Transcript 黑棒碰觸腳

P4-24 表4-17
電晶體的外觀識別
包裝
方式
TO-92
TO-92L TO-106
TO-18
TO-220 TO-3
DIP
外觀
適
用
性
小功率
中功率
大功率
用於積
體電路
的表面
黏著技
術
(SMT)
P4-24 表4-18
電晶體的編號識別--美系
1N
一個PN接面
二極體
2N
二個PN接面
三極體
3N
三個PN接面
四極體
P4-24 表4-19
電晶體的編號識別—日系
2
S
1：二極體 半導體
2：三極體
3：四極體
D
A：高頻PNP
B：低頻PNP
C：高頻NPN
D：低頻NPN
F：P閘極SCR
G：N閘極
SCR(PUT)
H：UJT
J：P通道JFET
K：N通道JFET
M：雙向
SCR(TRIAC)
386
電晶體
序號
A
改良序號
P4-26 圖4-27
圖4-28
電晶體腳位判斷
正立圖腳位
倒立圖腳位
P4-26 表4-20
電晶體的測量
測量
腳位
次
數
測棒位置
黑棒 紅棒
圖示
次 測棒位置
數 黑棒 紅棒
對、 第
腳測量
1
次


第
2
次


對、 第
3
腳測量
次


第
4
次


對、 第
5
腳測量
次


第
6
次


圖示
P4-27 表4-21
表4-22
電晶體的測量
第1 次、第3 次的測量產生大偏轉(ON)
第1次
第3次
共同腳
共同腳的測棒
結論
黑棒 紅棒
黑棒 紅棒

黑棒


此為NPN 電
晶體基極
(B)在第腳


為基極(B) 為P端
第3 次、第5 次的測量產生大偏轉(ON)
第3次
第5次
共同腳
共同腳的測棒
結論
黑棒 紅棒
黑棒 紅棒

黑棒


此為NPN 電
晶體基極
(B)在第腳


為基極(B) 為P端
P4-27 表4-23
黑棒碰觸腳
黑棒碰觸腳
能使三用電表的指針產生偏轉(崩潰) 三用電表的指針無法偏轉的腳位即為
的腳位即為E，故腳為射極(E) (因 C，故腳為集極(C)(因BJT 的C 極
BJT 的E 極摻雜濃度高，故R×10k 檔 摻雜濃度低，故逆向崩潰電壓高)
內的12V 電壓，即可造成電晶體的射
極逆向崩潰導電)
註1：電晶體PNP 型的C、E 判別測量方式與表4-23 步驟相同，只是其紅棒與黑
棒正好相反。
註2：功率電晶體為了能耐高壓，其摻雜濃度較低，故無法以此方法檢測。
P4-28 表4-24
假設腳為C、腳為E，黑棒(正壓)碰
觸腳、紅棒(負壓)碰觸腳
假設腳為C、 腳為E，黑棒(正壓)碰
觸腳、紅棒(負壓)碰觸腳
手指碰觸、
手指碰觸、
實體元件測量方式
實際等效電路
三用電表的指針產生大偏轉(故假設正確
)，所以黑棒腳位為C，紅棒腳位為E，
故腳為集極(C)，腳為射極(E)
實體元件測量方式
實際等效電路
三用電表的指針產生極小偏轉或不偏轉
(故假設錯誤)
※手指一定要碰觸基極(B)與所假設為C的腳位，因為電晶體的偏壓電阻RB是加在
B極與C極兩端。
P4-28 表4-25
假設腳為C、腳為E，紅棒(負壓)碰
觸腳、黑棒(正壓)碰觸腳
假設腳為C、 腳為E，紅棒(負壓)碰
觸腳、黑棒(正壓)碰觸腳
手指碰觸、
手指碰觸、
實體元件測量方式
實際等效電路
三用電表的指針產生大偏轉(故假設正確
)，所以黑棒腳位為E ，紅棒腳位為C ，
故腳為集極(C)，腳為射極(E)
實體元件測量方式
實際等效電路
三用電表的指針產生極小偏轉或不偏轉
(故假設錯誤)
※手指一定要碰觸基極(B)與所假設為C的腳位，因為電晶體的偏壓電阻RB是加在
B極與C極兩端。
P4-29 表4-26
電晶體電流增益(hFE )的測量
範例元件
正確接法
錯誤接法
指針偏轉大，由面板 指針偏轉極小(或不偏轉
的
刻度上， )
即可直接讀取hFE
的數值
P4-29 表4-27
電晶體電流增益(hFE )的測量
NPN
步驟2：輔助測棒插入三用電表的
負(－) 端，輔助紅棒碰觸C
腳、輔助黑棒碰觸B 腳。
步驟3：另取一條紅棒插入三用電
表的正(+)端，並且碰觸E
腳由面板的刻度
上，即可讀取
hFE 的數值。
PNP
步驟2：輔助測棒插入三用電表的正
(+) 端，輔助紅棒碰觸C 腳
、輔助黑棒碰觸B 腳。
步驟3：另取一條黑棒插入三用電表
的負(－)端，並且碰觸E 腳
由面板的刻度
上，即可讀取
hFE 的數值。
P4-30
輔助測棒的認識
輔助測棒的外觀
輔助測棒的內部結構
P4-30 圖4-29
圖 4-30
電晶體輸入V-I 特性曲線測量
各點電壓－電流之測量
V－ I 特性曲線
P4-31
歐利效應(Early effect)
圖(a)
圖(b)
P4-31
歐利效應(Early effect)
圖(c)
圖(d)
P4-32 圖4-31
圖 4-32
電晶體輸出V-I 特性曲線測量—點描法
各點電壓－電流之測量
V－ I 特性曲線
P4-32 圖4-33
圖 4-34
電晶體輸出V-I 特性曲線測量—X-Y 模式測量法
V－ I 特性曲線
各點電壓－電流之測量