Transcript Laboratorios 2011

Cinvestav Unidad Querétaro
Infraestructura en
Laboratorios
Libramiento Norponiente No. 2000
Fracc. Real de Juriquilla, C.P. 76230
Querétaro, Qro., Tel. (442) 211-9900
www.qro.cinvestav.mx
Infraestructura de Laboratorios
Desde la formación de la Unidad se ha hecho un gran esfuerzo por
gestionar la adquisición de equipos para los Laboratorios gestionando
diversos tipos de recursos:
 Propios del Cinvestav
 Proyectos CONACyT.
 Proyectos de vinculación con la industria.
Hasta la fecha, estos esfuerzos nos ha llevado a contar con equipamiento
que permite satisfacer la mayoría de las necesidades de investigación a los
estudiantes de posgrado durante su trabajo de tesis. Estos equipos son
básicos para el desarrollo de las investigaciones y se encuentran
distribuidos de la siguiente manera.
Laboratorios
1. Propiedades Eléctricas.
2. Propiedades Estructurales y
Microscopía.
3. Propiedades Ópticas.
4. Crecimiento de peliculas delgadas II
y caracterización
5. Química de Materiales II
6. Crecimientos de Películas Delgadas
Semiconductoras.
7. Materiales optoelectronicos.
8. Procesamiento de Materiales
Orgánicos.
9. Recubrimientos.
10. Química de Materiales I.
11. Materiales Compuestos.
12. Películas ultradelgadas
13. Simulación.
14. XPS
Laboratorios
1. Propiedades de Transporte Térmico.
2. Propiedades Multifuncionales
Nanométricas
3. Investigación y Desarrollo
Tecnológico en Recubrimientos
Avanzados.
4. Cerámicos Multifuncionales.
5. Polvos metálicos.
6. Materiales Nanoestructurados y
Caracterización Electroquímica.
7. Polímeros y Biomateriales.
8. Energías Alternativas I.
9. Películas Delgadas y
Recubrimientos.
10. Propiedades Fisicoquímicas..
11. Procesamiento Químico de
Películas.
Laboratorio 1. Propiedades
Eléctricas
Medidores de Impedancias.
 Efecto HALL.
 Sistemas de depósito de metales.
 Analizador de semiconductores.
 Celda de mediciones ópticas.
Laboratorio 1. Propiedades
Eléctricas
Analizador de impedancia de precisión,
Analizador de componentes y circuitos,
Agilent 4294A con intervalo de Frecuencia
40 Hz a 110 MHz
Precisión de impedancia de +/- 0.08 %
Espectrómetro E4994A
Intervalo de frecuencia de 36 Hz a 1
MHz
Control de temperatura de -65 a 150 ºC
Evaporador de metales TE10P
Presión en vacío hasta 10-6 Torr
Control de temperatura hasta 900 ºC
Laboratorio 1. Propiedades
Eléctricas
Efecto HALL
 Campo Magnético de 1 Tesla.
 Enfriamiento interno.
Sistema de depósito de metales
 Presión de vacío de 30 mTorr.
 Atmósfera controlada con gas inerte.
Laboratorio 1. Propiedades
Eléctricas
AGILENT 4155C
Analizador de parámetros de
semiconductores
Resolución de 10 fA y 0.2 mV
Celda de Mediciones con corriente
eléctrica mediciones ópticas
PASCO SF-9585A
Usa un programa de LabVIEW
Control de temperatura de 380ºC
Laboratorio de Propiedades
Eléctricas
 Multímetro de alta definición HP 34401A
 Pico amperímetro KEITHLEY 485
 Osciloscopio GWINSTK GDS-84 OC
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopía
 Microscopio
de Fuerza Atómica.
 Microscopio Electrónico de
Barrido.
 Microscopio Óptico.
 Difracción de Rayos X.
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopia
MICROSCOPÍO DE FUERZA ATÓMICA
Microscopio con Nanoposicionador,
corrección de histéresis (CLOSELOOP) con 2
modos de operación convencional y no
convencional .
Modos de operación convencional:
 Contacto
 Contacto Intermitente (TAPPING)
Modos de operación No convencional:
 Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM)
 Microscopia de fuerza piezoeléctrica
Resonante
 Microscopia de fuerzas laterales
 Microscopia de fuerza Kelvin
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopia
MICROSCÓPIOS ÓPTICOS
Microscopio Óptico Olympus
con objetivos 5, 10, 50 y 100x
con cámara digital, software de adquisición
y análisis de imágenes.
Microscopio Óptico Olympus GX51 de platina
invertida con objetivos 5, 10 y 50x , cuenta con
cámara digital (Paxcam) y software de adquisición y
análisis de imágenes.
Microscopio Estereoscópico
Olympus SZ61 con cámara digital.
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopia
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X (Dmax2100) Marca Rigaku
CARACTERÍSTICAS
 Tubo Generador (XG) de Rayos X con un
rango de 20Kv-2mA hasta 40Kv-50mA y
target de Cobalto (Co), con un longitud de
onda de 1.7889Å (Kα1).
 Goniómetro RIGAKU ULTIMA+
de radio de 185mm.
 Rejillas de Divergencia a la salida del XG.
 Filtro de Hierro (Fe) para la atenuación de
la radiación de la linea Kβ en el Receiving
slit.
 No se cuenta con Monocromador.
 Detector de centelleo (Contador Geiger).
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopía
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X Modelo Ultima IV Marca Rigaku
CARÁCTERÍSTICAS
 Goniómetro con geometría vertical θ/θ con
un radio de 285 mm.
 Alineación completamente automatizada.
 Control independiente de los ejes θ s
(source) y θ d (detector).
 Velocidad de Barrido: 0.002°/min a 100°/min
de 2θ.
 Resolución: 0.0001°
 Tubo Generador de Rayos X de 2.0 kW de
Potencia y Target de Cobre (Kα1=1.5406 Å).
 Óptica Bragg-Brentano (polvos).
 Selección del tamaño del haz del : 2.0, 5.0,
10.0 mm.
 Soller Slits: 5.0° y 0.5º divergencia axial.
 Monocromador de Grafito.
 Detector de centelleo de alta eficiencia y
sensibilidad (0.5 cps) con
linealidad: 700,000 cps
Laboratorio 2. Propiedades
Estructurales y Microscopia
MICOSCOPÍO ELECTRÓNICO DE BARRIDO
Microscopio Phillips XL30 Ambiental (ESEM)
permite al usuario caracterizar de manera
superficial y morfológica una amplia gama de
materiales, cuenta además con un
Espectrómetro de Dispersión de Energía de
Rayos X (EDS).
 Excelente resolución 3 – 10 nm.
 Imágenes tridimesionales y con profundidad
de campo.
 Caracterización de muestras no conductoras
u orgánicas en estado nativo
 Obtención y determinación de composición
química elemental a partir del carbono (EDS).
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Espectroscopía RAMAN, UV-Vis, FTIR
y de Fluorescencia.
 Efecto HALL.
 Nanoindentación.
 Elipsometría.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
MICRO ESPECTRÓMETRO RAMAN
(Dilor modelo Lab. Raman II)
CARACTERÍSTICAS
Láser de Argón sintonizable a
488 y 514 nm con potencia 60
mW.
Permite realizar barridos
Espectrales desde 40x0 μm hasta
500 x 500 µm.
Aplicable a soluciones, polvos,
películas y gases.
Rango de temperaturas : -180ºC
a 250ºC.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
EFECTO HALL
ESCOPIA HMS-3000.
CARACTERÍSTICAS
 Corriente de entrada: 1nA-20
mA.
 Resistividad: 10-4 -10-7.
 Concentración: 107 – 1021.
 Movilidad: 1-107.
Densidad de flujo magnético:
0.27, 0.31, 0.37, 0.51 y 1.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
NANO INDENTADOR (Ubi 1 Hysitron, Inc .)
Determina: las propiedades mecánicas: dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura,
en bulk (bulto) y de algunas películas delgadas. Con las siguientes funciones:
Módulos mapping. Mapeo del modulo de elasticidad.
Nanoscihatch. Determina el coeficiente de fricción.
Nanowear. Determina el desgaste.
Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica, esquina cúbica (cube corner) y
knoop.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Elipsómetro Espectroscópico UVISEL (Horiba-Jobin Yvon, Inc.)
CARACERÍSTICAS
Sistema con modulación de fase.
 Intervalo espectral: 1.5 – 5.0 eV.
 Ángulo de incidencia variable: 45° 90°.
DETERMINA:
 Espesores: a partir de 1 nm hasta 3 m.
 Índices de refracción y coeficientes de
extinción.
 Función dieléctrica compleja.
 Ancho de banda prohibida.
 Transiciones electrónicas.
 Rugosidad superficial e interfacial.
 Composición.
 Cristalinidad.
APLICACIONES EN :
 Semiconductores.
 Aislantes.
 Cerámicos.
 Metálicos.
 Polímeros.
 Aleaciones.
 Óxidos metálicos.
Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
ESPECTRÓMETROS
 Espectrómetro
UV-Vis Perkin Elmer
Lambda II.
 Espectrómetro FTIR Nicolet Avatar 360.
 Espectrómetro de Fluorescencia.
Laboratorio 4. Crecimiento de
Películas delgadas II y caracterización
Laboratorio en acondicionamiento que albergara los
siguientes equipos:



2 sistemas de sublimación en espacio cercano
Cromatógrafo de gases marca Agilent
Espectrómetro de masas Intercovamex.
Laboratorio 5. Química de
Materiales II
Mediciones de
Viscosidad.
 Medición de punto de
fusión.
 Perfilometría.
 Análisis de gases
residuales.
Laboratorio 5. Química de Materiales II
Perfilometro Dektak II
 Para la determinación de
espesores de películas delgadas.
 Resolución de 100 Ǻ.
Espectrómetro de Masas Vac Check
 Permite la identificación de compuestos
por medio de la cuantificación de
especies ionizadas.
 Resolución hasta 200 uma.
Laboratorio 5. Química de Materiales II
Equipos varios:
 Sistema de Inmersión para
crecimiento de películas delgadas
por método sol-gel.
 Desionizador de agua.
 Balanzas analíticas.
 Campanas de extracción
 Muflas y estufas.
Laboratorio 6. Crecimiento de
Películas Delgadas Semiconductoras
 Depósito de películas delgadas (Rf-Sputtering).
Sistema de Epitaxia en fase Líquida (EFL).
 Horno de atmósfera inerte.
 CSC-Evaporador.
Laboratorio 6. Crecimiento de
Películas Delgadas Semiconductoras
SPUTTERING
 Crecimiento de películas delgadas por
erosión catódica)
Crecimientos desde T amb. hasta 600ºC
Vacío de 10-6 Torr
Desde T amb. hasta
200ºC
Vacío de 10-6 Torr.
Laboratorio 6. Crecimiento de
Películas Delgadas Semiconductoras
SISTEMA DE CRECIMIENTOS DE EPITAXIA EN FASE LIÍQUIDA
 Crecimiento de
películas cristalinas
de alta calidad
 Presión hasta 10-6
Torr
 Temperaturas hasta
900ºC
Laboratorio 6. Crecimiento de
Películas Delgadas Semiconductoras
CRECIMIENTO DE PELICULAS POR
SUBLIMACIÓN EN ESPACIO CERRADO.
 2 cámaras para crecimiento
 1 evaporador térmico
 Operación desde presión
atmosférica hasta 10-6 Torr
 Desde T amb hasta 650ºC
Laboratorio 6. Crecimiento de
Películas Delgadas Semiconductoras
Equipos varios
 Sistema de Inmersión para crecimiento de
películas delgadas método sol-gel.
 Prensa Hidráulica.
Con capacidad de 20 toneladas.
 Muflas y horno de tubo para tratamientos
térmicos.
Laboratorio 7. Materiales
Optoelectrónicos
Laboratorio en acondicionamiento que alojara los
siguientes equipos.




Potensiostatos
Bancos de pruebas de celdas de combustible
Sistema de Sputtering
Equipos periférico de caracterización eléctrica
Laboratorio 8. Procesamiento de
Materiales Orgánicos
EXTRUSOR DE ALIMENTOS
Extrusor
de
bajo
cizallamiento
(Cinvestav) Capacidad para 5 kg/h,
elaboración de
botanas de 2ª y 3ª
generación, alimentos para ganado y
modificación de almidones.
Extrusor
de
bajo
cizallamiento
(Cinvestav) Capacidad para 50 kg/h,
elaboración de alimentos para ganado,
modificación
de
almidones,
elaboración de harinas nixtamalizadas
por métodos ecológicos.
Laboratorio 8. Procesamiento de
Materiales Orgánicos
Molinos
 Molino de martillos
Pulvex.
 Molino ciclónico UDY.
 Molino de piedras.
Laboratorio 8. Procesamiento de
Materiales Orgánicos
Equipos utilizados para el procesamiento de cereales, almidones y maíz:
 Mezcladora amasadora.
 Secador Ciclónico.
 Máquina Tortilladora eléctrica y de extrusión con cocedores de infrarrojo.
 Perladora de granos.
 Equipo Rotap para determinación de distribución de tamaño
de partículas en harinas.
 Hornos y estufas de secado.
Laboratorios 9 y 10. Química de
Materiales I
 Depósito de películas y recubrimientos cerámicos por SolGel.
 Sistema de medición de potencial Z
 Microdurómetro.
 Hornos y muflas
Laboratorio 11. Materiales
Compuestos
 Prensa semiautomática.
Pulidora de 2 discos de diamante.
 Cortadora de disco de silicio.
 Pulidora de 1 disco.
 Cortadora de disco de diamante (automática y manual).
 Pulidora electrolítica.
Laboratorio 11. Materiales
Compuestos
Struers Labotom-3
Cortadora de disco de silicio
Para el corte manual de especímenes
metalográficos.
Struers Dap-7
Pulidora semiautomática de 1 disco
se utiliza para pulido acabado espejo, se usan
discos de paño de diferentes texturas en los cuales
también se ocupa alúmina y pasta de diamante con
granulometría de ¼ a 3 micras.
Struers Rotopol-25
Pulidora de 2 discos para probetas
metalográficas de velocidad
variable.
Laboratorio 11. Materiales
Compuestos
Struers Accutom-5
Cortadora de disco de diamante
Para cortes de precisión para la
preparación metalográfica de
muestras.
Cortadora de diamante
Para cortes de precisión y
para metales de alta dureza.
Struers Labopress-1
Prensa semiautomática
Para encapsular muestras
Struers LectroPol-5
Pulidora Electrolítica, se utiliza
para pulido, ataque químico de
metales y grabado de especimen
metalográficos.
Laboratorio 12. Películas
Ultradelgadas
Laboratorio en acondicionamiento
Los equipos que albergara son:


ALD (Atomic Layer Deposition)
Hornos de tratamientos térmicos en atmósferas controladas
Laboratorio 13. Simulación de
Procesos
COMPUTADORAS DE SIMULACIÓN DE PROCESOS Y SOFTWARE
DE SIMULACIÓN. (Procast, Flow, 3D, Inventor V 9)
Simulación de flujo de fluidos.
Modelado de procesos
termodinámicos, principalmente
de transferencia de calor
 Solidificación de metales
Laboratorios 14. XPS
ESPECTROSCOPIA POR FOTOELECTRONES EMITIDOS CON RAYOS X
(X-Ray Photoelectron Espectroscopy, XPS). Con software Thermo Avantage)
 Depósito
por Capas Atómicas
(Atomic Layer Deposition, ALD)
Horno tubular Thermolyne 7400
Campana de extracción para
realizar limpiezas químicas.
Software para análisis
(desarrollado en Cinvestav):
 AAnalyzer y XPSGeometry.
Laboratorios 14. XPS
SISTEMA DE ESPECTROCOPIA DE
FOTOELECTRÓNES DE RAYOS –X (XPS)
 Técnica para superficies, muy sensible y no destructiva.
Para analizar cualquier material sólido: semiconductores,
polímeros, zeolitas, cerámicos, etc.
 Proporciona información del estado químico de la
superficie de los primeros 10 nm de espesor, de todos los
elementos excepto para hidrógeno y helio.
 Compuesto por:
 Fuente monocromática de Al.
 Fuente dual de Al y Mg.
 Cámara de análisis en vacío ~6x10-10 Torr.
 Analizador de energía multi-detector hemisférico,

cuenta con 7 canales.
 Manipulador de 3 ejes de alta precisión.
 Bombas: mecánica, turbo, iónica y sublimadora.
 Sistema ininterrumpible de energía (UPS).
Laboratorios 14. XPS
ALD
(Atomic Layer Deposition)
Técnica que permite controlar el crecimiento
de películas delgadas a nivel atómico.
Este depósito por capas atómicas se basa en
la obtención secuencial de estados estables
y auto controlados en la superficie.
 La técnica utiliza reactivos secuenciados en
condiciones termodinámicas en las que
ocurre una saturación de la superficial entre
cada reactante y la superficie.
 Cada una de estas reacciones adiciona una
capa atómica sobre la superficie de
crecimiento.
 El sistema opera a presión ~1x10-3 Torr
Laboratorio 15. Propiedades de
Transporte Térmico
Ubicado en el Nuevo Edificio,
Edificio de Investigación B.
Técnicas Fototérmicas
 Espectroscopia Térmica.
 Espectroscopia Óptica.
 Espectroscopia Raman.
 Determinación de Conductividad
Térmica.
 Espectroscopia Fotoacústica.
Laboratorio 15. Propiedades de
Transporte Térmico
Espectroscopia óptica
 Estudio de la propiedades ópticas de
materiales.
 Espectroscopia óptica con celda fotoacústica.
 Espectroscopia óptica por reflectancia difusa.
 Espectrofotómetro de medición de color por
reflectancia.
Espectroscopia RAMAN
 Resolución de 0.15 cm-1.
 Puede usarse para espectroscopia de alta
resolución.
 Con láser de argón como fuente de
excitación.
Con un monocromador doble Spex-1403 con
rejillas holográficas de 1800 líneas/mm.
Laboratorio 15. Propiedades de
Transporte Térmico
Espectroscopia térmica.
 Para determinar propiedades térmicas de
materiales, principalmente cerámicos,
metales y estructuras complejas.
 Determina la difusividad térmica por
fotoacústica y detección fotopiroeléctrica.
 Espectroscopia fotoacústica con celda
abierta y celda cerrada.
 Resonador de ondas térmicas con control
de temperatura (hasta 150ºC).
 Espectroscopía de lente térmico.
Laboratorio 15. Propiedades de
Transporte Térmico
Flash Laser LFA 1000 Marca
Linseis.
Analizador para determinar propiedades
térmicas de materiales, principalmente
cerámicos,
metales
y
estructuras
complejas.
 Determina la difusividad térmica, calor
específico y conductividad térmica.
 Horno con control de temperatura
(hasta 1200ºC) y flujo de gases
especiales.
Laboratorio 15. Propiedades de
Transporte Térmico
Estación de trabajo
Radiant LC
Analizador de precisión para
determinar propiedades
dieléctricas y piezoeléctricas de
materiales ferroeléctricos.
 Realiza ciclos de hysteresis de
polarización, capacitancia,
corrientes de fuga etc.
Laboratorio 16 Propiedades
Multifuncionales Nanométricas.
Ubicado en el Nuevo
Edificio de Investigación.
 Microscopio de Fuerza
Atómica.
 Nanoindentador (Ubi 1
Hysitron, Inc .)
 Nanoindentador Fischer
Cripps.
Laboratorio 16. Propiedades
Multifuncionales Nanométricas.
Nanoindentador
(Ubi 1 Hysitron, Inc .)
Para determinar las propiedades mecánicas:
dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura, en
bulk (bulto) y de algunas películas delgadas.
Con las siguientes funciones:
Módulos mapping
mapeo del modulo de elasticidad.
Nanoscihatch
determina el coeficiente de fricción.
Nanowear
determina el desgaste.
Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica,
esquina cúbica (cube corner) y knoop.
Laboratorio 16. Propiedades
Multifuncionales Nanométricas.
Microscopio de Fuerza Atómica
Microscopio con Nanoposicionador,
corrección de histéresis (CLOSELOOP) con
2 modos de operación convencional y no
convencional .
Modos de operación convencional:
 Contacto
 Contacto Intermitente (TAPPING)
Modos de operación No convencional:
 Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM)
 Microscopia de fuerza piezoeléctrica
Resonante
 Microscopia de fuerzas laterales
 Microscopia de fuerza Kelvin
Laboratorio 17. Investigación y Desarrollo
Tecnológico en Recubrimientos Avanzados.
Ubicado en el Nuevo Edificio
de Investigación.
Laboratorio 18. Cerámicos
Multifuncionales.
Ubicado en el Nuevo Edificio
de Investigación.
Laboratorio 19. Polvos Metálicos.
Ubicado en el Nuevo Edificio
de Investigación.
Laboratorio 20. Materiales
Nanoestructurados y Caracterización
Electroquímica.
Acoustosizer ZIIS Colloidal Dynamics
Mediciones de tamaño de partícula
desde 20 nm hasta 20 micras
 Mediciones de potencia Zeta utilizando un
modelo acústico (modalidad dinámica, PH,
temperatura y punto isoeléctrico (IEP).
Con una celda de medición que permite
solventes polares y no polares.
Zeta Sizer Nano-S de MalverN Instrumen
 Mide tamaño de partícula con la técnica de
dispersión de luz (LDS).
 Intervalo de 1 nm a 6 micras.
 Puede medir suspensiones coloidales.
Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y
Caracterización Electroquímica.
Microindentador con punta Vickers de Buller
Mod. 1600,
Punta de diamante con geometría Vicker
Con cargas de 10 a 1000 gf
Salida para cámara fotográfica.
Volta Lab 80 marca Radiometer
Analytical Mod. PGZ402
Voltametría, cíclica y lineal,
Impedancia dinámica,
Mediciones de corrosión,
Medición por pulso, etc.
(Características del potenciómetro:
230 V y 47.5-63 Hz.)
Laboratorio 20. Materiales
Nanoestructurados y Caracterización
Electroquímica.
Sistema de depósito por inmersión
(DIP-Coating)
Velocidad variable
Utilizados para: Catalizadores en aire, aguas
y filtros y Sensores, etc.
Sonda Ultrasónica
De alta intensidad acoplado a una sonda
metaliza de 13 ml, se utiliza para la síntesis
de diversos materiales conocidos como
sonoquímica o síntesis por ultrasonido
Laboratorio 21 Polímeros y
Biomateriales.
En Proceso su traslado hacia el Edificio de
Investigación B
Reactor de polimerización.
Equipo análisis termodinámicos
Cromatografía de permeación en gel (GPC)
 Balanzas Analíticas
 Espectrómetro FTIR
 Microscopio ATR
Laboratorio 21 Polímeros y
Biomateriales.
Espectrofotómetro de Infrarrojo con
transformada de Fourier (FTIR)
Spectrum GX, Pekín Elmer.
Regiones de medición:
NIR: cercano infrarrojo de 1000 a 4000-1 cm
MIR: medio infrarrojo de 4000 a 400 cm-1
Tiene 4 técnicas:
 Transmisión: MIR y NIR
 Reflectancia totalmente atenuada (ATR)
con punta de diamante o ZnSe.
 Reflectancia especular MIR y NIR, con
polarizador de KRS-5 (Specac) para el MIR
Cuenta con Microscopio acoplado que se
utiliza en el MIR para análisis puntual de los
grupos funcionales de una superficie, realiza
mapas de color falso.
Laboratorio 21 Polímeros y
Biomateriales.
Cromatografo de tamaño de exclusión
(SEC)
Waters.
Para fases: acuosa y orgánica (THF) dos
lectores:
 Absorbancia dual X (waters 2487)
 Índice de refracción (waters 2410)
Intervalo de medición 3,900,000 – 1260
daltones.
Determina los pesos moleculares de
polímeros
Laboratorio 22. Energías Alternativas
I.
Ubicado en el Nuevo
Edificio de Investigación.
Laboratorio 23. Películas Delgadas y
Recubrimientos
 Sputtering DC pulsada y
polarizada
Depósitos por erosión catódica.
Laboratorio 23 Películas Delgadas y
Recubrimientos
 DC-Sputtering.
Equipo de análisis
térmico DSC (TGA).
Laboratorio 23 Películas Delgadas y
Recubrimientos
Sputtering V3
Intercovamex
Para realizar depósitos por
erosión catódica.
Depósito por radiofrecuencia, DC
pulsada y polarizada.
Recubrimientos duros y ternarios
en memorias ópticas, materiales
semiconductores, etc.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Viscosímetro
Calorímetro Diferencial
de Barrido (DSC).
 Colorímetro.
 Texturómetro.
 Medidor de Actividad de Agua.
 Fluorómetro.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Texturómetro
Texture Analyzer TA-XT2
Características:
Carga Máxima: 25Kg.
Resolución: 1g.
 Modos de medición de fuerza y
distancia
 a la tensión o compresión.
 Con estándares de análisis de
textura incluyendo adhesividad,
ciclos de fatiga y relajación a la
tensión.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Viscosímetro
Rapid visco analyzer (RVA4)
Principal uso: alimentos, cereales y almidones.
Para métodos estándar aprobados en
USA (AACC), Europa (ICC) y Australasia (RACI).
 Rango de Temperatura : 0 - 99.9ºC.
 Precisión de la Temperatura: +/- 0.3°C
 Intervalo de Velocidad: 10-2,000 rpm.
 Intervalo de Viscosidad: 50-50,000 cP a 80 rpm.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Calorímetro Diferencial de Barrido
(DSC) Mettler Toledo 822E.
Determina propiedades para:
 Comportamiento en la fusión.
 Transiciones vítreas.
 Cristalización.
 Estabilidad en la oxidación.
Calor específico.
Características:
Celda de medida con sensor de cerámica.
Sistema de refrigeración por aire.
Intervalo de temperatura:
desde ambiente hasta 700 °C.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Fluorómetro VICAM4
Se usa para el análisis de
micotoxinas
 Base para pruebas de
diagnóstico rápido USDA-y
AOAC- para las micotoxinas y
patógenos de los alimentos.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Colorímetro
Hunterlab – Mini Scan® XE Plus.
 Espectrofotómetro de medición de color por
reflectancia portátil.
 Geometría de 45º/0º.
 Se pueden medir fácilmente muestras
pequeñas, grandes, lisas o texturizadas.
 Incluye todas las escalas de colores índice
tales como CIE XYZ, Hunter Lab, CIE
L*a*b*, L*c h, Yxy, etc.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
Equipo de cocimiento Ohmico
 Básicamente es un DSC eléctrico para el análisis
térmico y la determinación de cambios de fase,
estructura y otras propiedades.
 Mide el grado y temperatura de gelatinización de
almidones de cereales y otros granos, pero se
puede extender su aplicación a otros materiales
bio-orgánicos o inorgánicos conductores de la
electricidad.
 Patentado por Cinvestav, utiliza las propiedades
de conductividad eléctrica del almidón nativo,
almidones modificados, cereales, almidón de
tubérculos y el agua.
 El método puede ser usado con cereales sin
cocer, o almidones gelatinizados, en forma de
grano entero, molido y harinas.
Laboratorio 24. Propiedades
Fisicoquímicas
OTROS EQUIPOS:
Medidor de actividad de agua (Aw), AQUALAB, CX2.
Equipo Soxhlet de 6 plazas.
 Centrífuga Labnet con rotor Hermes Z 200 A .
 Potenciómetro (pH-ISE-Conductivity Meter)
Denver Instrument Mod. 250.
 Analizador de gases; O2/CO2 Analyzer Mca
NITEC.
 Balanzas analíticas.
 Mufla FE-340 (25 a 1100ºC) Mca. Felisa.
 Baño María (con agitación).
Laboratorio 25. Procesamiento
Químico de Películas.
Ubicado en el Nuevo
Edificio de Investigación.