Transcript 第三章 計量值管制圖
第三章 計量值管制圖 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 前言 管制圖的概念 管制圖的設計 管制圖 管制圖的判斷法則 管制圖的偵查能力 製程能力分析 MINITAB 範例 3.1 前言 當我們衡量的產品品質特性可以用一個數量化的尺度予 以衡量時,稱之為「計量值」(Variable)。 一般產品在生產時皆對品質特性訂有規格界限,若產品 的品質特性落在規格界限內稱為合格(Conforming);若 產品的品質特性落在規格界限外稱為不合格 (Nonconforming)。 若產品的品質特性為計量值(Variable),一般假設品質 特性服從常態分配N( ,2 )。 使用計量值的管制圖時,我們最主要的目的就是要「監 控」該品質特性的平均數和變異數。 ~ 0 下規格界限LSL 0 上規格界限USL (a) 圖3.1 (a) 製程平均數與標準差在目標值 0 與 0 上 ~ 0 下規格界限LSL 0 1 上規格界限USL (b) 圖3.1 (b) 製程平均數偏移到1 0 ~ 下規格界限LSL 0 1 上規格界限USL (c) 圖3.1 (c) 製程標準差偏移到 1 0 3.2 管制圖的概念 修華特博士在1924年發明了管制圖(Control Chart) 。 穩定狀態的製程 產品間的變異為穩定而可以預測,此時變異是由「機 遇原因」造成的。 失控狀態的製程 若製程發生變異的原因是由其他異常原因造成,此時 稱這些異常原因為「可歸屬原因」或「特殊原因」, 因為變異的發生原因是可以歸咎於某個特定原因的。 管制圖包含 一條中心線(Center Line,簡稱CL),它是製 程品質特性的平均數,用來了解目前製程的 平均水準 。 中心線以外的兩條水平線,分別稱為管制上 限或上管制界限(Upper Control limit,簡 稱UCL)和管制下限或下管制界限(Lower Control Limit,簡稱LCL)。 使用管制圖時,我們要同時監控「製程 __ 的平均是否在目標值上」及「製程的變 XS XR 異是否是在管制狀態下」,故我們使用 管制圖(或 管制圖)同時監控製 __ 3.3 管制圖的設計 在設計管制圖時,我們首先必須先決定我們抽樣樣本 數的大小、抽樣的頻率及管制界限的寬度。 管制界限的寬度由所願意承擔的風險(即顯著水準) 來決定。 例如設定 0.05 ,表示製程在管制狀態下,平 均每20個樣本點會有一個樣本點落在管制界限外的 假警訊發生。 __ 使用 X 管制圖來監控製程平均 若要偵測較大製程偏移,則每組樣本的抽樣樣本數 只需要n=4到6即可。 若要製程微小的偏移此時樣本的大小就必須達到 n=15到25。 使用 R 管制圖來監控製程變異 若樣本數不大的情況下,R管制圖對製程變異的偏移反 應較不靈敏,但是若樣本數大,則估計的效率會降低。 因此當樣本數大於10或12時,則最好使用S管制圖或 管制圖來取代R管制圖,因為樣本標準差S利用到樣本 的所有資訊,所以利用樣本標準差S來估計標準差σ會 2 S較有效。 抽樣分法(成本上的考量) 小樣本數頻繁的抽樣(實務上建議使用 ) 大樣本數稀少的抽樣 製程的生產速率很快時,則必須頻繁的對製程加以 抽檢(即使用小樣本頻繁的抽樣) __ 使用 X 和R管制圖時,管制界限的寬度在實務應用上 通常訂為三倍標準差管制界限(即在管制界限外的機率 是α=0.27%)。 X 管制圖監控樣本間的變異(Between-Sample Variability);R管制圖監控樣本內的變異(WithinSample Variability)。 3.4 管制圖 3.4.1 樣本平均數與全距 __ X 管制圖 R 若某一產品的品質特性服從常態分配N(μ, 2 ),令 代表樣本數為n的一組樣本,則 X 1 , X 2 ,......X n 樣本平均數為 X 1 X 2 .... X n X n __ __ 的分配亦為常態分配N( μ, ),且其平均數 2 n 和標準差 V ( X ) X E(X ) X 分別為 n 和 。 在雙尾假設檢定且顯著水準為α時,我們可以求得下面的 二個臨界點(Critical Point): Z X Z Z X Z 2 2 2 2 n 和 n (3.1) X 在μ和σ已知時,我們用(3.1)來做為監控 製程平均數的 X 管制圖的管制上下限。習慣上我們使用 Z 3 2 顯著水準α=0.0027,則 ,此 時我們稱此組管制界限為「三倍標準差管 制界限」。 __ __ 當μ與σ已知時, X 限可寫成: UCLX X 3 X 3 管制圖的三倍標準差的管制界 (3.2) n A CLX X LCL X X 3 X 3 A3 n A n 其中 可由附表8中查得。 是一個會隨樣本變數n變動的值, 母體平均數μ和母體標準差σ在實務應用上通常未知,因 此我們若用全距R來估計母體標準差σ。 假設我們從母體抽取m組樣本,通常20≦m≦25,每組樣本 有n個衡量品質特性的觀察值, __ ˆ X __ __ __ 其中X 1 , X 2 .. X m __ R 其中R1 , R2 ....Rm __ __ X 1 X 2 .....X m m 分別是m組樣本的樣本平均數, R1 R2 ......Rm m 分別是m組樣本的全距。 若抽出樣本的母體分配是常態分配,則全距和標準差 比值 R 為一隨機變數稱之為相對全距 W (Relative Range)。 W的期望值或平均數 R E ( W ) E d 2 ,故我們 W 為 用 d2 ˆ R d2 來估計母體標準差σ,其中 是 一個會隨樣本數而變動的值,可由附表8查得。若是組 樣本全距的平均,則我們使用 來估計 ˆ R d2 母體標準差σ。 當μ與σ未知時, X 制界限可改寫成: UCL__ X 3 X R d2 n 管制圖的三倍標準差的管 __ X A2 R CL__ X X LCL (3.8) X __ X 3 R d2 n __ X A2 R A2 3 d2 n 其中 是一個會隨樣本數n 變動的值,可由附表8中查得。 當σ未知時,R管制圖的三倍標準差管制界限可 改寫為: d3 UCLR R 1 3 d2 __ D4 R __ CL R R (3.12) LCLR d3 R 1 3 d2 __ D3 R D3 , D4 皆為隨樣本數變動n的值,可 由附表8中查得。 當σ已知時, R管制圖的三倍標準差管制界限 可改寫 成: UCLR d2 3d3 D2 CLR d2 (3.15) LCLR d2 3d3 D1 d 2 , D1 , D2 上述之 皆為隨樣本數n變動的 值,皆可由附表8中 查得。 【例題 3.1】 某工廠欲管制所生產銅管之內徑尺寸,每半個小時從 生產線中抽取一組樣本,每組含有5個衡量內徑尺寸之測 量值,共計抽樣了10個小時,所得的數據如表3-1所示, 試利用這些數據建立X R 管制圖。 m 【解】 X X i 1 m i 296.64 14.832 20 m R R i 1 m i 27.6 1.38 20 R管制圖的三倍標準差管制界限為 UCLR D4 R 2.115 1.38 2.9187 CLR R 1.38 LCLR D3 R 0 1.38 0 管制圖的三倍標準差管制界限為 X UCLX X A2 R 14.832 0.577 1.38 15.62826 CLX X 14.832 LCLX X A2 R 14.832 0.577 1.38 14.03574 UCL=15.628 15.2 _ _ X=14.832 14.8 14.4 LCL=14.036 14.0 1 3 5 7 9 11 Sample 13 15 17 19 3 Sample Range Sample Mean 15.6 UCL=2.918 2 _ R=1.38 1 0 LCL=0 1 3 5 7 9 11 Sample 13 15 17 19 管制界限和規格界限之間的關係 __ X 和R管制圖的管制界限(Control Limits)和製程的 規格界限(Specification Limits)之間並無任何關聯。 管制界限是由製程的自然變異求得,規格界限的決定 則是人為的。 在設定產品的規格界限時,先了解製程的變異情形有 助於正確的訂定規格界限,但必須切記管制界限和規 格界限之間並無任何關係。 __ 3.4.2 樣本平均數與樣本標準差 X 管制圖 S 在實務上,由於計算的方便,我們較常使用 X R 管制圖。但若是每組樣本的樣本數較大的時候,使用 樣本標準差s來估計母體標準差σ會較準確,故會改用 X S 管制圖。 當樣本數大小以n=10為界,若n<10時可使用 X R 管制圖;若n≧10或12與樣本數n是變動時,則用 X S 管制圖較好。 在常態分配假設下,S的平均數 ) c4 S E(SS的標準 為 , c4 差 ,其中 S V ( S ) 1 c42 為隨著n而變的值。 若σ為已知時,S管制圖的三倍標準差管制界 限可改寫成: UCLS c4 3 1 c42 B6 CLS c4 (3.18) LCL S c4 3 1 c42 B5 B6 c4 , B5 上述所列之常數 , 變動的值,皆可由附表8中查得。 皆為隨樣本數n 若μ與σ已知時, X 制界限可改寫成: 管制圖的三倍標準差管 UCLX __ 3 __ 3 X n X A CL X __ X (3.19)LCL X __ 3 __ 3 X n X A A 3 n 上述所列之常數 動的值,可由附表8中查得。 為隨樣本數n變 若σ未知時,S管制圖的三倍標準差管制界限 可改寫成: UCLS 1 3 c4 1 c42 S B4 S CLS S (3.23) LCLS 1 3 c4 1 c42 S B3 S B3 , B4 上述所列常數 值,皆可由附表8中查得。 皆為隨樣本數n變動的 X 若μ與σ未知時, 寫成: 管制圖的管制界限可改 UCL X X A3 S CL X X (3.25)LCL X X A3 S A3 3 c4 n 上式中的 變動的值,可由附表8中查得。 為隨樣本數n而 【例 3.2】 X S 某工廠利用 管制圖來監控所生產零件的外 徑尺寸,今抽取了20組的樣本,每組的樣本數為n=15個, 經整理計算後的數據如表3.2所示,試建立 X S 管制圖。 【解】 m X X i 1 m i 23.4 26.2 20 26.5 25.115 m S S i 6.4 5.5 m 20 i 1 2.6 5.37 X 管制圖的三倍標準差管制界限為 UCLX X A3 S 25.115 0.789 5.37 29.35 CL X X 25.115 LCLX X A3 S 25.115 0.789 5.37 20.88 S 管制圖的三倍標準差管制界限為 UCLS B4 S 1.572 5.37 8.442 CLS S 5.37 LCLS B3 S 0.428 5.37 2.298 30 USL=29.352 29 28 27 26 _ X=25.115 25 24 23 22 21 LSL=20.878 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 9 USL=8.442 8 7 6 _ S=5.37 5 4 3 LSL=2.298 2 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 3.4.3 樣本數是變動的 X 管制圖 S 在抽取m組樣本,第i組樣本的樣本數是 n,樣本數是變動, i 則我們應該使用加權平均來計算 與 。 S X m X n X i 1 m i n i 1 i i m ni 1S i2 S i 1m ni m i 1 1 2 管制圖的三倍標準差管制界限公式如下: X UCL X X A3 S CL X X (3.26) LCL X X A3 S A3 3 c 4 ni 其中 值,可由附 表8中查得。 ni 為隨每組樣本數 而變動的 S管制圖的三倍標準差管制界限公式如下: UCLS B4 S CLS S (3.27) LCLS B3 S B3 , B4 其中 附表8中查得。 ni 為隨每組樣本數 而變動的值,可由 【例3.3】 我們將利用表3.3的活塞環內徑資料來求算上述的 X S 管制圖。由表3.3中可以看出,每個樣本的大小由3個到5 個不等。 【解】m X n X i i 1 ni m S n m n i 1 5(54.0102) 3(53.996) 5(53.9982) 54.001 53 5 1 Si2 i i 1 i i 25 4(0.014772)2 2(0.004583)2 4(0.016177)2 0.0103 5 3 5 25 第一組樣本之 X 管制圖的三倍標準差管制界限為 UCLX X A3 S 54.001 1.427 0.0103 54.016 CLX X 54.001 LCLX X A3 S 54.001 1.427 0.0103 53.986 第一組樣本管制圖的三倍標準差S管制界限為 UCLS B4 S 2.089 0.0103 0.022 CLS S 0.0103 LCLS B3 S 0 0.0103 0 54.02 Sample M ean UCL=54.01460 54.01 _ _ X=54.00075 54.00 53.99 LCL=53.98691 53.98 1 3 5 7 9 11 13 Sample 15 17 19 21 23 25 UCL=0.02027 Sample StDev 0.020 0.015 _ S=0.00970 0.010 0.005 0.000 LCL=0 1 3 5 7 9 11 13 Sample 15 17 19 21 23 25 3.4.4 因為 管制圖 S (n 1) S 2 2 P( 2 因此n 1 若 2 UCL 12 S2 已知時,則 S2 2 n 1 2 2 , n 1 2 CL (3.28) LCL 2 ~P( 2 n1 , n 1 2 n 1 12 2 , n 1 2 2 (n 1) (n 1) S 2 ,所以 2 1 , n 1 2 2 2 , n 1 2 2 2 , n 1 ) 1 管制圖的管制界限為: ) 1 若2 未知時, S2 管制圖的管制界限為: S2 2 UCL n 1 , n 1 2 CL S 2 (3.29) S2 2 LCL n 1 1 ( ),n 1 2 2 / 2,n1和12 / 2,n1 式中 2 (n-1)的卡方分配之 上下 百分率點。 的表自由度為 1 m 2 為分析初始資料的平均樣本變異數,亦即 S=i S m i 1 n __ 2 __ 2 S 2 ( x x ) ij i ,其中 Si2 j 1 n 1 樣本變異數。在這 為 i 第組樣本的 S2 裡 界 限。 管制圖是採用機率界限來求管制圖的上下管制 X 3.4.5 個別值 管制圖與移動全距 MR 管制圖 樣本由單一或個別觀察值所組成,而且各別值需服從常態 分配時,便可使用個別值 X 管制圖與移動全距管制圖。 個別值 X 管制圖的三倍標準差管制界限公式如下: UCLX ˆ 3ˆ X 3 CL X ˆ X (3.30) LCLX ˆ 3ˆ X 3 MR d2 MR d2 d2 d2 其中相對全距的平均數 值,從附表8中可查得n=2時 為隨樣本數n=2而變動的 =1.128。 移動全距 MR 下: 管制圖的三倍標準差管制界限公式如 UCLR D4 MR CLR MR LCL D3 MR (3.31) R D3 , D4 D3 D4 其中 從附表8中可查得n=2時, 為隨樣本數n=2而變動的值, =0, =3.267。 【例3.4】 考慮一化學混合物的製程,其黏著性的資料如下,因 為化學製程中的資料取得不易,故一個批次只能抽出一個 樣本,試根據表3.5建立個別值X管制圖與移動全距MR管制 圖。 【解】 MR2 X 2 X 1 75.20 70.10 5.10 MR3 X 3 X 2 74.40 75.20 0.80 m X X i 1 m i 1480 74 20 m MR MR i 35.07 1.846 m 1 19 i2 個別值X管制圖的三倍標準差管制界限: __ ___ __ ___ UCLX 3ˆ X 3 MR X 3 MR 74 2.66 1.846 78.91 d2 1.128 __ CLX ˆ X 74 __ ___ __ ___ LCLX 3ˆ X 3 MR X 3 MR 74 2.66 1.846 69.09 d2 1.128 移動全距MR管制圖的三倍標準差管制界限: ___ ___ UCLR D4 MR 3.267 MR 3.267 1.846 6.03 ___ CLR MR 1.846 ___ ___ LCLR D3 MR 0 MR 0 1.846 0 UCL=78.91 I ndividual Value 78 76 _ X=74 74 72 70 LCL=69.09 1 3 5 7 9 11 Observation 13 15 17 19 UCL=6.031 M oving R ange 6.0 4.5 3.0 __ MR=1.846 1.5 0.0 LCL=0 1 3 5 7 9 11 Observation 13 15 17 19 3.5 管制圖的判斷法則 針對製程的某一品質特性收集數據,將所 X 得資料繪於管制圖上,由 管制圖來判 定製程是否在管制狀態,管制圖用來監控 製程的平均數,R管制圖或S管制圖用來監 控製程的變異。 3.5.1 圖形判斷與解釋 如果製程在管制狀態下,則樣本點應該都落在管制界限內 且其分佈應該是隨機的。 既使沒有樣本點落在管制界限外,但樣本點的散佈呈 現系統性非隨機的型態,仍然判斷製程是失控狀態。 管制圖的樣本點的散佈型態可以幫助尋找可歸屬原因。 在判斷與解釋 管制圖的圖形,我們首先決定R管制圖 或S管制圖是否在管制狀態,若R管制圖或S管制圖呈現失 控狀態,則絕不可去解釋與判斷 管制圖的圖形。 X X 若 X 管制圖與R管制圖或S管制圖皆呈現有系統性變 化的非隨機型態,我們首先需要消除R管制圖或S管制 圖的可歸屬原因,這樣通常在很多情況亦會自動消除 X 管制圖的可歸屬原因。 若有下列情況發生,則製程可能已經失控(Out of Control) 循環(Cyclic):管制圖上樣本點的分佈跟時間點間 存在一定關聯。 趨勢(Trend):趨勢是朝一方向連續的變動。 混合(Mixture):樣本點分佈在管制界限附近,而 落在中心線附近的點很少。 層化(Stratification):樣本點皆落在中心線附近。 此時管制圖的圖形缺少自然的變異,這是由於管制界 限不正確的計算或抽樣時是從好幾個不同分配的母體 抽出。 製程水準的移動(Shift in Process Level):原因可 能是由於新員工的引進或方法、原料、工人的技術、 機器、檢查方法等的改變 。 3.5.2 西屋電子手冊法則 符合下列一項法則,就表示製程失控: 一樣本點落在三倍標準差管制界限外。 連續的3樣本點中有2樣本點落在二倍標準差警告界限 外,但仍在三倍標準差管制界限內。 連續的5樣本點中有4樣本點落在距中心線一倍標準差 外。 連續8樣本點落在中心線同一側。 這些決策法則僅適用於同時在中心線同一側的情形。因此, 若一樣本點落在上警告界限外,接著一樣本點落在下警告 界限外,並不表示製程失控。 連數原則 連續11樣本點中有10樣本點在中心線同一側 連續14樣本點中有12樣本點在中心線同一側 連續17樣本點中有14樣本點在中心線同一側 連續20樣本點中有16樣本點在中心線同一側 管制圖敏感法則的討論與探討 最基本的判斷法則就是有樣本點落在管制界限外,就 製程是失控狀態。 其他的法則則是用來增加管制圖的敏感度。 實務應用上,修華特管制圖的敏感度法則中有任一法 則或多個法則發生,就可判斷製程是失控狀態。 修華特管制圖的敏感度法則: 一樣本點或多樣本點落在三倍標準差管制界限外 連續的5樣本點中有4樣本點落在距中心線一倍標準差 外 連續的3樣本點中有2樣本點落在二倍標準差警告界限 外,但還在管制界限內 連續8樣本點落在中心線同一側 連續11樣本點中有10樣本點在中心線同一側 連續14樣本點中有12樣本點在中心線同一側 連續17樣本點中有14樣本點在中心線同一側 連續20樣本點中有16樣本點在中心線同一側 15樣本點落在中心線上下一倍標準差界限內 6樣本點連續上升或下降 連續8樣本點沒有任何一樣本點在中心線兩側的上下一 倍標準差界限內 連續14樣本點上下交替 資料出現任何有系統性變化的非隨機圖形的形態 一樣本點或多樣本點落在警告界限或管制界限附近 3.6 管制圖的偵查能力 3.6.1 作業特徵曲線 管制圖與R管制圖或S管制圖偵查製程偏移的能力 可以由作業特徵曲線(Operating-Characteristic Curve,簡稱OC曲線)來說明。 X 以 OC曲線來說明 X 管制圖的偵察能力: 品質特性X服從常態分配N(μ, 2 ),其樣本平均 數服從常態分配N(μ, )。 2 n 製程平均數從管制狀態 0 偏移 到 1 0 L ,則在第一次樣本 沒有偵查出製程偏移的機率β為 PLCL X UCL 1 0 L k L n k L n 假設我們使用k=3的三倍標準差管制界限的 X 管制圖, 樣本大小n=4,製程平均偏移 1 0 2 到 ,亦即L=2,則在第 一次樣本沒有偵查出製程偏移的機率為 k L n k L n 3 2 4 3 2 4 1 7 0.15866 0 0.15866 則在第一次樣本可偵查出製程偏移的機率為 1 1 0.15866 0.84134 管制圖的OC曲線的繪製圖,針對不同 樣本大小n,將要偵查製程偏移的大小以標 準差的倍數表示,並將此倍數當為橫座標, 其相對的機率β當為縱座標。 從圖3-12可以看出當樣本小為n=3,4,5等 小樣本數時, X 管制圖偵查小偏移(例如偏移大小 為小於1.5σ)的能力不是特別有效;但偵 查大偏移(例如偏移大小為1.5σ到2σ或 X 1.0 0.9 0.8 0.7 β 0.6 0.5 0.4 n=15 0.3 n=10 0.2 0.1 n=1 n=2 n=5 n=20 n=3 n=4 0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 L 圖3-12 三倍標準差管制界限的X 管制圖的作業特徵曲線, 其中 P LCL UCL 1 0 L 平均連串長度(Average Run Length ,ARL) 的意義是,在管制圖裡直到有樣本點落在 管制界限外所需要的平均樣本點數,其公 式為 r 1 1 ARL r (1 p) r 1 (3.33) p p p 1 ,在此 為任何樣本點 ARL0 製程在管制狀態下的平均連串長度 使用三倍標準差的 X 管制圖,其樣本點落在管制界 限外的機率是0.0027,因此平均連串長度 1 1 1 ARL0 370 p 0.0027 其表示平均每370個樣本點會有一個樣本點落在管制 界限外。 ARL1 製程在失控狀態下的平均連串長度 當製程平均數偏移1.5σ且樣本數n=5,製程是在失控 狀態,若使用三倍標準差的 X管制圖,從作業特徵 曲線圖(OC曲線)可查得樣本點落在管制界限外的機 率是p=0.5,因此平均連串長度 1 1 1 ARL1 2 p 1 0.5 ATS 平均警訊時間(Average Time to Signal) 直到管制圖出現第一個樣本點落在管制界限外的警 訊所需的平均時間。 若樣本在每h時間就抽樣一次,則平均警訊時間為 ATS ARL h (3.34) I 平均的個別單位數 若樣本大小為n,則 I 和ARL有下列關係 I ARL n (3.35) 3.7 製程能力分析 製程能力比(Process Capability Ratio,PCR)或製程能力 Cp 指標(Process Capahility Index) 的意義就是製 程的「規格界限」和「自然允差界限」之間的比值,即 USL LSL Cp 6 R ˆ 在實務上通常母體標準差σ是未知的,用 d2 來估計之 USL LSL Cp 6ˆ S或 c4 若一製程其 C p 1 ,這顯示製程的自 然允差界限(平均數加減三倍標準差)是在 規格界限之內,此時所產生不良品的數目 Cp 會相對的少。 製程能力指標 P( 1 )100% 也可做另一解釋,令 Cp 此值代表製程使用規格寬度的百分比。 Cp 1 LSL μ LNTL 3σ UNTL USL 3σ (a) Cp 圖3.13(a)說明製程能力指標 大於1, 表示製程使用了少於100%的規格寬度,其 結果製程所產生的不良品將較少,其製程 能力較好,可繼續保持。 Cp 1 μ LNTL LSL 3σ UNTL USL 3σ (b) 圖3.13(b)說明製程能力指標 C p 1 此時製程使 用了全部的規格寬度,若製程的品質特性服從常態分配, 製程平均數μ等於規格中心 USL LSL 2,而且製程是 在管制狀態,則在此情形下該製程所生產的產品有0.27% (2700ppm,每百萬個產品有2700個不良品)的不良率。 Cp 1 LNTL μ LSL 3σ USL UNTL 3σ (c) 圖3.13(c)說明製程能力指標 小於1, Cp 此時製程使用了超過100%的規格寬度,這 表示製程能力不好,此時該製程將生產出 大量的不良產品,該製程需要改進。