10、第十章纳米技术与纳米电子学

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Transcript 10、第十章纳米技术与纳米电子学

第十章
纳米技术与纳米电子学
10.1 概述

纳米技术





物理学原理并不排斥通过操纵单个原子来制造物质。这样做
并不违反任何定理,而且原则上是可以实现的。毫无疑问,
当我们得以对细微尺度的事物加以操纵的话,将大大扩充我
们可能获得物性的范围 。 --- Richard P.Feynman,1959
1、纳米级测量技术
2、纳米材料的制备技术
3、纳米级加工技术
4、纳米组装技术
10.1 概述

纳米材料

在某个维度上的尺寸处于纳米量级的材料
图10.1 典型的几种纳米材料
10.2 纳米材料的基本效应

1 表面效应


指纳米晶粒表面原子数与总原子数之比随粒径变小而急剧增
大后所引起的性质上的变化
表面原子数占全部原子数的比例和粒径之间的关系如图10.2
所示。
100
80
比
例 60
(
40
)
20
%
表
面
原
子
数
相
对
总
原
子
数
0
0
10
20
30
40
50
10.2 纳米材料的基本效应

2 小尺寸效应


指随着颗粒尺寸减小到与光波波长(100nm以下)、德布罗意
波长、玻尔半径(0.1nm)、相干长度(几nm以下)、穿透深度
(~100nm)等物理量相当, 甚至更小时,其内部晶体周期性
边界条件将被破坏,导致特征光谱移动、磁序改变、超导相
破坏、非热力学结构相变等,从而引起宏观电、磁、声、光、
热等物理性质的变化。
磁性
——制备永磁微粉
10.2 纳米材料的基本效应

2 小尺寸效应

热力学性质
     2 / r
——μ随着颗粒尺寸减小而增大
当颗粒小于某临界尺
寸时,将会在明显低
于块材的熔点温度下
熔化。
图10.3即为金熔化温
度与颗粒尺寸的关系。
10.2 纳米材料的基本效应

2 小尺寸效应

光学性质
——金属超微颗粒对光的反射率很低,通常可低于1%,对
太阳光谱几乎完全吸收,大约在几微米的厚度就能完全消光。
——考虑置于交变电场小的单个球状颗粒,在金属中电子将
是在强耦合的作用下做集体运动,这就是表面等离子振荡。
共振频率ωp=(Nq2/εm*)1/2 ——可见光或近紫外光频段
超微粒子中的电子能级间距随尺寸减小而增加。通常导致光
吸收峰向短波方向位移,称之为“蓝移”。
10.2 纳米材料的基本效应

2 小尺寸效应

超导电性
——当颗粒尺寸减小时,低频的晶振动将受到颗粒尺寸的限
制而被截止,从而增加Tc值。
——另一方面,随着颗粒尺寸减小,表面原子分数将显著增
长,表面原子由于近邻配位数的减少而使表面声子谱频率降
低,软声子模特会导致电子-声子耦合强度增加,从而增加Tc
值。
——低温超导实验结束表明,对于Al、In等材料,随着颗粒
尺寸变小,Tc的确有所增加。
10.2 纳米材料的基本效应

2 小尺寸效应

介电性能
微颗粒的Drude公式
1/   1/  0  2vF / d
介电常数
 ()   p ()  2 /[(  i /  )]  1  i 2
当ωτ>>1时
 2  p2 / 3  2p2vF / 3d
——等离子共振频率的线宽与颗粒的直径成反比,等离子共
振频率将随颗粒尺寸变小而移向低频,颗粒的损耗(ε2)随尺
寸的减小而增大。
10.2 纳米材料的基本效应

3 量子尺寸效应

纳米微粒存在不连续的最高被占据的分子轨道能级和最低未
被占据的分子轨道能级,使得能隙变宽的现象,被称为纳米
材料的量子尺寸效应。
根据Kubo理论   4EF / 3N
例如,直径为14nm的银颗粒,当N=6×1023/cm时,能级间
距,故当温度低于1K时,有可能出现量子尺寸效应。
——由于能级的量子化,纳米材料的Eg增大,波长减小,即
其吸收带发生蓝移。
——处于分离的量子化能级中的电子波动性还如场致发光、
载流子的量子约束和量子输运、导体变成绝缘体等系列反常
10.2 纳米材料的基本效应

4 宏观量子隧道效应

微观粒子具有贯穿势垒的能力称为隧道效应。一些宏观量,
例如微粒的磁化强度、量子相干器件中的磁能量也有隧道效
应,它们可以穿越宏观系统的势阱而产生变化,称为宏观量
子隧道效应(Macroscopic Quantum Tunneling,MQT)。
——实验结果表明,在低温时确实存在磁的宏观量子隧道效
应,但现在的理论尚难以解释全部实验结果。
——它还确立了现存的微电子器件进一步微型化的极限。如
电路尺寸接近电子波长时,电子就通过隧道效应而溢出器件,
使器件无法工作。
10.2 纳米材料的基本效应

5 库仑堵塞效应

在纳米体系中,由于能级分立和势垒的存在,当有电流通过
时,在一定条件下出现电流中断的现象。
——换句话说,就是该体系的充电和放电过程是不连续的,
是量子化的。
——此时,充入一个电子所需的能量为库仑堵塞能,它是电
子在进入或离开体系中时前一个电子对后一个电子的库仑排
斥能。
——由于库仑堵塞效应的存在,电流随电压的上升不再是直
线关系,而是在I-V曲线上呈现锯齿形状的台阶。
——单电子器件
10.2 纳米材料的基本效应

6 介电限域效应

介电限域现象指的是纳米微粒分散在异质介质中由于界面引
起的体系介电增强的现象。当介质的折射率与微粒的折射率
相差很大时,产生了折射率边界,这就导致微粒表面和内部
的场强比入射场强明显增加,这种局域场的增强称为介电限
域。
E(r)  Eg (r  )  h2 2 / 2r 2  1.786e2 / r  0.248ERy
——E(r)为纳米微粒的吸收带隙:第一项Eg(r=∞)为相体的带
隙,r为粒子半径;第二项为量子限域能(蓝移),第三项表
明,介电限域效应导致介电常数ε增加,同样引起红移;第
四项为有效里德伯能。
10.3 纳米材料的制备和加工技术
图10.7 纳米结构制备的两种思路
10.3 纳米材料的制备和加工技术

1 分子束外延(MBE)
目前,采用外延生长
最常见的纳米集成电
路用硅基半导体材料
有绝缘体上硅(SOI)
材料和锗硅(SiGe)异
质材料。
10.3 纳米材料的制备和加工技术

2 化学气相淀积(CVD)
除上述两种方法以外,金
属有机化学汽相沉积
(MOCVD)、原子层外
延(AEE)、化学束外延
(BE)等外延技术也能够
满足设计精度要求,如外
延层组分、厚度、掺杂浓
度和电学均匀性等,故可
用于生长高质量的超晶格
量子阱材料。
10.3 纳米材料的制备和加工技术

3 自组装合成技术



自组装是依赖分子间非共价键力自发结合成稳定的聚集体的
过程。
自从上世纪80年代提出分子器件的概念至今,人们已从 LB
技术发展到了分子自组装技术,从双液态隔膜(BLM)技术
发展到了SBLM技术,已在分子组装有序分子薄膜、加工具
有特定功能的分子聚集体方面取得了丰硕的成果。
近年来,分子自组装技术还被用来合成具有特定电子特性的
纳米结构材料。这些采用分子自组装合成的纳米结构主要包
括纳米棒、纳米管、多层膜和介孔材料。
10.3 纳米材料的制备和加工技术

4 SPM加工技术

利用SPM探针直接在样品表面刻划形成纳米图案或拨动颗粒
至指定地方,构造特定的纳米电子器件/结构。
10.3 纳米材料的制备和加工技术

5 光刻技术


通过掩模、曝光等工艺将设计的器件图形结构转移到半导体
基片上的IC加工技术即称为光刻
——一般分为光学光刻、电子束光刻与离子束光刻技三种
——随着光刻线宽的不断减小,光刻技术已在纳米CMOS器
件、纳米集成电路等加工领域表现出了很好的应用前景。
除上述的方法外,还有所谓“自下而上”的制备技术来生长
纳米半导体材料,主要有:在图形化衬底和不同取向晶面上
选择外延生长技术。如利用不同晶面生长速度不同的V型槽
生长技术,解理面再生长技术。高指数面生长技术;在纳米
碳管中,通过物理或化学方法制备量子点(线)技术等。
10.4 纳米电子学

随着集成电路集成度的不断提高,特征尺寸的不断下降,微电
子遇到了越来越多的瓶颈。比如短沟道效应,热载流子效应,
源漏寄生串联电阻等问题。同时,MOS晶体管的栅氧化层厚度
和沟道长度一起按比例缩小,除了工艺技术的限制,还存在氧
化层的击穿和可靠性、薄氧化层的隧穿电流对器件和电路性能
的影响、多晶硅栅的耗尽和反型层电容引起的器件性能退化等
问题。特别是器件尺寸不断下降后,必须考虑量子效应的影响。
这就不得不将我们从微电子领域带入纳米电子领域。

主要新效应有:量子相干效应,A-B效应,即弹性散射不破坏
电子相干性,量子霍尔效应,普适电导涨落特性,库仑阻塞效
应,海森堡不确定效应等。
10.4 纳米电子学

1 量子电导
  ne2 / m*
n  kF2 / 
  m*l / kF h
  (e2 / h)  2kF l
即满足量子条件的电导率是(e2/h)因子的函数,
在单电子输运情况中,此因子为量子化的台
阶值。
对于一维体系,考虑电子的自洽屏蔽作用,则电导率与跃迁几率
之间关系为
  (e2 / h)  CT / (1  T )
10.4 纳米电子学

2 电子的弹道输运
当电子的弹性散射的平均自由程和体系的尺度相当时,杂质
散射一般可以忽略,电子以弹道输运为主。
  Te2 / h
对于纳米电子器件来说,在二维的方向上,其宽度与电子波
长可比拟,使得单个二维亚能带进一步分裂为一系列的一维
子能带,从而电子被限制在一维方向运动。
这类器件就称为电子波导,器件中电荷输运属于一维弹道。
目前,对碳纳米管这种准一维体系的弹道输运特性已有研究。
10.4 纳米电子学

3 量子相干效应
当系统的物理尺度小于相干长度时,电子输运过程可能经历很
多次弹性散射,其量子相干特性显著,主要有A-B效应、AAS效
应、普适电导涨落等。
图10.12示出了金属圆环中存在
散射时电子被量子相干效应的
三种典型路径。其中路径a(实
线)对应AAS效应,路径b(实
箭头短划线)对应A-B效应,
路径c’、c"(空箭头点划线)之间
的相干对应普适电导涨落。
10.4 纳米电子学

3 量子相干效应

A-B效应
电子在磁场中沿路径L运动时获得附加相位
  (e / )  A  dL
L
当电子围绕一个磁通的路径a±运动(即图10.12路径b,加、减
号角标分别代表环绕磁通的方向为顺时针和逆时针),获得相
e
位附加为
  (e / ) A  dL     2 (e / )

a
如果一束相干电子被分开为两束,包围一定磁通,再重新组合
成一束时,无论在路径上有无磁场存在,其叠加后将出现振幅
随磁通量变化的振荡,振荡周期为磁通量子Φ0=h/e(即Φ/Φ0为整
数)。Aharonov和Bohm的研究结果后来被实验所证实,称为AB效应。
10.4 纳米电子学

3 量子相干效应

AAS效应
在观测A-B效应的实验中,人们发现其傅里叶谱上除h/e峰外,
还有h/2e峰。这个以h/2e峰所表明的特征,称为AAS效应。
这种周期振荡与相干背散射有关。其物理图像是这样的,当电子波被初始散射
体散射后,两个分波分别沿顺时针和逆时针路径传播,也就是沿着互为反演的
路径传播,见图10.12中的路径a。尽管每次散射,振幅可能有所削弱,但对于
散射体n,弹性散射过程“→n→”和逆过程“←n←”的振幅和相位的变化应该
是相同的。结果,两个分波在回到初始散射体时振幅和相位相同,因而发生相
位干涉。这是电子波局域化倾向的表现,导致了样品电导的降低。当磁通Φ由
环形路径包围时,沿顺时针方向路径,磁矢势的相位改变为-φ,而逆时针方向
相位改变为φ。两个波在初始点相遇时的相位差为2φ于是所产生干涉的相应周
期为h/2e,而不是h/e。
10.4 纳米电子学

3 量子相干效应

普适电导涨落
由于费米能的变化,载流子可能经过不同的路径绕道杂质。在
这些路径上费米能略有差异。
stone证明这种量子涨落是介观系统中相当普通的现象。而且这
些涨落是与时间无关的。也就是说,涨落的产生与费米能级的
变化相关,在时间上是相当稳定的。涨落与散射中心在样品中
精确位置分布有关。所以不同的样品有不同的涨落。
电导涨落幅值的数量级是e2/h,是一个普适量,与样品特性无
关。理论研究还表明,电导涨落的幅值与样品的形状及空间维
数只有微弱的依赖关系。由于电导涨落的幅值具有这一普适特
性,故称为普适电导涨落。
10.4 纳米电子学

4 量子霍尔效应
2DEG
e 2i
 xy 
h
电子能量的本征值
(i  1, 2,3, )
2 2
k z2 
1
kz
E  n 
  n   0 
2m 
2
2m
2
表明:电子在垂直磁场平面内的圆周运动对应一种简谐运动,以
ω0为园频率,能量是量子化的,这些量子化的能级称为朗道能级。
1 eB
2
2 ns
若2DEG的面密度为ns,定义   ns / nl 
eB
朗道能级可容纳电子的面密度 nl 
为朗道能级的填充因子
10.4 纳米电子学

4 量子霍尔效应
可以得出,2DEG系统的电子密度
ns  ieB / h
•填充因子v为整数,表明整数量子霍尔效应是朗道能
级被填满的情况。
•出现电导平台,即B或ns变化时,在一定的范围内,
电导保持不变。
•因此量子霍耳效应是与因无序而存在的局域态相关,
而与材料无关。
•又发现了分数型量子霍尔效应 ,如1/3,2/3,2/7,
5/9,8/3…
10.5 纳米电子器件

纳米电子器件主要有两类:一是固态纳电子器件,
主要包括量子点(QD)器件、谐振隧穿器件(RTD)、
单电子晶体管(SET)和单电子存储器(SEM)等;二
是分子器件,主要包括量子效应分子器件和电机
械分子电子器件。

也可以简单划分为电子波器件和单电子器件。
10.5 纳米电子器件

1 共振隧穿器件
——利用量子力学量子隧道效应
——包括谐振隧穿二极管(RTD)和谐振隧穿晶体管(RTT)

谐振隧穿二极管(RTD)
——基于双势垒-量子阱结构的量子力学性质
①势阱中存在电子的分离的束缚态能级Ei。

②具有Ei能量的电子有较高几率出现在势阱中,以速度 v  k / m
来回振荡,振荡周期为 2 L / v 。
③对双势垒而言,穿透整个双势垒-量子阱结构的几率可达到
100%。即可实现谐振隧穿现象。
10.5 纳米电子器件
10.5 纳米电子器件

谐振隧穿二极管(RTD)
RTD的I-V特性存在有负阻(如图10.14(b)所示)。因为当电压使
得发生谐振隧穿时,通过的电流很大,而逃离谐振时电流即变得
很小,从而产生负阻;谷值电流主要来自过剩电路(包括经由势
垒材料高能的隧穿过程和声子、杂质协助的隧穿过程所形成的电
流);在电压高于谷值电压时,电流时热离子电流(由越过势垒
的热电子和经过量子阱较高分离能级注入的电子所形成,类似隧
道而激光中的热扩散电流)。
此外,TRD的I-V特性还存在有过个峰值和多个谷值的现象,这正
好是对应于势阱中不同能级的谐振情况。
10.5 纳米电子器件

谐振隧穿二极管(RTD)
——RTD的工作频率高达712GHz (0.3μW ); IMPATT二极
管400GHz(0.2W ) ;耿氏二极管193GHz(34mW)
——易于与其他器件进行集成
表10.1 用不同器件技术实现数字逻辑功能时,所需的有源器件的数目
10.5 纳米电子器件

谐振隧穿晶体管(RTT)
——包含一个RTD和一个晶体管
——考虑将RTD结构引入到BJT晶体管的发射极,并将该BJT
晶体管连接成共发射极电路
10.5 纳米电子器件
共集电极
连接的单
极RTT的
工作原理
10.5 纳米电子器件

谐振隧穿晶体管(RTT)
——① 谐振隧穿器件都是电压控制器件。通过改变栅极电压来
把量子阱相对于源的能级进行调整,使得实现电流开关或放
大。因此,用小的栅极电压可以控制流过器件的大电流。
——② 谐振隧穿器件可用作为开关或(和)放大器。这种纳米
尺寸的量子效应器件,在开关性能上比MOSFET更为优越。
——③ 谐振隧穿器件可实现多态逻辑功能。减少器件数目,降
低热耗散。
10.5 纳米电子器件

2 单电子器件
单电子晶体管主要基于纳米隧道结的库仑阻塞效应来工作。它是
一个栅控串连双隧穿结三端开关器件,电子将一个接一个地从源
端转移到漏端。
SET的结构与MOSFET的结构几乎相同,它采用隧穿结代替
MOSFET 的pn结,采用岛代替M0SFET的沟道区域。
SET工作必须满足的基本条件,也是要实现库仑堵塞需要满足
的基本条件,主要有:(1)源-漏之间的电阻>量子电阻
h/q2≈26kΩ;(2)量子岛的电容要足够小(使得q2/2C>>kT)。
10.5 纳米电子器件
图10.18 SET的基本结构
这种结构可以看成是由两个隧道结
夹有一个量子岛而构成的
图10.19 SET的库仑阻塞
电子的隧穿过程是:若开始量子岛中N=0,则随着电压的上升,首
先结2脱离阻塞而隧穿,然后结1脱离而隧穿,产生隧穿电流。因此量
子岛的状态变化是
N=0→(-1)→0→(-1) →…
10.5 纳米电子器件
图10.20 SET的库仑台阶
台阶的宽度(库仑间隙对电荷Qp很敏感(即使有0.1q的变化,也
能够清楚的反映出来),从而I-V特性相对于V=0轴不对称,而
且这种不对称情况可用来检测微量的电荷。
10.5 纳米电子器件
实际观察到的
各个振荡幅度
大小不一,这
反映了量子点
内的电子能谱
或状态密度的
变化情况。
图10.22 库仑振荡现象
10.5 纳米电子器件
图10.23 量子点中的电子数
与库仑振荡的关系
图10.24 磁场所致的库仑振荡
10.5 纳米电子器件

2 单电子器件



库仑振荡:在VDS一定时,IDS随着VG,而振荡(当量子岛中
的电子数较大时或单电子岛中的能级效应可忽略时,电流的
振荡是周期性的);
库仑台阶:在VG一定时,IDS随着VDS而呈现为台阶式的变化
(量子岛与源极和漏极之间的势垒越高。台阶数目越多、台
阶的出现即对应于SET的开关现象);
超导量子岛SET的电荷宇称性质:若量子岛是超导的,则当
其中的电子数力偶数(都是库柏对)时,能量最低;如果通
过隧穿注入一个电子到量子岛中,则能量将升高Δ;但若超
导量子岛中的电子数为奇数,则通过隧穿注入一个电子到量
子岛中,正好可构成库柏电子对,反而使能量降低Δ。
10.5 纳米电子器件

2 单电子器件

传统的表面栅极SET

波导型SET

点接触平面栅极SET
10.5 纳米电子器件

3 纳米CMOS器件与电路

常规平面型CMOS器件的纳米化
图10.28 栅极长度为5nm的CMOS器件
10.5 纳米电子器件

3 纳米CMOS器件与电路

非常规CMOS器件
图10.29 非常规的MOS晶体管器件结构
10.6 纳米技术的发展

纳米硅薄膜器件

EMS系统和物联网