Transcript 二、原理
光學實驗 實驗內容 [A]薄透鏡焦距之量測 [B]稜鏡的折射率 [C]光的偏振 [D]空氣楔的薄膜干涉 [E]玻璃片內多次反射的干涉 [F]單狹縫繞射/刀口繞射和單狹縫繞射 [G]雙狹縫繞射 [H]多狹縫繞射---光柵 [延伸實驗]繞射及干涉自動數據擷取實驗 []洛以得鏡 [雷射安全規則] [雷射安全規則] • 雷射光會對視網膜造成永久傷害，切記千萬不可將雷 射光射入自己或他人的眼睛。 • 從光滑器物表面反射的雷射光也可能傷害到眼睛操作 中應隨時留意，不可使雷射光反射到自己或他人的頭 部。 • 高功率的雷射光，縱使經過普通器物散射之後，也可 能對人體造成傷害。無論是操作人員或參觀者都要嚴 格遵守有關的安全規定。 • 雷射的內部有高壓電源，未經允許：不可隨意開啟外 殼，以免觸電。 • 雷射電源線的插頭應插到有接地線的插座。萬一雷射 內部漏電電流可經由接地線流到地下不致傷害到人體 。 [A]薄透鏡焦距之量測 一、目的 利用平行光經過薄透鏡時會聚焦在其焦平面的特性，測量薄透鏡的焦距。 二、原理 (一)當一平行光束射入凸透鏡時，這束平行光會聚集在焦平面上而形成一個實 像，如圖1所示。依據透鏡成像公式: 式中So表示物距，Si表示像距，f為焦距。平行光源可以視為物距So為無窮 遠，此時像距Si=f。 (二)當平行光束經過一凹透鏡與凸透鏡之組合時，當這兩個透鏡的焦點重合，則 由凸透鏡射出的光仍然是平行光。利用此方法，我們就可以利用一已知焦距的 凸透鏡來測量凹透鏡的焦距。此外，利用此原理也可以得到截面較粗的光束， 光束截面大小之比b/a隨f2之變大而增大，為雷射光學實驗中常用的光束擴大 器(beam expander)。 三、儀器 氦氖雷射(波長632.8nm)，凸、凹透鏡，厚平板玻璃，直尺，光學台，白色光屏。 四、實驗裝置 (一)測量凸透鏡的焦距 雷射 厚平板玻璃 (二)測量凹透鏡的焦距 白色光屏 凸透鏡 (a) 凹透鏡 凸透鏡 白色光屏 (b) 厚平板玻璃 PS. 平板厚玻璃可以使平行光截面擴大 [B]稜鏡的折射率 一、目的 利用最小偏折角，測量稜鏡的折射率。 二、原理 雷射光射入稜鏡後，經過兩次折射，從另一邊鏡面射出。 光的入射方向與出射方向之問的夾角稱為“偏折角”，轉 動稜鏡可以改變偏折角 的大小。 “最小偏折角”m。， 稜鏡的頂角和稜鏡的折射率n之間的關係為： 三、儀器 氦氖雷射，三稜鏡，角度盤，光學台，量角器和直尺。 四、實驗裝置 白色光屏 [C]光的偏振 一、目的 觀察光的偏振現象。 二、原理 電磁波的電場和磁場的方向互相垂直，且均垂直於波動行進的方向。我們 可以利用偏振片將非偏振光的電場分解出在某個特定方向的份量而得到 “偏振光”。 當光從介質的表面反射時，如果入射角等於“布魯斯特角(Brewstor’s angle）”B，則能夠反射回來的光只有偏振方向垂直於入射面的成份； 偏振方向平行於入射面的成份則完全穿透，沒有反射。此時介質折射率ｎ 與布魯斯特角之關係如下： 三、儀器 光學台、角度台，光度計，雷射，偏振板2三片，約10mm厚玻璃或壓克力一 片及量角器。 四、實驗裝置 (一) 偏振片的特性 偏振片#3 (旋轉) 白色光屏 偏振片#1 (偏振方向垂直桌面) 偏振片#2 (偏振方向平行桌面) (二) 布魯斯特角量測 厚玻璃 a.偏振光 偏振片 (偏振方向平行桌面) 角度台 b.非偏振光 偏振片(偏振方向平行桌面) 白色光屏 [D]空氣楔的薄膜干涉 一、目的 觀察光穿過楔形空氣薄膜後的干涉現象。 二、原理 將兩片玻璃組成楔形以空氣薄膜隔開入射光會在兩邊界面之問來回做多 次反射，同時有部分光從兩邊的玻璃射出。當空氣薄膜的厚度為半波長 (或其整數倍)時，由於光的建設性干涉：透光的比例較高；反之，厚度 為1/4 波長(或其奇數倍)時，由於破壞性干涉，透光的比例較低。因楔 形空氣薄層的厚度各處不同，因此有的位置合乎建設性干涉的條件；有 的合乎破壞性干涉的條件，形成干涉紋。 三、儀器 雷射，空氣楔，-8mm凹透鏡，Ｕ型支架及光學台。 四、實驗裝置 空氣楔 凹透鏡 白色光屏 白色光屏 [E]玻璃片內多次反射的干涉 一、目的 觀察光在玻璃片內經多次反射的干涉現象。 二、原理 雷射光射入玻璃片後，一部份光直接穿透，一部份則在玻璃片的兩邊界面 之問經多次來回反射，同時有部份光從兩邊界面射出，射出的光束之問會 互相干涉而形成干涉紋。 三、儀器 雷射，玻璃片1，-8mm凹透鏡，+167mm凸透鏡，Ｕ型支架及光學台。 四、實驗裝置 凹透鏡 凸透鏡 玻璃片 白色光屏 註: 此玻璃片表面需極平整(flatness，需在λ/4以內)，兩表面亦需極平行，否則無法看到理論預期 的干涉紋，只能看到不規則且扭曲的干涉紋。 [F]單狹縫繞射/刀口繞射 一、目的 觀察雷射光經過單狹縫的繞射現象。 二、原理 惠更斯原理(Huygens‘ principle): 波前(wavefront)上的任一點均可視為一個波源。 重疊原理( principle of superposition) 相加的結果，來自狹縫中各個點的光波因光 程(optical path)不相同，相位( phase)也就不相同，結果便在屏幕上發生了干涉 (interference)現象。造成單狹縫繞射( single slit diffraction)圖形。 繞射光強度I() Imax 在=0處；在=(2m+1)/2時出現亮紋； 如果α=mπ，I()=0，此時α=(πasin)/λ=m， 表示在sin-1(mλ/a)處出現暗紋 asin=mλ，m=1,2,3… 三、儀器 雷射，光學台，單狹縫片，單狹縫支架，長焦距與凸透鏡支架，平移台以及光 度計(photometer)1。 四、實驗裝置 白色光屏 單狹縫片 凸透鏡 平移台 光度計 註: 注意平移台及光度計使用方式。 [G]雙狹縫繞射 一、目的 觀察光經過雙狹縫的繞射現象，學習由繞射紋推算雷射光的波長。 二、原理 光經過寬度相等且互相平行的兩個狹縫後形成兩個相同的繞射紋。如果這兩 個狹縫很靠近，這兩部份的光會重疊而互相干涉，使繞射紋裡出現干涉紋， 這正是圖17所示干涉亮紋的情形。 干涉亮紋的位置可以約略由下面公式算出: 上式中，d為兩個狹縫的中央線之間的距離，為第m條“亮紋”(中央亮紋不 算)與兩狹縫間的中央線之連線跟入射光之間的夾角。 [H]多狹縫繞射---光柵 一、目的 觀察多狹縫繞射的現象，並由其繞射紋推算雷 射光的波長。 二、原理 光通過一系列寬度相同、互相平行且等距離的 狹縫後，形成一系列相同的繞射紋。若狹縫之 間距離很小，這一系列的光束會重疊而互相干 涉，使繞射紋裡出現非常狹窄的干涉亮紋。當 狹縫的數目極多時，主要的干涉亮紋會變得非 常狹窄而明亮，次要干涉亮紋會變得微弱而不 可見。也就是說，這時候光被集中到狹窄的亮 紋上，這個特性可以用來分析光譜。主要亮紋 的位置可由下面公式推算: 八狹縫 雙狹縫 三狹縫 四狹縫 上式中，d是相鄰兩狹縫中央線之間的距離， 是第m條主要干涉亮紋與光棚中央線的連線跟 入射光之間所形成的夾角。 五狹縫 光度計 本圖取自PASCO Scientific optics system manual, Cat. No.OS-9141,10.10。 指針 歸零螺絲 光纖輸入端 光度選擇鈕 光波輸入接頭 電源開關 輸出座 歸零鈕 靈敏度調整鈕 光纖 輸出接頭 光纖 1.指針歸零:在電源打開之前，先檢視刻度表上的指針是否停在“0”的位置，如果不是，則以螺絲 小起子調整1表頭下方的小螺絲。 1注意:動作應輕微、緩慢，切忌用力左、右亂轉，否則表頭容易損壞。 2.電池檢驗:本光度計在使用之前，須先檢查電源電池是否還能使用?其方法為:將電源開關推至 “Batt.Test位置”，指針應偏轉至“Replace Batt”線的右方，否則需更換直流電源的9V電池。 3.電路歸零:以手掌遮住光纖輸入端，將光度選擇鈕轉在“1”的位置。檢視指針是否停在“0” 的位置，否則調整歸零鈕使其歸零。 角度調整台 光纖固定螺絲 (optic probe securing screw) 分析器支架 ( analyze holders) 平移臂 ( translator arm) 旋轉台 ( rotating table) 特殊元件固定架 (special Component carrier) 光纖輸入端 (fiber optic probe) 角度盤 (angle plate) 角度調整台: 本圖取自PASCO Scientific optics system manual, Cat No. OS-9141, p. 26. 平移台 導引螺紋桿 平移旋鈕 光纖固定螺絲 光纖口 光纖支架 指示線 粗刻標 平移台後方 本圖取自PASCO Scientific optics system manual Cat No. OS-9141, p.21. [延伸實驗]繞射及干涉自動數據擷取實驗 “GLX數據處理機”數據直接匯出方式: 1.連接USB隨身碟 2.實驗後選取表格，選擇運行#。 3.按F4(表格)，選擇輸出所有資料，即可 輸出此筆資料之txt檔案