CÔNG NGHỆ CHẾ TẠO CÁC VẬT LIỆU TỪ CẤU TRÚC NANO Địa chỉ bạn đã tải: http://mientayvn.com/Cao%20hoc%20quang%20dien%20tu/Semina%20tren%20lop/seminar.html Nơi bạn có thể thảo luận: http://myyagy.com/mientay/ Dịch tài.

Download Report

Transcript CÔNG NGHỆ CHẾ TẠO CÁC VẬT LIỆU TỪ CẤU TRÚC NANO Địa chỉ bạn đã tải: http://mientayvn.com/Cao%20hoc%20quang%20dien%20tu/Semina%20tren%20lop/seminar.html Nơi bạn có thể thảo luận: http://myyagy.com/mientay/ Dịch tài.

CÔNG NGHỆ CHẾ
TẠO CÁC VẬT LIỆU
TỪ CẤU TRÚC NANO
Địa chỉ bạn đã tải:
http://mientayvn.com/Cao%20hoc%20quang%20dien%20tu/Semina%20tren%20lop/seminar.html
Nơi bạn có thể thảo luận:
http://myyagy.com/mientay/
Dịch tài liệu trực tuyến miễn phí:
http://mientayvn.com/dich_tieng_anh_chuyen_nghanh.html
Dự án dịch học liệu mở:
http://mientayvn.com/OCW/MIT/Co.html
Liên hệ với người quản lí trang web:
Yahoo: [email protected]
Gmail: [email protected]
Kỹ thuật mạ điện
quá trình điện hóa
phủ lớp kim loại lên
một vật. Kim loại
mạ thường là vàng,
bạc, đồng, niken và
được dùng trong
việc sản xuất đồ
trang sức, linh kiện
điện tử, tế bào nhiên
liệu, đồ gia dụng
không gỉ,
Phương pháp bay bốc nhiệt
(Thermal evaporation)
Bay bốc nhiệt hoặc
bay bốc nhiệt trong
chân không là kỹ thuật
tạo màng mỏng bằng
cách bay hơi các vật
liệu cần tạo trong môi
trường chân không cao
và ngưng tụ trên đế
(được đốt nóng hoặc
không đốt nóng). Kỹ
thuật này đôi khi còn
được gọi là bay hơi
trong chân không.
Sơ đồ nguyên lý hệ bay bốc nhiệt
Epitaxy chùm phân tử
• Epitaxy chùm phân tử (tiếng Anh: Molecular
beam epitaxy, viết tắt là MBE)
Một kỹ thuật chế tạo màng mỏng bằng cách sử
dụng các chùm phân tử lắng đọng trên đế đơn tinh
thể trong chân không siêu cao, để thu được các
màng mỏng đơn tinh thể có cấu trúc tinh thể gần
với cấu trúc của lớp đế. Kỹ thuật này được phát
minh vào những năm 60 của thế kỷ 20 tại Phòng
thí nghiệm Bell (Bell Telephone Laboratories) bởi
J.R. Arthur và Alfred Y. Cho.
Ứng dụng
• Kỹ thuật MBE được sử dụng nhiều trong vật lý
chất rắn, khoa học và công nghệ vật liệu, đặc biệt
trong công nghệ bán dẫn để chế tạo các màng đơn
tinh thể với chất lượng rất cao, với độ dày có thể
thay đổi từ vài lớp nguyên tử đến vài chục
nanomet. Với sự phát triển của công nghệ nano
hiện nay, MBE là một trong những kỹ thuật chủ
đạo của công nghệ nano để chế tạo các vật liệu
nano
Phún xạ catốt (sputtering)
Phún xạ (Sputtering) hay Phún xạ catốt
(Cathode Sputtering) là kỹ thuật chế tạo
màng mỏng dựa trên nguyên lý truyền động
năng bằng cách dùng các iôn khí hiếm được
tăng tốc dưới điện trường bắn phá bề mặt
vật liệu từ bia vật liệu, truyền động năng
cho các nguyên tử này bay về phía đế và
lắng đọng trên đế.
Nguyên lý của quá trình phún xạ
Bản chất quá trình phún xạ
Khác với phương pháp bay bốc nhiệt, phún xạ không làm
cho vật liệu bị bay hơi do đốt nóng mà thực chất quá trình
phún xạ là quá trình truyền động năng. Vật liệu nguồn
được tạo thành dạng các tấm bia (target) và được đặt tại
điện cực (thường là catốt), trong buồng được hút chân
không cao và nạp khí hiếm với áp suất thấp (cỡ 10-2
mbar). Dưới tác dụng của điện trường, các nguyên tử khí
hiếm bị iôn hóa, tăng tốc và chuyển động về phía bia với
tốc độ lớn và bắn phá bề mặt bia, truyền động năng cho các
nguyên tử vật liệu tại bề mặt bia. Các nguyên tử được
truyền động năng sẽ bay về phía đế và lắng đọng trên đế.
Các nguyên tử này được gọi là các nguyên tử bị phún xạ.
Như vậy, cơ chế của quá trình phún xạ là va chạm và trao
đổi xung lượng, hoàn toàn khác với cơ chế của phương
pháp bay bốc nhiệt trong chân không.
Kỹ thuật phún xạ phóng điện phát sáng
Sơ đồ nguyên lý hệ phún xạ catốt xoay chiều
Là kỹ thuật phún xạ sử dụng hiệu điện thế một chiều để
gia tốc cho các iôn khí hiếm. Bia vật liệu được đặt trên
điện cực âm (catốt) trong chuông chân không được hút
chân không cao, sau đó nạp đầy bởi khí hiếm (thường là
Ar hoặc He...) với áp suất thấp (cỡ 10-2 mbar). Người ta
sử dụng một hiệu điện thế một chiều cao thế đặt giữa bia
(điện cực âm) và đế mẫu (điện cực dương). Quá trình
này là quá trình phóng điện có kèm theo phát sáng (sự
phát quang do iôn hóa). Vì dòng điện là dòng điện một
chiều nên các điện cực phải dẫn điện để duy trì dòng
điện, do đó kỹ thuật này thường chỉ dùng cho các bia
dẫn điện (bia kim loại, hợp kim...).
Phún xạ phóng điện phát sáng xoay chiều (RF discharge
sputtering)
Ảnh chụp thiết bị
sputtering Univex
450 tại trường Đại
học Khoa học Tự
nhiên, Đại học
Quốc gia Hà Nội
Là kỹ thuật sử dụng hiệu điện thế xoay chiều để gia tốc
cho iôn khí hiếm. Nó vẫn có cấu tạo chung của các hệ
phún xạ, tuy nhiên máy phát là một máy phát cao tần sử
dụng dòng điện tần số sóng vô tuyến (thường là 13,56
MHz). Vì dòng điện là xoay chiều, nên nó có thể sử
dụng cho các bia vật liệu không dẫn điện. Máy phát cao
tần sẽ tạo ra các hiệu điện thế xoay chiều dạng xung
vuông. Vì hệ sử dụng dòng điện xoay chiều nên phải đi
qua một bộ phối hợp trở kháng và hệ tụ điện có tác dụng
tăng công suất phóng điện và bảo vệ máy phát. Quá
trình phún xạ có hơi khác so với phún xạ một chiều ở
chỗ bia vừa bị bắn phá bởi các iôn có năng lượng cao ở
nửa chu kỳ âm của hiệu điện thế và bị bắn phá bởi các
điện tử ở nửa chu kỳ dương
Phún xạ magnetron
Là kỹ thuật phún xạ (sử dụng cả với xoay chiều và
một chiều) cải tiến từ các hệ phún xạ thông dụng bằng
cách đặt bên dưới bia các nam châm. Từ trường của
nam châm có tác dụng bẫy các điện tử và iôn lại gần
bia và tăng hiệu ứng iôn hóa, tăng số lần va chạm
giữa các iôn, điện tử với các nguyên tử khí tại bề mặt
bia do đó làm tăng tốc độ lắng đọng, giảm sự bắn phá
của điện tử và iôn trên bề mặt màng, giảm nhiệt độ đế
và có thể tạo ra sự phóng điện ở áp suất thấp hơn.
Phún xạ chùm iôn, chùm điện tử
Có nguyên tắc giống với phương pháp
phún xạ phát sáng, tuy nhiên người ta sử
dụng các súng phóng iôn hoặc chùm điện
tử riêng biệt bắn trực tiếp vào bia, do đó
điều khiển các thông số của quá trình tạo
màng một cách hiệu quả hơn.
Ưu điểm và hạn chế của phún xạ catốt
-Dễ dàng chế tạo các màng đa lớp nhờ tạo ra nhiều bia riêng biệt.
Đồng thời, đây là phương pháp rẻ tiền, và dễ thực hiện nên dễ
dàng triển khai ở quy mô công nghiệp.
-Độ bám dính của màng trên đế rất cao do các nguyên tử đến lắng
đọng trên màng có động năng khá cao so với phương pháp bay
bốc nhiệt.
-Màng tạo ra có độ mấp mô bề mặt thấp và có hợp thức gần với
của bia, có độ dày chính xác hơn nhiều so với phương pháp bay
bốc nhiệt trong chân không.
-Do các chất có hiệu suất phún xạ khác nhau nên việc khống chế
thành phần với bia tổ hợp trở nên phức tạp. Khả năng tạo ra các
màng rất mỏng với độ chính xác cao của phương pháp phún xạ là
không cao. Hơn nữa, không thể tạo ra màng đơn tinh thể.
Lắng đọng hơi hóa học (CVD)
(Chemical vapor deposition)
Là một quá trình hoá học để tạo ra các vật liệu rắn
với độ tinh khiết cao và hoàn hảo. Quá trình này
thường được sử dụng trong công nghiệp bán dẫn
để tạo ra các màng mỏng. Trong quá trình CVD
người ta có thể lắng đọng các vật liệu có các dạng
khác nhau như: đơn tinh thể, đa tinh thể, vô định
hình và epitaxi tạo nên các vật liệu như: silic, sợ
cacbon, sợi nano cacbon, SiO 2, Si-Ge, nano tub
cacbon…và các chất điện môi có điện trở.
CVD (Chemical Vapor Deposition)
CVD là quá trình lắng đọng màng mỏng do
phản ứng hóa học của các vật liệu nguồn
trong pha hơi. quá trình thường xảy ra tại
nhiệt độ cao. Thí dụ nhiệt độ đế để màng
lắng đọng thường tại 1500oC. Có thể dùng
nguồn nhiệt bổ sung, thí dụ dùng laser để
đốt nóng đế (LCVD), trong trường hợp này
nhiệt độ của pha hơi sẽ thấp hơn.
DC plasma (violet)
enhances the growth
of carbon nanotubes
in this laboratoryscale PECVD
apparatus.
Công nghệ
Lắng đọng từ pha hơi
Vật liệu được chuyển
thành pha hơi và các
clusters kích thước
nano được lắng đọng
lên đế.
Thí dụ: hơ giấy nhôm
lên ngọn nến đang
cháy được một lớp bột
màu đen bám lên giấy
nhôm, đó chính là vật
liệu nano
Công nghệ
Kết tủa từ pha lỏng
Vật liệu nano có
thể được kết tủa
từ các dung dịch
muối đậm đặc
hoặc
bằng
phương
pháp
reversed micelle
Công nghệ
CVC (Chemical Vapor Condensation)
Công nghệ
Nanolithography
Công nghệ này được sử dụng để tạo ra các cấu
trúc kích thước nanomét. Có 3 loại thường dùng:
Electron beam lithography, X-ray lithography và
Scanning probe microscopy
Kỹ thuật quang khắc
• Quang khắc là tập hợp các quá trình quang hóa nhằm
thu được các phần tử trên bề mặt của đế có hình dạng và
kích thước xác định. Có nghĩa là quang khắc sử dụng
các phản ứng quang hóa để tạo hình.
• Bề mặt của đế sau khi xử lý bề mặt được phủ một hợp
chất hữu cơ gọi là chất cảm quang (photoresist), có tính
chất nhạy quang (tức là tính chất bị thay đổi khi chiếu
các bức xạ thích hợp), đồng thời lại bền trong các môi
trường kiềm hay axit. Cảm quang có vai trò bảo vệ các
chi tiết của vật liệu khỏi bị ăn mòn dưới các tác dụng
của ăn mòn hoặc tạo ra các khe rãnh có hình dạng của
các chi tiết cần chế tạo. Cảm quang thường được phủ lên
bề mặt tấm bằng kỹ thuật quay phủ
Các phương pháp tạo chi tiết trong quang khắc: kỹ thuật liff-off
(trái), kỹ thuật ăn mòn (phải).
Nguyên lý hệ quang khắc
Một hệ quang khắc bao gồm
một nguồn phát tia tử ngoại,
chùm tia tử ngoại này được
khuếch đại rồi sau đó chiếu qua
một mặt nạ (photomask). Mặt
nạ là một tấm chắn sáng được in
trên đó các chi tiết cần tạo (che
sáng) để che không cho ánh
sáng chiếu vào vùng cảm
quang, tạo ra hình ảnh của chi
tiết cần tạo trên cảm quang biến
đổi. Sau khi chiếu qua mặt nạ,
bóng của chùm sáng sẽ có hình
dạng của chi tiết cần tạo, sau đó
nó được hội tụ trên bề mặt
phiến đã phủ cảm quang nhờ
một hệ thấu kính hội tụ.
Nguyên lý hệ quang khắc
Ứng dụng của quang khắc
Quang khắc là kỹ thuật đã được phát triển từ đầu thế kỷ
20, và được sử dụng rộng rãi nhất trong công nghiệp bán
dẫn để chế tạo các vi mạch điện tử trên các phiến Si.
Ngoài ra, quang khắc được sử dụng trong ngành khoa
học và công nghệ vật liệu để chế tạo các chi tiết vật liệu
nhỏ, chế tạo các linh kiện vi cơ điện tử (MEMS). Hạn
chế của quang khắc là do ánh sáng bị nhiễu xạ nên
không thể hội tụ chùm sáng xuống kích cỡ quá nhỏ, vì
thế nên không thể chế tạo các chi tiết có kích thước nano
(độ phân giải của thiết bị quang khắc tốt nhất là 50 nm),
do đó khi chế tạo các chi tiết nhỏ cấp nanomet, người ta
phải thay bằng công nghệ quang khắc chùm điện tử
(electron beam lithography).
Công nghệ
Electron beam lithography
Chùm điện tử với liều vượt ngưỡng quét trên bề mặt của
vật liệu đã được phủ bằng một chất cảm với điện tử. Sau
khi chiếu chất cảm được tẩy rửa bằng phương pháp hóa
hoặc được tẩy chính bằng chùm tia điện tử trong quá
trình quét
Những vạch 10 nm được tạo ra sau
khi chất cảm điện tử PMMA (poly
methyl methacrylate hòa tan trong
trichlorobenzene) phủ lên đế Si
được chiếu bằng chùm điện tử với
liều 0.8nC/cm và ăn mòn trong dung
dịch ăn mòn MIBK:IPA 1:3
Công nghệ
Electron beam lithography
Kết hợp với phương pháp bóc tách chế tạo cấu
trúc nano của Co, Fe, Ni, NiFe, MoNiFe, CoFe,
CoPt, Fe3O4 và NdFeB. Tạo ra các điểm 55 nm,
các vạch độ rộng 15 nm với mật độ đến
10Gbit/in2.
Kết hợp với phương pháp ăn mòn chế tạo các
cấu trúc nano từ các màng mỏng của Co, NiFe,
Co CrPt, từ các màng có dịch chuyển vòng từ trễ
IrMn/CoFe, NiO/Ni và từ các màng đa lớp
Au/Co, Co/Pt, Co/Cu. Các chấm có mật độ không
cao lắm khoảng 2.9 Gbit/in2.
Công nghệ
X-ray lithography
Công nghệ giống như quang khắc
DESIGNING NANOSCALE MATERIALS
Những vạch 90 nm được tạo bởi X-ray chiếu vào đế
có tẩm phủ PMMA
Công nghệ
Lithography bằng SPM
Dùng điện trường của các đầu dò để oxi hóa bề
mặt ăn mòn chọn lọc những chỗ đã bị oxy hóa.
ảnh của tấm Si được
khắc dùng AFM
Một số màng mỏng cấu trúc nano điển hình
Quang khắc bằng chùm tia ion
Chùm tia ion Ga+ bắn quét trên bề mặt của màng Co có dị hương từ
vuông góc. Phụ thuộc vào liều chiếu xạ, các vùng được chiếu có thể
chuyển về nhũng vùng sắt từ có trường kháng từ nhỏ, thậm chí chuyển
sang những vùng thuận từ. Giữa những dót tạo ra bằng cách này tồn tại
cạnh tranh giữa trường trao đổi và trường lưỡng cực. Trên ảnh là cấu
trúc đômen khi chiếu các liều khác nhau: (a) 2.1013ion/cm2, (b) 4.1014,
(c) 1015, (d) 2.1016. Hyndman et al J. MMM, v. 240 (2002) 34
Một số màng mỏng cấu trúc nano điển hình
Màng Fe/W
Màng Fe lắng đọng lên đế stepped W(110) single
crystal.
ảnh STM (a) và SP – STM của bề
mặt màng Fe lắng đọng lên đế W
(110) stepped single crystal.
Quan sát thấy năng lượng trao đổi A
của màng khoảng 1.810-12J/m thay
vì giá trị 1 - 210-11J/m của mẫu
khối.
Pratzer et al Phys. Rev. Lett. V. 87
(2001) 127201
Một số màng mỏng cấu trúc nano điển hình
Màng Fe/W
Màng epitaxi NiO-Co trên đế Mg(110) single crystal.
Màng NiO trên đế Mg được chế tạo bằng phương pháp
phún xạ.
Màng Co được phún xạ tiếp lên
màng NiO (a) hoặc được bốc bay
lên màng NiO tạo thành các dây
nano của Co hoặc các nano tinh
thể Co. Các vòng từ trễ trong ảnh
ở bên phải tương ứng cho 3 loại
màng đo dọc theo mặt màng (o)
và vuông góc với mặt màng ().
Dubourg et al Phys. Rev. B, v. 64
(2001) 54416
DESIGNING NANOSCALE MATERIALS
Một số màng mỏng cấu trúc nano điển hình
Chấm Ni80Fe20
Các chấm permaloy hình dạng elip tạo thành các hàng ngang, trục
dễ của mỗi chấm vuông góc với hàng ngang. Các chấm được chế
tạo bằng phương pháp quang khắc dùng chùm tia điện tử. Martin
et alJ. MMM, v. 256 (2003) 449
Công nghệ
ảnh SEM của các cột của Ni với đường kính trung bình của mặt
cắt ngang khoảng 75 nm, chiều cao 700 nm và cách nhau khoảng
100nm. Mật độ 65 Gbit/in2
Công nghệ
tính chất từ tính của cấu trúc nano
Các tính chất từ tính của các hạt kích thước nano rất khó n/c vì
tính hiệu rất nhỏ.
Thường đo tín hiệu trung bình của cả tập thể.
Các phép đo thường dùng là VSM, SQUID, MOKE, nhiễu xạ
Notron, kính hiển vi quét dùng hiệu ứng Hall, kính hiển vi quét
dựa trên hiệu ứng trở từ, kính hiển vi từ lực...
Trong khi phân tích kết quả đo, thường có một số trở ngại:
Kích thước của cấu trúc rất nhỏ nên mẫu chỉ chứa hữu hạn một
số hạt. Do đó rất khó lấy trung bình các tính chất của hạt. Thay
đổi kích thước hạt hoặc định hướng của các hạt dẫn đến thay đổi
trong khoảng rộng tính chất từ của các array của cấu trúc nano.
Do công nghệ nên thường cac phần tử nanostructure của cả dãy
không giống nhau hoàn toàn dẫn đến những thăng giáng lớn. Thí
dụ, các điểm chuyển trạng thái khác nhau tại cùng một từ trường
ngoài, làm nở rộng vòng từ trễ của cả hệ.
Tương tác giữa các phần tử của array đóng vài trò quan trọng,
trường khử từ phụ thuộc mạnh vào hình dạng
Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM)
Kính hiển vi lực nguyên tử hay kính hiển
vi nguyên tử lực là loại kính hiển vi là một
thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của
vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực
tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò
nhọn với bề mặt của mẫu, có thể quan sát ở
độ phân giải nanômét, được sáng chế bởi
Gerd Binnig, Calvin Quate và Christoph
Gerber vào năm 1986.
Sơ đồ giải thích cơ chế
làm việc của kính hiển vi
lực nguyên tử
Ảnh thu được của bề mặt của một miếng kính
Việc mũi nhọn của kính hiển vi điện tử quét nằm rất
gần bề mặt mẫu khiến người ta nghĩ đến việc tính lực
nguyên tử giữa đầu mũi và các nguyên tử ở bề mặt.
Họ thấy lực này đủ lớn để đo và thể hiện rõ khoảng
cách giữa đầu đo và bề mặt. Ví dụ, khi mũi nhọn ở
ngay trên nguyên tử, nó sẽ bị hút mạnh; còn khi ở vào
khoảng giữa hai nguyên tử, nó sẽ bị hút yếu. Như vậy,
việc đo lực khi quét mũi nhọn trên mẫu vật sẽ cho
phép dựng lại độ lồi lõm của bề mặt.
Phương pháp này có thể áp dụng cho mọi bề mặt,
không nhất thiết phải dẫn điện, do không cần có dòng
điện giữa đầu đo và mẫu vật. Vấn đề còn lại là máy
phải đủ nhạy với các biến đổi lực hút giữa nguyên tử,
vốn rất yếu.
Kính hiển vi lực từ (Magnetic Force Microscope )
Kính hiển vi lực từ (MFM) là một loại kính hiển
vi thuộc nhóm kính hiển vi quét đầu dò (SPM),
được sử dụng để xây dựng hình ảnh sự phân bố
của tính chất từ trên bề mặt vật rắn dựa trên việc
ghi nhận lực tương tác (lực từ) giữa mũi dò từ tính
với bề mặt của mẫu.
Nguyên lý hoạt động
Về mặt nguyên lý, MFM hoạt động tương tự như AFM. Mũi dò
quét trên bề mặt mẫu được sử dụng là vật liệu từ tính khi quét trên
bề mặt mẫu sẽ có sự tương tác với các thành phần từ tính trên bề
mặt, qua đó vẽ bản đồ phân bố các thành phần từ tính bề mặt, mà
cụ thể ở đây là cấu trúc đômen của vật rắn[1].
Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)
Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM:
transmission electron microscopy) là một
thiết bị nghiên cứu, sử dụng chùm điện tử
có năng lượng cao chiếu xuyên qua mẫu
nhỏ và sử dụng các thấu kính từ để tạo ảnh
với độ phóng đại lớn (có thể tới hàng triệu
lần), ảnh có thể tạo ra trên màn huỳnh
quang, hay trên film quang học, hay ghi
nhận bằng các máy chụp kỹ thuật số.
Sơ đồ nguyên lý của kính
hiển vi điện tử truyền qua
Kính hiển vi điện tử truyền qua TECNAI T20 ở Khoa Vật lý và
Thiên văn, Đại học Glasgow
Ảnh hiển vi điện tử độ phân giải cao chụp lớp phân cách
Si/SiO2, có thể thấy các lớp nguyên tử Si
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (tiếng Anh: Scanning
Electron Microscope, thường viết tắt là SEM), là
một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với
độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử
dụng một chùm điện tử hẹp quét trên bề mặt mẫu.
Việc tạo ảnh của mẫu vật được thực hiện thông
qua việc ghi nhận và phân tích các bức xạ phát ra
từ tương tác của chùm điện tử với bề mặt mẫu vật.
Thiết bị kính hiển vi điện tử quét Jeol 5410 LV tại Trung tâm
Khoa học Vật liệu, Đại học Quốc gia Hà Nội
Một số ảnh chụp bằng SEM
Nhiễu xạ tia X (XRD)
Nhiễu xạ tia X là hiện tượng các chùm tia X
nhiễu xạ trên các mặt tinh thể của chất rắn do tính
tuần hoàn của cấu trúc tinh thể tạo nên các cực đại
và cực tiểu nhiễu xạ. Kỹ thuật nhiễu xạ tia X
(thường viết gọn là nhiễu xạ tia X) được sử dụng
để phân tích cấu trúc chất rắn, vật liệu... Xét về
bản chất vật lý, nhiễu xạ tia X cũng gần giống với
nhiễu xạ điện tử, sự khác nhau trong tính chất phổ
nhiễu xạ là do sự khác nhau về tương tác giữa tia
X với nguyên tử và sự tương tác giữa điện tử và
nguyên tử.
TỪ KẾ MẪU RUNG (VSM)
Vibrating Sample Magnetometer (VSM)
measures the magnetic properties of
materials. When a material is placed within
a uniform magnetic field is and made to
undergo sinusoidal motion (i.e.
mechanically vibrated), there is some
magnetic flux change. This induces a
voltage in the pick-up coils, which is
proportional to the magnetic moment of the
sample. The major features of our
homemade VSM are :
¡¤10-5 emu sensitivity ( 10-6 emu by
using DC power supply )
¡¤18 kOe maximum field by switching
power supply
¡¤360 ¡Ærotation with the resolution about
1/200 ¡Æ
¡¤Vector magnetization measurement for
in-plane and perpendicular directions