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Spill ref
～スピル悪化の原因と対策～
武蔵工業大学 計測制御研究室
市川
武
スピルの悪化
07年7月30日(Mark1初陣)データ
DSP07/00005.wvf
08年11月04日(前回)データ
FB05/00000.wvf
QDS
Input Pattern
Spill
Beam
Intensity
• スピルの直流成分がかなり減った
• QDS入力パターンが明らかに違う（“うねり”が無い）
直流成分に注目(1)
07年7月30日(Mark1初陣)データ
DSP07/00005.wvf
直流成分
スペクトル解析
(0～3kHz)
• 取り出し時が一番直流成分が多い
直流成分に注目(2)
08年11月04日(前回)データ
FB05/00000.wvf
直流成分
スペクトル解析
(0～3kHz)
• 取り出し時の直流成分が減ってしまった！
スピル悪化の原因
• QDSパターンがスピルの情報を反映していない
07年7月30日(Mark1初陣)データ
DSP07/00005.wvf
スピルの増減に
応じてQDSパターンも
増減する
08年11月04日(前回)データ
FB05/00000.wvf
増加のみ！
時分割ゲインに応じて
カクカク曲がるだけ
目標値refの設定に原因あり！
原因(目標値refの設定)
スピルの山の間に
設定した場合
スピルの山より上に
設定した場合
ref
ref
差分信号は正と負両方の値を出す
パターンは増減する
差分信号は正の値しか出さない！
パターンは増加のみ！
目標値refの設定を工夫する必要がある！
対策(1)
• Ref 修正ゲインを新たに導入
• 当面はスピルに応じてrefの高さを変更する
ref修正ゲイン
(refを小さくする)
Ref
dif
Intensity
QDS
Spill
before
ref
高さ修正！
after
ref
対策(2)
• 取り出し直前の粒子量(ビーム強度最大値)と
取り出されている粒子量(スピル)を把握する。
• スピルモニタ、ビームモニタの1Vあたりの粒
子量を計算してrefを求められたらベスト。
• ビームモニタ(DCCT)に関しては
放医研 渋谷氏に確認済み。
• スピルモニタ(シンチレータ)
についても可能か？