Transcript 第三章 計量值管制圖
第三章 計量值管制圖
3.1
3.2
3.3
3.4
3.5
3.6
3.7
3.8
前言
管制圖的概念
管制圖的設計
管制圖
管制圖的判斷法則
管制圖的偵查能力
製程能力分析
MINITAB 範例
3.1 前言
當我們衡量的產品品質特性可以用一個數量化的尺度予
以衡量時,稱之為「計量值」(Variable)。
一般產品在生產時皆對品質特性訂有規格界限,若產品
的品質特性落在規格界限內稱為合格(Conforming);若
產品的品質特性落在規格界限外稱為不合格
(Nonconforming)。
若產品的品質特性為計量值(Variable),一般假設品質
特性服從常態分配N( ,2
)。
使用計量值的管制圖時,我們最主要的目的就是要「監
控」該品質特性的平均數和變異數。
~ 0
下規格界限LSL
0
上規格界限USL
(a)
圖3.1 (a) 製程平均數與標準差在目標值 0 與 0
上
~ 0
下規格界限LSL
0
1
上規格界限USL
(b)
圖3.1 (b) 製程平均數偏移到1 0
~
下規格界限LSL
0
1
上規格界限USL
(c)
圖3.1 (c) 製程標準差偏移到
1 0
3.2
管制圖的概念
修華特博士在1924年發明了管制圖(Control Chart) 。
穩定狀態的製程
產品間的變異為穩定而可以預測,此時變異是由「機
遇原因」造成的。
失控狀態的製程
若製程發生變異的原因是由其他異常原因造成,此時
稱這些異常原因為「可歸屬原因」或「特殊原因」,
因為變異的發生原因是可以歸咎於某個特定原因的。
管制圖包含
一條中心線(Center
Line,簡稱CL),它是製
程品質特性的平均數,用來了解目前製程的
平均水準 。
中心線以外的兩條水平線,分別稱為管制上
限或上管制界限(Upper Control limit,簡
稱UCL)和管制下限或下管制界限(Lower
Control Limit,簡稱LCL)。
使用管制圖時,我們要同時監控「製程
__
的平均是否在目標值上」及「製程的變
XS
XR
異是否是在管制狀態下」,故我們使用
管制圖(或
管制圖)同時監控製
__
3.3
管制圖的設計
在設計管制圖時,我們首先必須先決定我們抽樣樣本
數的大小、抽樣的頻率及管制界限的寬度。
管制界限的寬度由所願意承擔的風險(即顯著水準)
來決定。
例如設定 0.05
,表示製程在管制狀態下,平
均每20個樣本點會有一個樣本點落在管制界限外的
假警訊發生。
__
使用 X 管制圖來監控製程平均
若要偵測較大製程偏移,則每組樣本的抽樣樣本數
只需要n=4到6即可。
若要製程微小的偏移此時樣本的大小就必須達到
n=15到25。
使用
R
管制圖來監控製程變異
若樣本數不大的情況下,R管制圖對製程變異的偏移反
應較不靈敏,但是若樣本數大,則估計的效率會降低。
因此當樣本數大於10或12時,則最好使用S管制圖或
管制圖來取代R管制圖,因為樣本標準差S利用到樣本
的所有資訊,所以利用樣本標準差S來估計標準差σ會
2
S較有效。
抽樣分法(成本上的考量)
小樣本數頻繁的抽樣(實務上建議使用 )
大樣本數稀少的抽樣
製程的生產速率很快時,則必須頻繁的對製程加以
抽檢(即使用小樣本頻繁的抽樣)
__
使用 X 和R管制圖時,管制界限的寬度在實務應用上
通常訂為三倍標準差管制界限(即在管制界限外的機率
是α=0.27%)。
X 管制圖監控樣本間的變異(Between-Sample
Variability);R管制圖監控樣本內的變異(WithinSample Variability)。
3.4
管制圖
3.4.1 樣本平均數與全距
__
X 管制圖
R
若某一產品的品質特性服從常態分配N(μ, 2 ),令
代表樣本數為n的一組樣本,則
X 1 , X 2 ,......X n
樣本平均數為
X 1 X 2 .... X n
X
n
__
__
的分配亦為常態分配N( μ,
),且其平均數
2 n
和標準差
V
(
X
)
X E(X )
X
分別為
n
和
。
在雙尾假設檢定且顯著水準為α時,我們可以求得下面的
二個臨界點(Critical
Point):
Z X Z
Z X Z
2
2
2
2
n 和
n
(3.1)
X
在μ和σ已知時,我們用(3.1)來做為監控
製程平均數的
X
管制圖的管制上下限。習慣上我們使用
Z 3
2
顯著水準α=0.0027,則
,此
時我們稱此組管制界限為「三倍標準差管
制界限」。
__
__
當μ與σ已知時,
X
限可寫成:
UCLX X 3 X 3
管制圖的三倍標準差的管制界
(3.2)
n
A
CLX X
LCL X X 3 X 3
A3
n
A
n
其中
可由附表8中查得。
是一個會隨樣本變數n變動的值,
母體平均數μ和母體標準差σ在實務應用上通常未知,因
此我們若用全距R來估計母體標準差σ。
假設我們從母體抽取m組樣本,通常20≦m≦25,每組樣本
有n個衡量品質特性的觀察值,
__
ˆ X
__
__
__
其中X 1 , X 2 .. X m
__
R
其中R1 , R2 ....Rm
__
__
X 1 X 2 .....X m
m
分別是m組樣本的樣本平均數,
R1 R2 ......Rm
m
分別是m組樣本的全距。
若抽出樣本的母體分配是常態分配,則全距和標準差
比值
R
為一隨機變數稱之為相對全距
W
(Relative Range)。
W的期望值或平均數
R
E
(
W
)
E
d 2 ,故我們
W
為
用
d2
ˆ R d2
來估計母體標準差σ,其中
是
一個會隨樣本數而變動的值,可由附表8查得。若是組
樣本全距的平均,則我們使用
來估計
ˆ R d2
母體標準差σ。
當μ與σ未知時,
X
制界限可改寫成:
UCL__ X 3
X
R
d2 n
管制圖的三倍標準差的管
__
X A2 R
CL__ X
X
LCL
(3.8)
X
__
X 3
R
d2 n
__
X A2 R
A2 3 d2 n
其中
是一個會隨樣本數n
變動的值,可由附表8中查得。
當σ未知時,R管制圖的三倍標準差管制界限可
改寫為:
d3
UCLR R 1 3
d2
__
D4 R
__
CL R R
(3.12)
LCLR
d3
R 1 3
d2
__
D3 R
D3 , D4
皆為隨樣本數變動n的值,可
由附表8中查得。
當σ已知時, R管制圖的三倍標準差管制界限
可改寫 成:
UCLR d2 3d3 D2
CLR d2
(3.15)
LCLR d2 3d3 D1
d 2 , D1 , D2
上述之
皆為隨樣本數n變動的
值,皆可由附表8中 查得。
【例題 3.1】
某工廠欲管制所生產銅管之內徑尺寸,每半個小時從
生產線中抽取一組樣本,每組含有5個衡量內徑尺寸之測
量值,共計抽樣了10個小時,所得的數據如表3-1所示,
試利用這些數據建立X R
管制圖。
m
【解】
X
X
i 1
m
i
296.64 14.832
20
m
R
R
i 1
m
i
27.6 1.38
20
R管制圖的三倍標準差管制界限為
UCLR D4 R 2.115 1.38 2.9187
CLR R 1.38
LCLR D3 R 0 1.38 0
管制圖的三倍標準差管制界限為
X
UCLX X A2 R 14.832 0.577 1.38 15.62826
CLX X 14.832
LCLX X A2 R 14.832 0.577 1.38 14.03574
UCL=15.628
15.2
_
_
X=14.832
14.8
14.4
LCL=14.036
14.0
1
3
5
7
9
11
Sample
13
15
17
19
3
Sample Range
Sample Mean
15.6
UCL=2.918
2
_
R=1.38
1
0
LCL=0
1
3
5
7
9
11
Sample
13
15
17
19
管制界限和規格界限之間的關係
__
X 和R管制圖的管制界限(Control Limits)和製程的
規格界限(Specification Limits)之間並無任何關聯。
管制界限是由製程的自然變異求得,規格界限的決定
則是人為的。
在設定產品的規格界限時,先了解製程的變異情形有
助於正確的訂定規格界限,但必須切記管制界限和規
格界限之間並無任何關係。
__
3.4.2 樣本平均數與樣本標準差 X 管制圖
S
在實務上,由於計算的方便,我們較常使用 X R
管制圖。但若是每組樣本的樣本數較大的時候,使用
樣本標準差s來估計母體標準差σ會較準確,故會改用
X S
管制圖。
當樣本數大小以n=10為界,若n<10時可使用
X R
管制圖;若n≧10或12與樣本數n是變動時,則用
X S
管制圖較好。
在常態分配假設下,S的平均數
) c4
S E(SS的標準
為
,
c4
差
,其中
S V ( S ) 1 c42
為隨著n而變的值。
若σ為已知時,S管制圖的三倍標準差管制界
限可改寫成:
UCLS c4 3 1 c42 B6
CLS c4
(3.18)
LCL
S
c4 3 1 c42 B5
B6 c4 , B5
上述所列之常數
,
變動的值,皆可由附表8中查得。
皆為隨樣本數n
若μ與σ已知時,
X
制界限可改寫成:
管制圖的三倍標準差管
UCLX __ 3 __ 3
X
n
X
A
CL X __
X
(3.19)LCL
X
__ 3 __ 3
X
n
X
A
A
3
n
上述所列之常數
動的值,可由附表8中查得。
為隨樣本數n變
若σ未知時,S管制圖的三倍標準差管制界限
可改寫成:
UCLS 1 3
c4
1 c42 S B4 S
CLS S
(3.23)
LCLS 1 3
c4
1 c42 S B3 S
B3 , B4
上述所列常數
值,皆可由附表8中查得。
皆為隨樣本數n變動的
X
若μ與σ未知時,
寫成:
管制圖的管制界限可改
UCL X X A3 S
CL X X
(3.25)LCL X
X A3 S
A3
3
c4 n
上式中的
變動的值,可由附表8中查得。
為隨樣本數n而
【例 3.2】
X S
某工廠利用
管制圖來監控所生產零件的外
徑尺寸,今抽取了20組的樣本,每組的樣本數為n=15個,
經整理計算後的數據如表3.2所示,試建立
X S
管制圖。
【解】
m
X
X
i 1
m
i
23.4 26.2
20
26.5 25.115
m
S
S
i
6.4 5.5
m
20
i 1
2.6 5.37
X
管制圖的三倍標準差管制界限為
UCLX X A3 S 25.115 0.789 5.37 29.35
CL X X 25.115
LCLX X A3 S 25.115 0.789 5.37 20.88
S 管制圖的三倍標準差管制界限為
UCLS B4 S 1.572 5.37 8.442
CLS S 5.37
LCLS B3 S 0.428 5.37 2.298
30
USL=29.352
29
28
27
26
_
X=25.115
25
24
23
22
21
LSL=20.878
1
3
5
7
9
11
13
15
17
19
9
USL=8.442
8
7
6
_
S=5.37
5
4
3
LSL=2.298
2
1
3
5
7
9
11
13
15
17
19
3.4.3
樣本數是變動的
X 管制圖
S
在抽取m組樣本,第i組樣本的樣本數是 n,樣本數是變動,
i
則我們應該使用加權平均來計算
與
。
S
X
m
X
n X
i 1
m
i
n
i 1
i
i
m
ni 1S i2
S i 1m
ni m
i 1
1
2
管制圖的三倍標準差管制界限公式如下:
X
UCL X X A3 S
CL X X
(3.26)
LCL X X A3 S
A3
3
c 4 ni
其中
值,可由附
表8中查得。
ni
為隨每組樣本數
而變動的
S管制圖的三倍標準差管制界限公式如下:
UCLS B4 S
CLS S
(3.27)
LCLS B3 S
B3 , B4
其中
附表8中查得。
ni
為隨每組樣本數
而變動的值,可由
【例3.3】
我們將利用表3.3的活塞環內徑資料來求算上述的
X S
管制圖。由表3.3中可以看出,每個樣本的大小由3個到5
個不等。
【解】m
X
n X
i
i 1
ni
m
S
n
m
n
i 1
5(54.0102) 3(53.996) 5(53.9982)
54.001
53 5
1 Si2
i
i 1
i
i
25
4(0.014772)2 2(0.004583)2 4(0.016177)2
0.0103
5 3 5 25
第一組樣本之 X
管制圖的三倍標準差管制界限為
UCLX X A3 S 54.001 1.427 0.0103 54.016
CLX X 54.001
LCLX X A3 S 54.001 1.427 0.0103 53.986
第一組樣本管制圖的三倍標準差S管制界限為
UCLS B4 S 2.089 0.0103 0.022
CLS S 0.0103
LCLS B3 S 0 0.0103 0
54.02
Sample M ean
UCL=54.01460
54.01
_
_
X=54.00075
54.00
53.99
LCL=53.98691
53.98
1
3
5
7
9
11
13
Sample
15
17
19
21
23
25
UCL=0.02027
Sample StDev
0.020
0.015
_
S=0.00970
0.010
0.005
0.000
LCL=0
1
3
5
7
9
11
13
Sample
15
17
19
21
23
25
3.4.4
因為
管制圖 S
(n 1) S 2
2
P(
2
因此n 1
若
2
UCL
12
S2
已知時,則
S2
2
n 1
2
2
, n 1
2
CL
(3.28)
LCL
2
~P(
2
n1
, n 1
2
n 1
12
2
, n 1
2
2
(n 1)
(n 1) S 2
,所以
2
1 , n 1
2
2
2
, n 1
2
2
2
, n 1
) 1
管制圖的管制界限為:
) 1
若2
未知時,
S2
管制圖的管制界限為:
S2 2
UCL
n 1 , n 1
2
CL S 2
(3.29)
S2 2
LCL
n 1 1 ( ),n 1
2
2 / 2,n1和12 / 2,n1
式中
2
(n-1)的卡方分配之
上下
百分率點。
的表自由度為
1 m 2
為分析初始資料的平均樣本變異數,亦即
S=i
S
m i 1
n
__
2
__
2
S
2
(
x
x
)
ij i
,其中
Si2 j 1
n 1
樣本變異數。在這
為 i 第組樣本的
S2
裡
界 限。
管制圖是採用機率界限來求管制圖的上下管制
X
3.4.5 個別值 管制圖與移動全距
MR
管制圖
樣本由單一或個別觀察值所組成,而且各別值需服從常態
分配時,便可使用個別值 X 管制圖與移動全距管制圖。
個別值
X
管制圖的三倍標準差管制界限公式如下:
UCLX ˆ 3ˆ X 3
CL X ˆ X
(3.30)
LCLX ˆ 3ˆ X 3
MR
d2
MR
d2
d2
d2
其中相對全距的平均數
值,從附表8中可查得n=2時
為隨樣本數n=2而變動的
=1.128。
移動全距
MR
下:
管制圖的三倍標準差管制界限公式如
UCLR D4 MR
CLR MR
LCL D3 MR
(3.31) R
D3 , D4
D3
D4
其中
從附表8中可查得n=2時,
為隨樣本數n=2而變動的值,
=0,
=3.267。
【例3.4】
考慮一化學混合物的製程,其黏著性的資料如下,因
為化學製程中的資料取得不易,故一個批次只能抽出一個
樣本,試根據表3.5建立個別值X管制圖與移動全距MR管制
圖。
【解】 MR2 X 2 X 1 75.20 70.10 5.10
MR3 X 3 X 2 74.40 75.20 0.80
m
X
X
i 1
m
i
1480 74
20
m
MR
MR
i
35.07 1.846
m 1
19
i2
個別值X管制圖的三倍標準差管制界限:
__
___
__
___
UCLX 3ˆ X 3 MR X 3 MR 74 2.66 1.846 78.91
d2
1.128
__
CLX ˆ X 74
__
___
__
___
LCLX 3ˆ X 3 MR X 3 MR 74 2.66 1.846 69.09
d2
1.128
移動全距MR管制圖的三倍標準差管制界限:
___
___
UCLR D4 MR 3.267 MR 3.267 1.846 6.03
___
CLR MR 1.846
___
___
LCLR D3 MR 0 MR 0 1.846 0
UCL=78.91
I ndividual Value
78
76
_
X=74
74
72
70
LCL=69.09
1
3
5
7
9
11
Observation
13
15
17
19
UCL=6.031
M oving R ange
6.0
4.5
3.0
__
MR=1.846
1.5
0.0
LCL=0
1
3
5
7
9
11
Observation
13
15
17
19
3.5
管制圖的判斷法則
針對製程的某一品質特性收集數據,將所
X
得資料繪於管制圖上,由
管制圖來判
定製程是否在管制狀態,管制圖用來監控
製程的平均數,R管制圖或S管制圖用來監
控製程的變異。
3.5.1
圖形判斷與解釋
如果製程在管制狀態下,則樣本點應該都落在管制界限內
且其分佈應該是隨機的。
既使沒有樣本點落在管制界限外,但樣本點的散佈呈
現系統性非隨機的型態,仍然判斷製程是失控狀態。
管制圖的樣本點的散佈型態可以幫助尋找可歸屬原因。
在判斷與解釋
管制圖的圖形,我們首先決定R管制圖
或S管制圖是否在管制狀態,若R管制圖或S管制圖呈現失
控狀態,則絕不可去解釋與判斷
管制圖的圖形。
X
X
若 X 管制圖與R管制圖或S管制圖皆呈現有系統性變
化的非隨機型態,我們首先需要消除R管制圖或S管制
圖的可歸屬原因,這樣通常在很多情況亦會自動消除
X
管制圖的可歸屬原因。
若有下列情況發生,則製程可能已經失控(Out of
Control)
循環(Cyclic):管制圖上樣本點的分佈跟時間點間
存在一定關聯。
趨勢(Trend):趨勢是朝一方向連續的變動。
混合(Mixture):樣本點分佈在管制界限附近,而
落在中心線附近的點很少。
層化(Stratification):樣本點皆落在中心線附近。
此時管制圖的圖形缺少自然的變異,這是由於管制界
限不正確的計算或抽樣時是從好幾個不同分配的母體
抽出。
製程水準的移動(Shift in Process Level):原因可
能是由於新員工的引進或方法、原料、工人的技術、
機器、檢查方法等的改變 。
3.5.2
西屋電子手冊法則
符合下列一項法則,就表示製程失控:
一樣本點落在三倍標準差管制界限外。
連續的3樣本點中有2樣本點落在二倍標準差警告界限
外,但仍在三倍標準差管制界限內。
連續的5樣本點中有4樣本點落在距中心線一倍標準差
外。
連續8樣本點落在中心線同一側。
這些決策法則僅適用於同時在中心線同一側的情形。因此,
若一樣本點落在上警告界限外,接著一樣本點落在下警告
界限外,並不表示製程失控。
連數原則
連續11樣本點中有10樣本點在中心線同一側
連續14樣本點中有12樣本點在中心線同一側
連續17樣本點中有14樣本點在中心線同一側
連續20樣本點中有16樣本點在中心線同一側
管制圖敏感法則的討論與探討
最基本的判斷法則就是有樣本點落在管制界限外,就
製程是失控狀態。
其他的法則則是用來增加管制圖的敏感度。
實務應用上,修華特管制圖的敏感度法則中有任一法
則或多個法則發生,就可判斷製程是失控狀態。
修華特管制圖的敏感度法則:
一樣本點或多樣本點落在三倍標準差管制界限外
連續的5樣本點中有4樣本點落在距中心線一倍標準差
外
連續的3樣本點中有2樣本點落在二倍標準差警告界限
外,但還在管制界限內
連續8樣本點落在中心線同一側
連續11樣本點中有10樣本點在中心線同一側
連續14樣本點中有12樣本點在中心線同一側
連續17樣本點中有14樣本點在中心線同一側
連續20樣本點中有16樣本點在中心線同一側
15樣本點落在中心線上下一倍標準差界限內
6樣本點連續上升或下降
連續8樣本點沒有任何一樣本點在中心線兩側的上下一
倍標準差界限內
連續14樣本點上下交替
資料出現任何有系統性變化的非隨機圖形的形態
一樣本點或多樣本點落在警告界限或管制界限附近
3.6 管制圖的偵查能力
3.6.1 作業特徵曲線
管制圖與R管制圖或S管制圖偵查製程偏移的能力
可以由作業特徵曲線(Operating-Characteristic
Curve,簡稱OC曲線)來說明。
X
以 OC曲線來說明 X 管制圖的偵察能力:
品質特性X服從常態分配N(μ, 2 ),其樣本平均
數服從常態分配N(μ,
)。
2 n
製程平均數從管制狀態 0
偏移
到 1 0 L
,則在第一次樣本
沒有偵查出製程偏移的機率β為
PLCL X UCL 1 0 L
k L n k L n
假設我們使用k=3的三倍標準差管制界限的 X 管制圖,
樣本大小n=4,製程平均偏移 1 0 2
到
,亦即L=2,則在第
一次樣本沒有偵查出製程偏移的機率為
k L n k L n 3 2 4 3 2 4
1 7 0.15866 0 0.15866
則在第一次樣本可偵查出製程偏移的機率為
1 1 0.15866 0.84134
管制圖的OC曲線的繪製圖,針對不同
樣本大小n,將要偵查製程偏移的大小以標
準差的倍數表示,並將此倍數當為橫座標,
其相對的機率β當為縱座標。
從圖3-12可以看出當樣本小為n=3,4,5等
小樣本數時,
X
管制圖偵查小偏移(例如偏移大小
為小於1.5σ)的能力不是特別有效;但偵
查大偏移(例如偏移大小為1.5σ到2σ或
X
1.0
0.9
0.8
0.7
β
0.6
0.5
0.4
n=15
0.3
n=10
0.2
0.1
n=1
n=2
n=5
n=20
n=3
n=4
0
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
L
圖3-12
三倍標準差管制界限的X
管制圖的作業特徵曲線,
其中
P LCL UCL 1 0 L
平均連串長度(Average Run Length ,ARL)
的意義是,在管制圖裡直到有樣本點落在
管制界限外所需要的平均樣本點數,其公
式為
r 1
1
ARL r (1 p)
r 1
(3.33)
p
p
p 1
,在此
為任何樣本點
ARL0
製程在管制狀態下的平均連串長度
使用三倍標準差的 X 管制圖,其樣本點落在管制界
限外的機率是0.0027,因此平均連串長度
1 1
1
ARL0
370
p 0.0027
其表示平均每370個樣本點會有一個樣本點落在管制
界限外。
ARL1
製程在失控狀態下的平均連串長度
當製程平均數偏移1.5σ且樣本數n=5,製程是在失控
狀態,若使用三倍標準差的
X管制圖,從作業特徵
曲線圖(OC曲線)可查得樣本點落在管制界限外的機
率是p=0.5,因此平均連串長度
1
1
1
ARL1
2
p 1 0.5
ATS
平均警訊時間(Average
Time to Signal)
直到管制圖出現第一個樣本點落在管制界限外的警
訊所需的平均時間。
若樣本在每h時間就抽樣一次,則平均警訊時間為
ATS ARL h
(3.34)
I
平均的個別單位數
若樣本大小為n,則
I
和ARL有下列關係
I ARL n
(3.35)
3.7 製程能力分析
製程能力比(Process Capability Ratio,PCR)或製程能力
Cp
指標(Process Capahility Index)
的意義就是製
程的「規格界限」和「自然允差界限」之間的比值,即
USL LSL
Cp
6
R
ˆ
在實務上通常母體標準差σ是未知的,用
d2
來估計之
USL LSL
Cp
6ˆ
S或
c4
若一製程其 C p 1
,這顯示製程的自
然允差界限(平均數加減三倍標準差)是在
規格界限之內,此時所產生不良品的數目
Cp
會相對的少。
製程能力指標
P(
1
)100%
也可做另一解釋,令
Cp
此值代表製程使用規格寬度的百分比。
Cp 1
LSL
μ
LNTL
3σ
UNTL USL
3σ
(a)
Cp
圖3.13(a)說明製程能力指標
大於1,
表示製程使用了少於100%的規格寬度,其
結果製程所產生的不良品將較少,其製程
能力較好,可繼續保持。
Cp 1
μ
LNTL
LSL
3σ
UNTL
USL
3σ
(b)
圖3.13(b)說明製程能力指標
C p 1 此時製程使
用了全部的規格寬度,若製程的品質特性服從常態分配,
製程平均數μ等於規格中心 USL LSL 2,而且製程是
在管制狀態,則在此情形下該製程所生產的產品有0.27%
(2700ppm,每百萬個產品有2700個不良品)的不良率。
Cp 1
LNTL
μ
LSL
3σ
USL
UNTL
3σ
(c)
圖3.13(c)說明製程能力指標
小於1,
Cp
此時製程使用了超過100%的規格寬度,這
表示製程能力不好,此時該製程將生產出
大量的不良產品,該製程需要改進。