique qui introduit un élargissement de la raie analysée... émission X émission radioactive émission électronique Intensité « largeur naturelle » de raie : largeur énergétique « à mi-hauteur » (dispersion énergétique du rayonnement émis) Mn K Spectromètre WDS (cristal LIF) Mn K risque d’erreur dans l’identification des rayonnements analysés intensité phénomène quantique (principe d’incertitude lié à la durée de vie d ’un état excité ou ionisé) t.E < h/2p 1 Détecteur Si(Li) Détecteur à scintillation 0,5 E 5,8 6.6 10-16 eV.s 10-15 s énergie E < 1 eV 6,0 6,2 6,4 Énergie (keV) 6,6 comparaison entre différents spectromètres : - WDS (cristaux monochromateurs) : 10 eV - EDS (détecteur solide diode) : 135 eV - détecteur à scintillations : 500 eV 20 Analyse d’un acier inoxydable (Fe - 18%Cr - 12%Ni - 1,5%Mn en spectrométrie X par dispersion de longueur d’onde (cristal monochromateur LIF) Comparaison des résolutions spectrales obtenues avec 2 spectromètres différents la séparation entre les raies MnK et CrK n’est pas possible avec le détecteur solide énergie en spectrométrie X par sélection d’énergie (détecteur solide SiLi) énergie 21 Conclusion provisoire … Une bonne utilisation des techniques expérimentales nécessite : 1) une bonne connaissance de la structure des milieux analysés 2) une bonne connaissance des interactions rayonnement-matière 3) pour chaque technique utilisée, la connaissance des performances, ses limites et ses domaines d’application 22