Nanočástice v polovodičích
Download
Report
Transcript Nanočástice v polovodičích
Přednáška 6
Struktura a vlastnosti nanomateriálů, self-assembly, metody přípravy
Struktura a vlastnosti nanomateriálů
◦
◦
◦
◦
Nanočástice
Nanokrystalické materiály
Nanočástice v polovodičích
Self-assembly
Metody přípravy nanomateriálů
◦ Litografie
Stavební jednotky NM:
◦
◦
◦
◦
◦
◦
Rozměr
Tvar
Atomová struktura
Krystalinita
Mezifázové rozhraní
Chemické složení
Rozměry
◦ Molekuly – pevné částice < 100nm
◦ Vlastnosti určeny charakteristickými znaky
Částice
Klastry
Dutiny
1 – 100 nm alespoň v jednom rozměru
Závislost vlastností
◦ Vlastnosti nanočástic
◦ Uspořádání nanočástic
Vznik vnitřních struktur
Vývoj technologií pro vytváření a úpravu struktury
Přístupy:
Top – down
◦ Fotolitografie v
elektronice
Bottom – up
◦ Dispergované a
kondenzované
systémy
◦ Self-assembly
Nutná znalost atomární struktury
Vlastnosti se liší od běžných materiálů se stejným
chemickým složením
Faktory:
◦ Malá velikost krystalitů – 50% atomů v nekoherentní
hranici mezi krystaly
◦ Velikost a vliv dimenzionality
Velikost krystalické fáze zmenšena na několik
interatomárních vzdáleností
Funkčnost NM
◦ Složení
◦ Velikost a tvar
◦ Nanostrukturní rozhraní
Základní dělení NM
◦ Nanokrystalické materiály
◦ Nanočástice
Podíl povrchových atomů
◦ Vliv na chemické a fyzikální vazby na hranicích zrn
◦ Vazba nanočástic se základní hmotou kompozitů
Velikost nanočástic
◦ Střední volná dráha elektronů
◦ Šířka hradlové vrstvy v polovodičích
Tvarové typy nanočástic
Koule (spheres)
Tyčinka/vlákna (rods)
Dráty (wires)
Více komplexní profily
Vznik nanočástic
◦ Nukleace
Vznik klastrů, homogenní nukleace
◦ Koalescence
Kolonie dlouhých klastrů
◦ Růst
Tvary nanostrukturních materiálů souvisí s
vlastnostmi
Kritická velikost zrn
◦ 10 – 20 nm
◦ Více než 50 % atomů na povrchu
Hranice zrn – deformace NM
Skupiny nanokrystalických materiálů
◦ Podle dimenzionality
◦
◦
◦
◦
Bezrozměrné atomové shluky
Jednorozměrné modulované vrstvy
Dvourozměrné jemnozrné vrstvy
Trojrozměrné nanostruktury
Nanokrystalické materiály
Krystaly, kvazikrystaly, amorfní fáze
Kovy, intermataliky, keramiky, kompozity
Nanokrystalické materiály
Dělení dle Gleitera
◦ 12 skupin
◦ První – tvar krystalitů
◦ Druhý – chemické složení
Nanokompozitní vrstvy
Tloušťka < 100 nm (obecně 10 nm a méně)
Souvislost s množstvím atomů na povrchu
krystalitů
Vysoce odlišné vlastnosti od polykrystalických
vrstev
Nanostrukturní vrstvy
Atomy hraničních oblastí rozhodují o uspořádání –
růstu vrstev
Vlastnosti závisí na rozměrech nanofázových oblastí
Dislokace zde neexistují – tvorba přerušena hranicemi,
posun podél hranic, žádné vady
Nanofázové kovy – pevnější
Nanokeramika – snadněji tvarovatelná
Nanočástice v polovodičích
Dělení podle dimenzionality
◦
Kvantové vrstvy
◦
2D systém
Třetí rozměr 1 - 3 nm
Kvantové drátky
◦
◦
1D systém
Kvantové tečky
Kvantové klastry
Zvláštní struktura
Nanočástice v polovodičích
Odlišné vlastnosti NČ
◦
◦
◦
◦
◦
Elektrické
Magnetické
Optické
Tepelné
Mechanické
Kvantově-mechanický fenomén
◦ Vodivostní kvantování
◦ Coulobovské blokování
◦ Kvantové jámy, dráty, tečky
Nanočástice v polovodičích
Elektronicko-optické přístroje a senzory
Tranzistory
Lasery s kvantovými tečkami – emisní tloušťka
čáry
Zvýšení citlivosti senzorů
Top-down/Bottom-up
Nanočástice v polovodičích – nanoklastry
Široké rozměrové spektrum
◦ Malé klastry: 1 – 3 nm
◦ Velké klastry: desítky nm
Často označovány jako „nanokrystaly“
Velikost a tvar, podmínky přípravy
Růst na substrátech nebo volně
Nanočástice v polovodičích – nanoklastry
2D/3D
Rozdílné vlastnosti (od volných atomů a molekul)
Dekaedrální struktury
Ikosaedrální struktury
Kvantové jevy
Nanočástice v polovodičích – kvantové tečky
Polovodičové nanokrystaly
2 – 10 nm (10 - 50 atomů v průměru)
Jasně ohraničená oblast
Nahromadění elektronů
Pravidelné uspořádání
Fasety
Různé prvky, sloučeniny
◦ CdSe, CdS, ZnS
Nanočástice v polovodičích – kvantové tečky
Energie elektronu uvnitř KT je kvantována
„Umělý atom“
Speciální součástky – práce s jednotlivými
elektrony a fotony
Past na elektrony
Omezená kapacita
Nanočástice v polovodičích – kvantové tečky
Optická vlastnost zabarvování
◦
◦
◦
◦
Vázána na velikost
Velké – červené
Malé – modré
Souvislost s rozložením energetických hladin
Vše souvisí s velikostí
◦ Ladění vlnové délky emitovaného světla
Nanočástice v polovodičích – kvantové tečky
Laditelné lasery
Optické zesilovače
Detektory (InAs na GaAs)
Nanočástice v polovodičích – kvantové drátky
Průměr několik nm
Délka i µm
Nízký počet mechanických defektů
Nízký bod tání
Velký povrch proti objemu
Využití:
◦ Tranzistory, LED, senzory
Exotické struktury
Self-assembly
Samouspořádání struktur
Souvisí s:
◦
◦
◦
◦
Van der Waalsovými silami (přitažlivé)
Coulombickými silami (odpudivé)
Vodíkové můstky
Hydrofilní/hydrofobní interakce
Pokles volné energie
Self-assembly
Biologické struktury
Polymery
Slitiny
Samouspořádání při vzniku
Samoopravné materiály
Individuální přístup k různým materiálům
Výsledné struktury je vždy nutné analyzovat
Technonologie často spojována se vznikem
polovodičových struktur
◦ P/N přechod
◦ Vytváření horizontálních struktur – litografie
◦ Vytváření vertikálních struktur - epitaxe
Hromadné chemicko-fyzikální zpracování
Hladký povrch
Substráty
◦ Si
◦ Sklo
◦ GaAs
Horizontálně členěné struktury
Členění:
◦
◦
◦
◦
◦
EUV/RTG litografie
Fotolitografie
Elektronová litografie
Iontová projekční litografie
Reaktivní iontové leptání
Složité tvarování určité části povrchu
Postup:
◦ Nanesení rezistu
Citlivost na určitý podnět
Ovlivní rozpustnost
◦ Ozáření v místech beze změny
Přes masku/rastrování
◦ Nanesení vrstvy leptadla
Pouze vertikální směr
◦ Vyleptání původního povrchu/nanesení další vrstvy
◦ Odstranění ozářeného rezistu
Limitující faktor
◦ Vlnová délka světla pro ozáření
◦ Viditelné světlo – do 100 nm
◦ UV/RTG/svazek vysokoenergetických elektronů
Uplatnění
◦
◦
◦
◦
ICT
Medicína (detekce poruch DNA)
Vojenský průmysl
Enviro technologie
EUV litografie
EUV – extreme ultraviolet
◦
◦
◦
◦
◦
Struktury pod 100nm
Vlnová délka 193 nm
Hrozí ionizace substrátu a narušení krystalové mřížky
Pronikavé vysokoenergetické záření
Vysoké nároky na použité materiály pro masku
EUV litografie
I EUV bude nedostačující
Požadavky na nárůst výkonnosti CPU/APU
RTG litografie
Nová generace
< 40 nm
Limitující faktory
◦ Materiál a vzor masky
Podobné fotolitografii
RTG litografie
Maska
◦ Odolnost
◦ Absorbéry
◦ Au, diamant, Be, slitiny tantalu nebo wolframu
RTG litografie
Současné procesory
◦ Intel - jádro Haswell: 22 nm technologie
◦ AMD – jádra Trinity, Vishera, Richland: 32 nm
technologie
Fotolitografie (chemické leptání)
Příprava polovodičových materiálů
Studium Hallova jevu
Optoelektronika, senzory
Základní metoda
Vzor je „obtiskován“ do křemíku
Mateřský vzor vypálen laserem
Fotolitografie
2 procesy
◦ Záření
◦ Leptání přes masku
Odstraňovány pouze nepotřebné části
Fotolitografie
Obecný postup
◦
◦
◦
◦
◦
◦
Nanesení vrstvy SiO2 na vyleštěný Si
Nanesení fotocitlivé/rezistivní vrstvy na oxid křemičitý
Osvícení UV
Zpevnění ozářených míst
Horké plyny – odstranění neozářené citlivé vrstvy
Leptání do různých hloubek
Násobné opakování procesu
Fotolitografie
Následné vytvoření vodivých cest
◦ Pokrytí tenkou vrstvou kovu
◦ Následné fotolitografické odleptání nepotřebných
částí
◦ Skleněný izolant
Elektronová litografie
Vytváření a přesné polohování obrazců v
elektronovém rezistu
Rozměry pod 100 nm
Příprava masek pro fotolitografii a další
Bodový zápis difrakční mikrostruktury
skenujícím paprskem
Elektronová litografie
Návrh syntetických difrakčních struktur
Vysoká rozlišovací schopnost
Levnější duplikování (galvanoplastika +
mechanické)
Vysoká cena zařízení
Elektronová litografie
Vytváření hologramů
◦
◦
◦
◦
Difrakční optická struktura na vhodném podkladu
Velmi jemné vrypy (10 vrypů na 1 mikron)
Ve 2D velmi přesný zobrazení 3D modelu
Velké množství informací na malé ploše
Master se tvoří elektronovou litografií nebo
laserem
Elektronová litografie
Hologram mění vlastnosti dopadajícího světla
Skryté prvky - bezpečnostní účely
Nelze kopírovat
Pro dnešek vše