Transcript 单晶少子寿命测试
单晶少数载流子寿命测试 实验目的 实验原理 仪器介绍 实验内容 思考练习 上一页 下一页 主目录 返 回 1.实验目的 理解单晶少数载流子寿命的测试原理; 掌握单晶少数载流子寿命的测试方法。 上一页 下一页 主目录 返 回 2.实验原理 • 高频源提供的高频电流流经被测样品, 当红外光源的脉冲光照射样品时,单晶 体内即产生非平衡光生载流子,使样品 产生附加光电导,样品电阻下降。 • 由于高频源为恒压输出,因此,流过样 品的高频电流幅值,此时增加ΔI。 • 光照消失后,ΔI便逐渐衰退,其衰退速 度取决于光生非平衡载流子在晶体内存 在的平均时间(即寿命τ)。 上一页 下一页 主目录 返 回 • 在小注入条件下,样品光照内复合 是主要因素。 • ΔI将按指数规律衰减,在取样器上 产生的电压变化ΔV,也按同样的规 律变化。 上一页 下一页 主目录 返 回 • 仪器的工作原理简化方框图 上一页 下一页 主目录 返 回 • 此调幅高频信号经 检波器解调和高频 滤波,再经宽频放 大器放大后输入到 脉冲示波器,在示 波器上就显示出一 条如右图所示的指 数衰减曲线,衰减 的时间常数τ就是欲 测的寿命值。 上一页 下一页 主目录 返 回 3.仪器介绍 • LT-2型单晶寿命测试仪 上一页 下一页 主目录 返 回 前面板说明 上一页 下一页 主目录 返 回 后面板说明 上一页 下一页 主目录 返 回 主机承片台:样品的承片台位于主机箱顶盖中央, 由两个电极和红外光透光孔组成,测试时将样品 置于两电极和红外光透光孔上。 上一页 下一页 主目录 返 回 4.实验内容 • 测试时将样品置于主机顶盖的样品 承片台上,通过调节示波器同步电 平及释抑时间内同步示波器,使仪 器输出的指数衰减光电导信号波形 稳定下来,然后在示波器上观察和 计算样品寿命读数。 上一页 下一页 主目录 返 回 • (1)接上电源线以及用高频连接线将 CZ 与示波器 Y 输入端接通,开启主机及 示波器,预热15分钟。在没放样品的情 况下,可调节W2使检波电压为零。 • (2)在电极上涂抹一点自来水(注意:涂 水不可过多,以免水流入光照孔),然 后将清洁处理后的样品置于电极上面, 此时检波电压表将会显示检波电压。如 样品很轻,可在单晶上端压上重物,以 改善接触。 上一页 下一页 主目录 返 回 • (3)按下K接通红外发光管工作电 源,旋转W1,适当调高电压。 • (4)调整示波器电平及释抑时间内 同步,Y轴衰减X轴扫描速度及曲线 的上下左右位置,使仪器输出的指 数衰减光电导信号波形稳定下来, 并与屏幕的标准指数曲线尽量吻合。 • (5)关机时,要先把开关K按起。 上一页 下一页 主目录 返 回 5.思考练习 • 1、为什么要在样品上涂抹少量自来 水? • 2、在实际工艺中如何延长少子寿命? 上一页 下一页 主目录 返 回