Transcript AFM mikroskopie - Vysoké učení technické v Brně
Vysoké učení technické v Brně
Laboratoře – Ústav fyziky – Fakulta stavební
AFM MIKROSKOPIE
2010
Aplikace: Povrchy pevných látek Nanotechnologie Vodivé i nevodivé materiály Analýza: Chemická analýza (identifikace) Katalické procesy Konstrukce nanostruktur Částic
AFM - ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Optické prvky jsou uzpůsobené vlnové délce laseru: Zdroj MZ Cantilever Tip Fotodetektor Soustava zrcadel
PRVKY AFM MIKROSKOPU
Osvětlení: Bodový zdroj světla (laserový paprsek fokusovaný na Cantilever) Odraz a detekce: Dle zákonu odrazu dopadá na fotodetektor, kde se dá z místa dopadu svazku určit velikost ohnutí Cantileveru Zobrazení a bezkontaktní princip: Zvětšený obraz povrchu vzorku se sestavuje z různého ohnutí Cantileveru v různých místech. Bezkontakní princip je založen na využití Van der Walesových sil a elektrost. sil
PRINCIP AFM MIKROSKOPU
AFM ROZLIŠENÍ
Závislé na: – poloměru křivosti špičky hrotu (cca. 5 nm), – velikosti obrazu (1 x 1 μm, 512 x 512 měřících bodů).
V tomto případě rozlišení 2 nm.
Zvětšení snímané plochy – pokles rozlišení Zmenšení snímané plochy – rozlišení se nezvětší ( ~ poloměr křivosti špičky hrotu) Obecně lze využít rozlišení stovky mikrometrů až nanometry (lze pozorovat periodickou strukturu atomové mříže, jednotlivé atomy zobrazit nelze) V r. 2004 bylo s použitím DFM dosaženo zatím největšího rozlišení 77 pikometrů (77×10 −12 m). V tomto rozlišení je možné rozeznat struktury uvnitř jednotlivých atomů
HISTORIE AFM
• Ve 30. letech minulého století byl sestaven první elektronový mikroskop (v Německu inženýry Ernstem Ruskou a Maxem Knollem). Klíčové zde bylo využití de Broglieho popisu vlnové povahy toku elektronů a elektrostatických a elektromagnetických čoček. Šlo o tzv. transmisní elektronový mikroskop (TEM), který měří míru rozptylu elektronového paprsku po průchodu tenkou vrstvou zkoumaného vzorku. • Roku 1981 Gerd Binning a Heinrich Rohrer vynalézají řádkovací tunelovací mikroskop (scanning STM). Jde o první řádkovací mikroskop za použití sondy. • Objev STM vedl k sestrojení mikroskopu atomárních sil (AFM). V roce 1989 výzkumník Don Eigler z IBM objevil, že za určitých podmínek sonda STM přitahuje atom na povrchu krystalové mřížky a může s ní pohybovat po tomto povrchu (Van der Waalsovu sílu). Rozvoj vedl ke zkracování vykreslovací doby (až k vykreslování v reálném čase, videoAFM), ke zvětšování rozlišovací schopnosti (až ke zkoumání orbitalu ohmatáním sondou AFM) a umožnil mnohé praktické aplikace.
SROVNÁNÍ S OPTICKOU A ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ
Výhody AFM:
Ve srovnání s optickou mikroskopií dosahuje značně většího rozlišení, které je srovnatelné s rozlišením elektronové mikroskopie.
AFM však poskytuje trojrozměrný obraz, kdežto elektronová mikroskopie dvojrozměrnou projekci. AFM zpravidla nevyžaduje, aby se vzorek speciálně připravoval (např. pokovením) ani nevyžaduje vysoké vakuum.
AFM může dokonce pracovat v kapalném prostředí, což je výhodné především pro studium biologických vzorků, které mohou být při zobrazování ve svém fyziologickém prostředí a lze v některých případech sledovat jejich funkci nebo reakci na změnu prostředí (změna pH, teploty, chemického složení).
Mikroskopie se dostává až na hranici pikometrové oblasti
SROVNÁNÍ S OPTICKOU A ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ
Nevýhody AFM:
AFM může zobrazovat pouze povrch vzorků, nikoliv jejich objemovou strukturu (vzorek vyžaduje fixaci, nemůže například plavat v roztoku).
Nevýhodou AFM je velmi omezený rozsah velikosti obrázku a pomalost snímání. Maximální velikost obrazu bývá řádově stovky mikrometrů a sestavení jednoho obrazu trvá řádově minuty. Nevýhodou AFM mikroskopu je malý rozměr skenovaných vzorků jen 100 μm ×100 μm (vertikální rozsah - maximální výška vzorku řádově desítky mikrometrů).
Problémy způsobuje také blízkost hrotu a vzorku (silná interakce, možnost zachycení hrotu, znečištění hrotu, poškození vzorku) a nenulová šířka hrotu, která vede k deformaci obrazu.
SROVNÁVACÍ SNÍMKY
AFM mikroskop