Transcript Ek Dosyayı İndir

X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi
 X-ışını
fotoelektron spektroskopisi (XPS)
malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve
moleküler bilgi sağlanması amacıyla
kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir.
Çekirdek-seviyelerinin incelenmesi ve bunu
takiben yayılan çekirdek fotoelektronların
analiz edilmesiyle numune yüzeyinin bileşimi
ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir.
·
Numune yüzeyinde hangi elementler
bulunuyor?
·
Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut?
·
Farklı seviyelerde bulunan farklı
elementlerden ne kadar mevcut?
·
Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir?
·
Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde
mevcut ise,
o Film kalınlığı nedir?
o Film kalınlığı düzenli mi?
o Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?
XPS tüm katı
yüzeylerin elementel
ve kimyasal hal
bilgisinin analizi için
kullanılabilir.
 XPS sistemleri ile
iyonik sıvılar da analiz
edilebilmektedir.
 10 nm’lik yüzey
kalınlığında elementel
ve kimyasal hal analizi
yapabilirsiniz.

 Fırlatılan
elektronunun kinetik enerjisi
numuneye gönderilen X-ışınlarının enerjisi ve
elektronun bağlanma enerjisine
bağlıdır.Elektron X-ışınlarından aldığı
enerjinin bir kısmını bağlanma enerjisini
yenmek için kullanır ve geriye kalan
elektronun kinetik enerjisidir.Bağlanma
enerjisi elektronun bağlandığı atomun ve
bulunduğu orbitalin karakteristik bir
değeridir.Bu değer örnek maddede bulunan
elementin yükseltgenme sayısına ve
elementin kimyasal çevresine bağlıdır.
 Aynı
elementin aynı seviyedeki bir elektronun
farklı bağlanma değerleri olabilir.Bunun
nedeni elektronun farklı çevrelerde,farklı
bağlanma enerjisine sahip
olmasındandır.Buna kimyasal kayma denir.
XPS ile Yüzey Analizi
Bu teknikte ölçülecek numuneye, vakum ortamında
monoenerjili X-ışınları gönderilerek uyarılması
sağlanır.
Bunun sonucunda örneğin yüzeyinden saçılan
elektronların kinetik enerjileri bir elektron
spektrometresi yardımıyla ölçülerek örnek hakkında
nitel ve nicel analizler yapılır.
X-Işınları ile Yüzey
Bombardıman Edilir
Nasıl mı ?




Karakterize yapacağımız
örnek üzerine, hızlandırılmıs
bir x-ışını çarptığında
çekirdeğe yakın olan
tabakadan elektron fırlar.
Bu fırlayan fotoelektronun
enerjisi kendisini olusturan
hızlı elektronun veya x-ışını
fotonunun enerjisine bağlıdır.
Netice itibariyle her atomun
fotoelektronları kendine
özgüdür.
Bu fotoelektronların
enerjisinin belirlenmesi ile
kalitatif veya kantitatif yüzey
analizi yapma yöntemine “Xışınları Fotoelektron
Spektroskopisi” (XPS) denir.

·
·
·
·
·
·
XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun
yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence amaçlıyaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan
uygulama alanları bazı ana başlıklar altında
toplanabilir.
Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi
Mineral yüzey çalışmaları
Polimer çalışmaları
Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi
Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları
Temel atomik fizik çalışmaları
İnsan derisi bileşiminin tayini
Havacılık ve Uzay
 Otomotiv
 Biyomedikal / biyoteknoloji
 Yarı iletken, Polimer
 Telekomünikasyon
 Veri depolama
 Savunma
 Elektronik
 Endüstriyel ürünler
 Işıklandırma
 Eczacılık
 Fotonik, Ekran

Neslihan
Ellialtıoğlu
Filiz Özdin
Duygu Korkmaz
Alev Bilimli
Sümeyye Feyza Özdemir