Transcript Data busに 断線箇所を発見

Report on the CERN
11/10 ~ 11/28
2007/12/3, Local Lab meeting
Yu Maruyama
Outline
滞在の目的
滞在の概要
広島で起きた問題について
テストベンチの動作確認
まとめ
3/12/2007
Local lab meeting
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滞在の目的
広島で起きたテストベンチの問題点の修復。
テストベンチが正常に動作する状態で広島
に持って帰る。
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Local lab meeting
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Test Bench Overview
APD:Avalanche Photo Diode
CSP:Charge Sensitive Preamplifier
IPCB:Inter Printed Circuit Board
FEE:Front end electronics
Altro:Alice TPC Readout
RCU:Readout Control Unit
DCS:Detector Control System
SIU:Source InterfaceUnit
DDL:Detector Data Link
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Local lab meeting
D-RORC:DAQ
ReadOut Receiver Card
2007/5/17
Local Meeting/Kenta Mizoguchi
4
4
滞在の概要
テストベンチに問題が起きた原因の箇所を
特定し、修復を行った。
修復した上で、 APDにかかるHVをFEE
card上でチェックし、その後、FEE cardにシ
グナルを入れて、テストベンチの動作確認
を行った。
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2007/11/15
Local lab meeting
ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
5
5
広島で起きた問題とは？
（Data takingをするときに設定したsample
数と）raw dataファイル内に書かれている
sample数の情報と、実際にファイル内にあ
るsample数が一致していなかった。
測定されたADCの値の中で、４個に一個
の割合で非常に大きい値を持ったものが
あった。
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Local lab meeting
ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
6
6
Data Structure (PHOS only)
run100.raw
RUN Header
Event 1
Event 1
Event Header
ALTRO ch1
Event 3
ALTRO ch2
ALTRO ch3
ALTRO ch4
10bit ADC sample 2
10bit ADC sample N
20bit Other Trailer
N’
Trailer
…
…
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10bit ADC sample 1
…
Event 2
ALTRO ch1
Local lab meeting
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Test-Bench at Hiroshima
ALTRO ch1
正しいフォーマット： N = N’
10bit ADC sample 1
10bit ADC sample 2
…
10bit ADC sample N
問題点： N != N’
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Local lab meeting
20bit Other Trailer
N’
Trailer
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Data format
Trailer情報
Recorded
Word count
設定した
Sample数 sample数（N）
（N’+2）
Other Trailer情報
Nword
TS
115
36
39
102
114
85
6
9
8
84
147
68
71
70
146
115
115
117
117
114
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Local lab meeting
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広島で起きた問題について
行った方法
- 広島のTest-bench（問題あり）の各パーツと
CERNにあるTest-bench（正常に動く）の各パー
ツを交換していき、問題のある箇所を特定した。
テストベンチの各パーツ
- FEE card, GTL bus, RCU, DDL, D-RORC,
Hard disk(CERN DAQ), FEEとRCUの電源ケー
ブル
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Local lab meeting
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広島で起きた問題の再現
CERNのテストベンチの全ての部品を広島
から持ってきたものと交換しても、問題を
再現できなかった。
ある時点（テストベンチは全て広島の部
品）でデータを取ると広島で起きたのと同じ
問題が起こった！
- このとき問題が起きなかった時と同じセットアッ
プを組んでいる。広島のテストベンチの中で前と
は違う何かが変わったはず・・・。
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Local lab meeting
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広島で起きた問題の再現
ここで、広島とCERNのテストベンチのどの
部品を使ったときに問題が起こったか、起
こらなかったかのテーブルを作った。
そうすると、GTL busだけが問題が起こった
ときと相関を持つことが分かった。
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Local lab meeting
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広島で起きた問題の再現
テーブル
・
・
・
RCU RCU LV
DATE
Sampl
e
Script
N=N’
日時/場
所
FEE
FEE LV
GTL
16, CERN
Hiro
CERN
CERN
CERN
CERN
CERN
115
Hiro
○
16, CERN
Hiro
Hiro
Hiro
Hiro
CERN
CERN
115
Hiro
×
16, CERN
Hiro
Hiro
CERN
CERN
CERN
CERN
115
Hiro
○
16, CERN
Hiro
Hiro
CERN
Hiro
CERN
CERN
115
Hiro
○
16, CERN
Hiro
Hiro
Hiro
CERN
CERN
CERN
115
Hiro
×
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Local lab meeting
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問題が起こった箇所の発見
よって、GTL busを詳しく調べた。
- テスターで導通をチェック。
→１箇所の断線箇所を発見！！
GTL bus
Data busに
断線箇所を発見
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問題が起こった箇所の発見
断線箇所にバイパスを作って、データを取っ
てみると、問題は起こらなくなった。
断線箇所
断線箇所に
バイパスを作った
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Local lab meeting
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問題が起こった箇所の発見
GTL busを軽く折り曲げると、断線箇所の
抵抗値が大きくなった。
以上より、CERNに来て最初の方はGTL
busは断線していなかったが、ある時点で
断線したと思われる。GTL busの導通は不
安定であり、広島でも同様の原因で問題
が起こったと思われる。
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Local lab meeting
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GTL busの修理
GTL busの代えがなかったので、GTL busの
断線部分にはんだを流し込んでGTL busの
修復をした。
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滞在の概要
OK! テストベンチに問題が起きた原因の箇所を
特定し、修復を行った。
修復した上で、 APDにかかるHVをFEE
card上でチェックし、その後、FEE cardにシ
グナルを入れて、テストベンチの動作確認
を行った。
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ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
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残っていること
 FEEの動作確認
① シグナルを入れてRaw formatでのデータを
確認する。
② シグナルを入れてRoot formatでのデータを
確認する。
③ APDにかかるHVのチェック。
④ CSP出力シグナルを入れてデータを確認す
る。
→続きは来週
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Local lab meeting
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GTL bus 断線箇所
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