Transcript 学術創成会議

Remaining Problem and Future Plan
CDC group
黒岩 洋敏
学術創成「ILC測定器」 第１回研究会
2006年12月20日～22日
Remaining Problem

大型化・安定化性能試験、マウント機構開発
→ Pre prototype試作、MPGD開発 → next talk

Gas、MPGD試験
→ 円筒型テストチェンバー、MP-TPC

2-hit separation
→ Laser試験用テストチェンバー + 平行ビーム

Gating
Gas、MPGD試験

動機
–
–

Neutron background → H成分の無いガス CF4
GEM + CF4 based gas
実機で使用された経験が無い
円筒型テストチェンバー
GEM + Ar:CF4テスト
– MPGDテスト
–

MP-TPC
–
TPCとして使用できるか
円筒型テストチェンバー
26cm
現在製作中
 endplate交換により、
異なるMPGDの試験
が可能
10cm

MPGD + Pad
Al
アクリル
2-hit separation

動機
–
–

Pad読み出しの2-hit sep.はsingle hitの重ね合わせで
理解できる
Resistive anodeについては検証が必要
Laser試験用テストチェンバー
– MPGD (micromegas) + resistive anode
– 平行レーザービーム
Laser試験用テストチェンバー

Nd-YAG laser (λ=266nm)
+
ハーフミラー or 平行平面基板
現在製作中
100mm
10mm
平行レーザービーム
55.5mm
30mm
9mm
9mm
200mm
44.5mm
140mm
30mm
30mm
10mm
MPGD
Pad
Gating

動機
– Gas amp. regionからの陽イオンフィードバックにより、
電場が乱れ位置測定精度に影響

GatingとしてGEMを使用
– 増幅用GEMから1cmの距離に設置
– 海外グループと協力して、試験する予定
Summary

Gas、MPGD試験
→ Ar:CF4テスト、円筒型テストチェンバー、MP-TPC

2-hit separation (MPGD + resistive anode)
→ Laser試験用テストチェンバー + 平行ビーム

Gating
→ Gating-GEMのテスト

大型化・安定化性能試験、マウント機構開発
→ Pre prototype試作、MPGD開発 → next talk