射线透照工艺

Download Report

Transcript 射线透照工艺

射线透照工艺
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
射线透照工艺

射线透照工艺是指为达到标准要求而对
射线透照过程规定的方法、程序、技术
参数和技术措施等。工艺条件是指透照
过程中的有关参变量及其组合。透照工
艺条件包括设备器材条件、透照几何条
件、工艺参数条件和工艺措施条件等。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
射线能量





射线源的选择
射线源的选择的首要因素是射线源所发出的
射线对被检试件具有足够的穿透力。
对X射线来说,穿透力取决于管电压。
对γ射线来说,穿透力取决于放射源的种类
X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用
较高管电压时,应保证适当的曝光量
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
不同材料、不同透照厚度允许采用的最高
X射线管电压


图中规定了不同材
料 不同透照厚度允
许的最高透照管电
压
1-铜及铜合金;2钢;3-钛及钛合金;
4-铝及铝合金
-
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
不同材料允许采用超过的
最高X射线管电压

但JB/T4730-2005也规定了对截面厚度变化大
的工件,在保证灵敏度要求的前提下,允许采
用超过图中规定的X射线管电压。对钢、铜及
铜合金管电压增量不应超过50kV;对钛及钛
合金管电压增量不应超过40kV;对铝及铝合
金管电压增量不应超过30kV。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
γ射线源和高能X射线适用的透照厚度范围
应符合表中的规定
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
γ射线源透照厚度下限值范围


采用源在内中心透照方式,在保证像质计灵敏
度达到要求的前提下,允许γ射线最小透照厚
度取表中下限值的二分之一。
采用其他透照方式,在采取有效补偿措施并保
证像质计灵敏度达到要求的前提下,经合同各
方同意,Ir-192源的最小透照厚度可降至
10mm, Se-75源的最小透照厚度可降至
5mm。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
射线能量的选择应考虑的
基本条件是

根据被照工件厚度,在射线能穿透工件的前提
下,尽量采用较低管电压和正确选择辐射源,
同时亦要考虑曝光时间,工作效率及X光机的
利用率等各方面因素,以得到较高灵敏度的底
片
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
射线源种类对缺陷检出率的影响


射线源种类对裂纹检出率有很大影响,试验和实践均
表明:x射线底片的对比度、清晰度、颗粒度均优于γ
射线底片。任一种γ射线源,即使是能量较低的Ir192、
Se75,在其最合适的厚度上应用,其照相灵敏度和成
像质量仍然不如x射线。因此,从提高射线照相灵敏
度和裂纹检出率的角度考虑,选择射线源应优先选x
射线机。
但由于条件限制,很多情况下射线照相只能采用γ射
线源,这时应在透照布置、透照器材选用、透照参数
选择、散射线屏蔽等方面采取措施,尽量提高照相灵
敏度,其中最有效措施之一是使用梯噪比等级更高的
胶片。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
焦距的选择




焦距对射线照相灵敏度的影响主要表现在几何
不清晰度上。
由公式: Ug=dfL2/(F- L2) 可知,焦距越大,
Ug值越小,底片上的影像越清晰。
为保证射线照相的清晰度,标准对透照距离的
最小值有限制。
JB/T4730-2005标准规定的透照距离L1与焦
点尺寸df和透照厚度L2应满足一定的要求。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
不同像质等级允许的透照距离L1
和 Ug值
透照距离L1
Ug值
A 级射线检测技术:
L1≥ 7.5d·L2 2/3
Ug ≤ 7.5d·L2 2/3
AB级射线检测技术:
L1≥ 10d·L2 2/3
Ug ≤ 7.5d·L2 2/3
B 级射线检测技术:
L1≥ 15d·L2 2/3
Ug ≤ 7.5d·L2 2/3

像质等级
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
L1---射线源至工件表面的最小距离;
 L2---胶片至工件表面的最大距离;
 d---射线源的有效焦点尺寸;
 F---射线源至D胶片距离(焦距 F= L1+ L2)
 射线源至工件表面的距离L1可按下列方式确定
a)可用公式计算确定
b)可根据各级别射线检测技术的诺模图来确定

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
确定源至工件表面的最小距离L1的诺模图
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
当采用源在内中心透照方式周向曝光时,而且
底片质量符合JB/T4730-2005标准的要求,
f 值可以减小,但减小值不应超过规定值的
50%。
 当采用源在内单壁透照方式时,而且底片质量
符合JB/T4730-2005标准的要求f 值可以减小,
但减小值不应超过规定值的20%。

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com



这样规定,是为了使人们在单壁透照和双壁透照两种透照方式之
间选择时,能尽可能多采用单壁透照;在源在内单壁透照和源在
外单壁透照之间选择时,能尽可能多采用源在内单壁透照方式。
单壁透照比双壁透照的灵敏度高得多,其灵敏度增量足以弥补f
值减小,几何不清晰度增大造成的灵敏度损失。
比较源在内单壁透照方式和源在外单壁透照方式,前者比后者有
更小的横向裂纹检出角或更大的一次透照长度,底片上的黑度也
更均匀。因此,将f值适量减小从而能选择源在内单壁透照方式
对照相灵敏度和缺陷检出是有利的。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
选择透照焦距时应考虑哪些因素
(1)焦距的选择应满足几何不清晰度的要求
(2)焦距的选择还应保证在满足透照厚度比K的条
件下,有足够大的一次透照长度L3,
(3)为减少因照射场内射线强度不均匀对照相质
量的影响,焦距取大一些为好。
(4)由于射线强度与距离平方成反比,焦距的增
加必然使曝光时间大大延长,因此焦距也不能
过大。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
曝光量



曝光量可定义为辐射强度和时间的乘积,对X射线来
说,曝光量是指管电流i与照射时间t的乘积(E=it),
对γ射线来说,曝光量是指放射源活度A与照射时间t
的乘积(E=At)。
曝光量是射线透照工艺中的一项重要参数。射线照相
影像的黑度取决于胶片感光乳剂吸收的射线量。如固
定各项透照条件,则可以通过改变曝光量来控制底片
黑度。
曝光量不只影响影像的黑度,也影响影像的对比度和
颗粒度以及信噪比,为保证射线照相质量,曝光量应
不低于某一最小值。主要是避免采用高kV短时间带来
的影响。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
曝光量的推荐值
采用X射线照相,当焦距为700mm时,
 曝光量的推荐值为:
A级和AB级射线检测技术不小于15mA·min;
B级射线检测技术不小于20mA·min。
 当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算。
以AB级为例:当焦距700mm时,曝光量应大于或等于15mA·min、
当焦距大于700mm时,曝光量应大于15mA·min、
当焦距小于700mm时,曝光量可小于或等于15mA·min、
焦距改变时按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。
例:当焦距为600mm时,按平方反比定律对曝光量进行换算后曝光量应
大于或等于11mA·min。
 采用γ射线源透照时, 总的曝光时间至少应不小于输送源往返所需时间的
10倍

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
利用曝光因子进行曝光量计算
利用曝光因子进行曝光量计算的依据
 互易律
互易律是光化反应的一条基本定律,它指出:
决定光化反应产物质量的条件,只与总的曝光量相关,
即取决于辐射强度和时间的乘积,而与这两个因素的
单独作用无关。

互易律可引伸为底片黑度只与总的曝光量相关,而
与辐射强度和时间分别作用无关。

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
平方反比定律



平方反比定律是指射线强度与距离的平方成反比的规
律,其数学式为
I2/I1=(F1/F2)2
其原理是:近似认为射源是一个点,在其照射方向上
的任意立体角内取任意垂直截面,单位时间内通过的
光量子总数是不变的,但是由于截面积与到射源的距
离的平方成正比,所以单位面积的光量子密度,即射
线强度与距离的平方成反比。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
曝光因子




曝光因子是一个用来确定曝光参数的物理量,其形式
为:
X射线曝光因子=[管电流]×[时间]/[距
离]2=mA·min/cm2,
γ射线曝光因子=[射源强度]×[时间]/[距
离]2=ci·min/cm2,
对同一台Χ射线机或同一个放射同位素来说,只要曝
光因子值不变,照相的曝光量也就不变,摄得底片黑
度必然相同。因此,对射线强度、时间和距离叁个参
数,如果实际透照时需要改变一个或两个参数,便可
用曝光因子计算其他参数,从而保证照相曝光量不变。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
例题:






焦距为1米时需要的曝光量为100毫安·分,若将焦距缩短到0.8米
时,需要的曝光量为多少?
解:I2=(F2/F1)2×I1=(0.8/1)2×100=64毫安·分
某工件射线照相的管电压为200KV,管电流为4mA,曝光时间
为4min,焦距为600mm,如焦距改为900mm,管电压不变,
欲保持原来的底片黑度,如何选用管电流和曝光时间?
解:已知:i1=4mA,t1=4min,F1=600mm,F2=900mm,求:
i2,t2
Ψ=i1t1/F12=i2t2/F22
i2t2=i1t1F22/F12=4×4×(900/600)2=36mA·min
答:焦距改为900mm后的曝光量是36mA·min。可选择管电
流为4mA,曝光时间为9min。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
透照某工件,用铅增感屏,当管电压250KV,
管电流5mA,曝光时间5min,焦距600mm时,
底片黑度2.0,现改管电流为6mA,焦距
800mm,其他条件不变,求曝光时间为多少
可以保持黑度不变?
 解:已知i1=5mA,t1=5min,f1=600mm,
i2=6mA,f2=800mm,求t2=?
 由曝光因子公式:i1t1/f12=i2t2/f22
得t2=7.4min

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com






透照某工件,采用铅增感,当焦距为600mm,管电流5mA,曝
光5min时,底片黑度为1.2;若焦距改为1200mm,管电流
10mA,底片黑度达到2.0,所需要的曝光时间为多少?(假定
底片黑度由1.2提高到2.0时,曝光量增加50%)
解:已知F1=600mm,F2=1200mm,I1=5mA,I2=10mA,
t1=5min,η=50%,求t2。
设E2为焦距改为1200mm且黑度仍为1.2的曝光量,
则E2=I1t1(F2/F1)2=5x5x(1200/600)2=100mA·min,
设E2’为黑度由1.2提高到2.0时的曝光量,
则有: E2’=E2(1+η)=150mA·min,t2=E2'/I2=150/10=15min
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com







采用铅箔增感透照工件,管电流5mA,焦距为
650mm,曝光时间为4分钟,底片黑度为1.5,
若管电流与管电压不变,焦距改为800mm,底片黑
度为2.5,问曝光时间应选几分钟?
(设使黑度由1.5提高到2.5时,曝光量应增加45%)
解:已知i1=5mA=i2,t1=4min,f1=650mm,
f2=800mm,求t2=?
由曝光因子公式:i1t1/f12=i2t2/f22 得t2=6.1 min
设T2’为黑度由1.5提高到2.5时的曝光时间,
则: T2’=T2(1+η)=8.8min
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
用一Ir192 γ源透照某工件,焦距500mm,曝
光12min可得到合格底片黑度,86天后
仍用该γ源透照同样的工件,焦距1000mm,
需曝光多少时间?
 解:n=86/75=1.15 A2/A1=(1/2)1.15=0.45
 t2=A1f22/A2f12×t1=1/0.45×(1000/500)2×12
= 106min
 答:86天后透照同一工件需曝光106min。

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com




离Ir192射线源0.5m处测得照射率为16R/h,在此处透
照板厚20mm,余高磨平的钢焊缝,若钢的半价层为
10mm,250mR的照射量可得适当黑度,则每张胶片
的曝光时间为多少?
解:I=I0×(1/2)n=16×(1/2)20/10=4R/h=66.6mR/min
E=IT T=E/I=250/66.6=3.75min
答:应曝光3.75min。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
从胶片特性曲线得知,某胶片在黑度为1.2时,相对曝
光量为2.08,黑度为2.0时相对曝光量为2.28,如黑度
为1.2时的曝光量为15mA·min,求黑度2.0所求曝光
量。
 解:已知:D1=1.2,D2=2.0,E1=15mA·min,
lgE1=2.08,lgE2=2.28,求:E2

曝光量修正系数
¢D=E2.0/E1.2=(10)2.28-2.08=100.20
E2.0=¢D·E1.2=(10)0.2×15=24mA·min
 答:黑度增至2.0时的曝光量为24mA·min。

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com

使用天津工业III型胶片,管电流和曝光时间的乘积为
15mA·min时,底片黑度为1.5,如果其他条件不变,
只改用天津工业V型胶片,则要用多大曝光量才能保
持底片黑度仍为1.5?(由胶片特性曲线查得黑度为
1.5时,III型和V型胶片对应的管电流和曝光时间的乘
积分别是200mA·sec和1000mA·sec)
解:已知III型E3=15mA·min,III型D3=1.5,
E30=200mA·sec,V型D5=1.5,E50=1000mA·sec,
求E5=?
E3/E5=E30/E50即
E5=E50E3/E30=1000x15/200=75mA·min
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
透照方式的选择和一次透照长度
的确定方法


应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜
的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁
透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用
双壁透照方式。
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心,
需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com





注:
(1)单壁透照最有利于发现缺陷,但并不是 最便
捷的透照方法。
(2)对《在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透
照方式》要有正确的理解,不能实施时主要针对工况
条件和检验检测单位的资源条件而言,不是指最佳的
透照方式。
(3)一次透照长度与检测技术级别有关。
(4)透照方式不能任意选取,在可以实施的情况下
应选用单壁透照方式。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
透照方法




透照方法分为:
直缝透照法:单壁透照法;双壁透照法
环缝透照法:单壁透照法---外壁透照法;内壁
透照法(中心法,偏心法)
双壁透照法---双壁单影(斜透法,直透法);
双壁双影 (斜透法,直透法)
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
透照方式的选择





选择透照方式时应综合考虑各方面的因素,需
考虑的因素主要有这几方面:
a)透照灵敏度;
b)缺陷检出特点:
c) 透照厚度差和横向裂纹检出角
d)一次透照长度
e)操作方便性
f)工件和设备条件的具体情况
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
一次透照长度的确定





一次透照长度是指焊缝射线照相中一次透照的有效长
度。
实际工作中一次透照长度的确定受两个方面因素的限
制:
一个是射线的有效照射场的范围;另一个是射线照
相标准的有关规定。
一次透照长度以透照厚度比K控制。
•不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透
照厚度比应符合表中的规定。整条环向对接焊接接头
所需的透照次数可参照JB/T4730-2005标准规定附录
B(资料性附录)的曲线图确定。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
各级别允许的透照厚度比K值
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com



由表可知,对纵向焊接接头和De≥400mm的环向焊接接头,
JB4730-2005标准与94版的K值要求没有变化,只有对
De≤400mm的容器或管子的环向焊接接头,允许的透照厚度比K
从1.1放宽至1.2。
K值放宽的理由是:①近年来研究表明,透照角度不是裂纹检出
最关键因素,也就是说,从理论上看,控制K值的重要性有所下
降(最关键因素:裂纹开口宽度);②国外标准或不考虑K值
(美ASME),或将K值放宽(欧EN143:5 1997: K,A级:
K≯1.2,B级:K≯1.1);③对De≤400mm的容器或管子,K =
1.1的一次透照长度太小,效率过低,成本过高。
不过,对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接
接头,如认为有必要,K值控制仍可从严,因为标准对K值用的
是“等于”或“小于”。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
直缝透照法的一次透照长度的
确定方法








∴ K=T′/T
对A级;AB级
K ≤ 1.03
L3≤0.5L1
对B级
K ≤ 1.01
L3≤0.3L1
搭接长度 ⊿L=L2L3/L1
当L3≤0.5L1时 ⊿L=0.5L2 ;
当L3≤0.3L1时 ⊿L=0.3L2 ;
底片的有效评定长度 Leff=L3+⊿L
实际透照时,如搭接标记按标准规定摆放在一次透照
长度区域的两端,则底片上搭接标记之间长度即为有
效评定长度。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
环缝透照法的一次透照长度的
确定方法






可根据各级别允许的透照厚度比K值查图确定环缝的
透照次数和一次透照长度。
实际透照时,如搭接标记按标准规定摆放在一次透照
长度区域的两端,则底片上搭接标记之间长度即为有
效评定长度。
例:P136页上例(2)
已知:K=1.1 L1=700mm D=1250mm
T=25mm
∴ T/D=25/1250=0.02 D/f=1250/700=1.79
查表得: 透照次数 N=14 L3=280.5 L3′=269.3
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
环缝透照法:
外壁单壁透照法
K≤ 1.1 时的透照次
数可
根据 T/D 和 D/f的
值,查表的方法
确定
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
环缝透照法:
其他透照方式
K≤ 1.1 时的透照次
数可
根据 T/D 和 D/f的值,
查表的方法确定
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
从保证探伤质量的角度比较各种
透照方式的优劣




从提高像质计灵敏度,减小透照比K和横向裂
纹检出角θ以及保证一次透照长度L3等方面评
价,几种透照方法优劣比较如下:
单壁透照优于双壁透照;
双壁单影优于双壁双影;
环缝单壁透照时,源在内中心法优于源在内偏
心法,源在内优于源在外。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
小径管环向对接焊接接头的
透照方式






小径管(D ≤ 100mm)采用双壁双影透照方式;
当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成
像:
a) T(壁厚)≤8mm;
b) g(焊缝宽度)≤Do /4
椭圆成像时,应控制影像的开口宽度(上下焊缝投影
最大间距)在1倍焊缝宽度左右。
不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照
方式重叠成像。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
小径管环向对接焊接接头的
透照次数




小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数:
采用倾斜透照椭圆成像时,
当T/ Do≤0.12时,相隔90°透照2次。
当T/ Do>0.12时,相隔120°或60°透照3次。
垂直透照重叠成像时,一般应相隔120°或60°透照3
次。
由于结构原因不能进行多次透照时,可采用椭圆成像
或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊
缝全长的100%检测,此时应采取有效措施扩大缺陷
可检出范围,并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满
足要求。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com


JB/T4730-2005标准对小径管环向对接焊接接
头的透照是采用倾斜透照方式椭圆成像还是垂
直透照方式重叠成像规定了具体的条件。
JB/T4730-2005标准和GB3323-87标准相比
有很大的差别。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com

注:(1)小径管的透照次数与管外径和壁厚
有关,与检测技术级别无关(2)规定小径管
的透照次数的主要目的是控制透照厚度比(3)
结构: 一般系指排管或盘管(4)为控制影像
的开口宽度应采用偏心距法(5)扩大缺陷可
检出范围的有效措施一般包括:双胶片技术、
适当提高管电压、窗口加滤波板(6)当Do
≤20mm、T≥ 8mm 、g >Do /4及重点检查根
部裂纹或未焊透时应采用垂直透照
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com

采用射线源水平位移的方法透照
焊缝宽度10mm,加强高2mm
的Φ38x4mm钢管对接环焊缝,
焦距为600mm,按规程要求在
底片上环焊缝椭圆成像的上下焊
缝间距为5mm,应如何确定射
源至焊缝中心的水平距离B?
解:已知f=600mm,a=40mm,
b=15mm,根据相似三角形原理:
B'/b=f/a 得到
B'=fb/a=600x15/40=225mm,
则:
B=B'-5-(10/2)=215mm,即先确
定焊道中心点对正射源中心,然
后保持焦距不变平移215毫米。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com





透照Φ51x3.5mm的小口径管对接环
焊缝,焊缝宽度10mm,要求椭圆
开口间距为5mm,使用焦距为
700mm,射线源的水平移动距离应
为多少?(水平移动距离=射线源至
焊缝边缘垂直线的距离,已知焊缝
单面加强高2mm)
解:已知
EF=700mm BC=51+2=53mm AB
=10+5=15mm 求平移量CD
由图可知
△FCD∽△ABC
则 FD:BC=CD:AB
FD= EF-BC
CD=(EF-BC)×AB/BC =(70053)×15/53=183.1mm
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
曝光曲线



曝光曲线的用途
曝光曲线用于选择曝光参数,以提高工效,保
证射线透照质量。
曝光曲线主要分为两种:曝光量和管电压随材
料厚度变化的曝光曲线,以及管电压随材料厚
度变化的曝光曲线
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com


曝光曲线是在机型、胶片、增感屏、焦距等条
件一定的前提下,通过改变曝光参数透照由不
同厚度的阶梯试块,根据给定冲洗条件处理出
的底片所达到的某一基准黑度,得到的kV、
mA、T三者之间关系的曲线。
对每台在用的射线设备均应做出经常检测材料
的曝光曲线,依据曝光曲线确定曝光参数。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、
焦距、射线能量等条件和底片应达到的
灵敏度、黑度等均应符合标准的规定。
 对使用中的曝光曲线,每年至少应校验
一次。射线设备更换重要部件或经较大
修理后应及时对曝光曲线进行校验或重
新制作。

中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
典型的X射线曝光曲线
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
典型的Ir-192 γ射线曝光曲线
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
材质改变时曝光参数的换算




要使某种材料的曝光曲线适用于其他材料的透照,可
利用射线透照等效系数进行厚度换算。
例:
220KV的X射线透照厚度32毫米钢件需要曝光量
30mAmin,可得黑度2.0,今用此曝光量透照铜板,其
他条件相同,已知铜对钢的等值系数为1.4,则可透照
多厚的铜板能得到相同黑度?
32/1.4=22.86mm
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com


220KV的X射线透照厚度32毫米钢件需要曝光
量30mAmin,可得黑度2.0,今透照同样厚度
的铜板,其他条件相同,已知铜对钢的等值系
数为1.4,则需要多大的曝光量能得到相同黑
度?
30x1.4=42mAmin
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
无用射线和散射线屏蔽




散射线的来源和分类
受射线照射的各种物体都会成为散射源,但强度最大,
对探伤质量影响最大的散射源是试件本身。
散射线一般按散射方向分类,来自胶片暗盒正面(射
源方向)的散射称作“前散射”或“正向散射”,来
自胶片暗盒后面的散射称作“背散射”
散乱射线将影响底片质量,使底片灰雾度增大甚至完
全模糊。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
常用控制散射线的方法

(1)使用铅箔增感屏,吸收部分前散射和背散射线。
(2)暗盒后衬铅板,进一步减少背散射。(3)使用铅罩
和铅光阑,限制照射范围,减少散射源。(4)采用铅
遮板或钡泥屏蔽试件边缘,减少“边蚀”效应。(5)
用流质吸收剂或金属粉未对形状不规则及厚度差较
大的试件进行厚度补偿,以减少较薄部分散射线对
较厚部分的影响。(6)采用滤板滤去射线中线质较软
的部分,减少“边蚀”效应。(7)减少或去除焊缝余
高,降低焊缝部位散射比。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com

JB/T4730-2005标准规定:

应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施,屏蔽散
射线和无用射线,限制照射场范围。
对初次制定的检测工艺或使用中检测工艺的条件、环境发生改变
时,应进行背散射防护检查。
检查背散射防护的方法是:在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一
般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行
透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”
字影像, 则说明背散射防护不够, 应增大背散射防护铅板的厚
度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度
的“B”字影像,则说明背散射防护符合要求。


中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
像质计的使用


像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的
一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝
应横跨焊缝,细丝置于外侧。
当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质
计应放置在透照区最边缘的焊缝处。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
像质计放置原则




a) 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计
放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧,也可放置在
胶片侧。
b) 单壁透照中,如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片
侧。
c) 单壁透照中像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验。对比
试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计,用与工件相同的
条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异,以
此修正应像质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。
d) 当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字
“F”作为标记, “F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在
底片上,且应在检测报告中注明。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com




原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光
完成多张胶片照相时,使用
的像质计数量允许减少但应符合以下要求:
a) 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时,
至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;
b) 一次曝光连续排列的多张胶片时,至少在第一张、
中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com


小径管可选用通用线型像质计或JB/T47302005附录F(规范性附录)规定的专用(等径
金属丝)像质计,金属丝应横跨焊缝放置。
底片上,在黑度均匀区(一般是邻近焊缝的母
材金属区)能够清晰地看到长度不小于10mm
的连续的金属丝影像时,则该丝认为是可识别
的。专用像质计至少应能识别二根金属丝。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
标记




透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺
寸的铅(或其他适宜的重金属)制数字、拼音字母和符号等构成。
识别标记一般包括:产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和
透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照
还应有扩大检测标记。
定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位
区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“↑→ ”
表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记,可用符号“↑”
或其他能显示搭接情况的方法表示。
标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位,搭接标记
放置的部位还应符合JB/T4730-2005附录C(规范性附录)的规
定。所有标记的影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影
像。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
编制无损检测工艺规程



无损检测工艺规程包括通用工艺规程和工艺卡。
无损检测通用工艺规程
无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品
标准、有关的技术文件和本部分的要求,并针
对检测机构的特点和检测能力进行编制。无损
检测通用工艺规程应涵盖本单位(制造、安装
或检测单位)产品的检测范围。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
无损检测通用工艺规程至少应
包括以下内容









a)适用范围; b)引用标准、法规
c)检测人员资格;d) 检测设备、器材和材料;
e) 检测表面制备; f) 检测时机;
g) 检测工艺和检测技术;
h) 检测结果的评定和质量等级分类;
i) 检测记录、报告和资料存档。
j) 编制(级别)、审核(级别)和批准人 ;
k) 制定日期
无损检测通用工艺规程的编制、审核及批准应符合相
关法规或标准的规定。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
无损检测工艺卡





实施无损检测的人员应按无损检测工艺卡进行操作。
无损检测工艺卡应根据无损检测通用工艺规程、产品
标准、有关的技术文件和本部分的要求编制,一般应
包括以下内容:
a) 工艺卡编号;
b) 产品名称,产品编号,制造、安装或检验编号,
锅炉、压力容器及压力管道的类别、规格尺寸、材料
牌号、材质、热处理状态及表面状态;
c) 检测设备与器材:设备种类、型号、规格尺寸、
检测附件和检测材料;
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com






d) 检测工艺参数:检测方法、检测比例、检测部位、
标准试块或标准试样(片);
e) 检测技术要求:执行标准和验收级别; f) 检测
程序;
g) 检测部位示意图;
h) 编制(级别)和审核(级别)人 ;
i) 制定日期
无损检测工艺卡的编制、审核应符合相关法规或标准
的规定。
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com
中国工业检验检测网
http://www.industryinspection.com