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證書號：I284849 申請人：鴻海精密工業股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 臺北縣土城市自由街2號 發明人：段修明 DUAN, XIU-MING ;羅才洋 LUO, CHI-YANG; 胡高鵬 HU, GAO-PENG 申請日：2002/10/04 申請號：091122976 報告者：張凱翔 M9890229 引言 隨著科技的發展，無形資產在企業營運中的地位越來越重要，關於無 形資產的評估、移轉及授權等活動越來越頻繁，這就需要提供一種無 形資產的量化標準。專利指標即是量化指標中的一種，如美國CHI Research公司所提出的CHI專利指標。這些專利指標大都用於評價某 家公司的所有專利或該公司在某技術領域內所有專利的價值。對於某 些大公司或集團型公司，其專利數量可觀，且其涉及的專利權人名稱 繁多，要正確地計算公司的專利指標值，實非易事。 CHI Research公司網站上提供了專利指標值的計算，其提供之專利指 標值是藉由搜索其資料庫對相關資料統計計算而得。用戶所看到的僅 僅為最終結果值，無從得知其所根據之資料範圍是否準確，尤其是計 算集團型公司的專利指標值時，得到的結果很可能只是統計了其中某 一或某幾個子公司的資料，而非統計該集團所有子公司的資料。 引言 美國專利商標局2001年9月25日公告之第6,175,824號專利，專利名稱 為"利用專利指標來選擇股票的系統及方法"(Method and apparatus for choosing a stock portfolio ,based on patent indicators)，該專利技術揭露 了利用專利指標選購股票的技術，卻沒有揭露如何得到該等專利指標 值。 對於用戶來說，專利指標值的準確性至關重要，因此希望提供一種系 統和方法能提供給用戶客制化服務，讓客戶清楚了解其最終所得專利 指標值所依據之資料範圍，獲取最準確之專利指標值。 本發明係關於一種專利資訊處理系統及方法，特別係關於一種統計計 算專利指標的系統與方法。 申請專利範圍 1. 一種專利指標分析系統，其包括有：複數客戶端電腦，其包括有一交 互式用戶介面，用戶可藉之選擇專利指標類型及選擇公司名稱組合； 一本地資料庫，存儲有複數公司名稱集合；一應用軟體伺服器，其包 括有：一專利自動下載引擎，其藉由網路自動從至少一遠端資料庫下 載所選公司名稱組合中所列公司之專利，並將下載之專利資料保存至 本地資料庫中；一專利指標分析裝置，包括有複數專利指標計算裝置， 每一專利指標計算裝置對應一種專利指標類型，用於計算該種類型的 專利指標值，每一專利指標計算裝置設置有至少一參數，藉由搜索本 地資料庫中的專利資料來獲取相應之參數值，然後根據該參數值計算 出專利指標值。 2. 如申請專利範圍第1項所述之專利指標分析系統，還包括有一公司資 料維護裝置，用戶可藉之查詢、新增、修改及刪除公司名稱集合及公 司名稱集合內的公司名稱。 申請專利範圍 3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之專利指標分析系統，其中的公司 名稱集合係指屬於同一公司家族的所有公司名稱的集合。 4. 如申請專利範圍第1項所述之專利指標分析系統，其中所述所選公司 名稱組合係從一公司名稱集合中挑選出的一組公司名稱。 5. 如申請專利範圍第1項所述之專利指標分析系統，其中所述遠端資料 庫是各國家或地區專利資料庫，包括有美國專利商標局(United States Patent and Trademark Office)專利資料庫，歐洲專利局(European Patent Office)專利資料庫，中國國家知識產權局(State Intellectual Property Office of P.R.China)專利資料庫。 6. 如申請專利範圍第1項所述之專利指標分析系統，其中客戶端電腦還 包括有一結果輸出裝置用於顯示及輸出專利指標值。 申請專利範圍 7. 一種專利指標分析方法，藉由一專利指標分析系統統計計算專利指標 值，包括有如下步驟：用戶藉由一用戶介面輸入公司名稱；專利自動 下載裝置從一本地資料庫中讀取該公司所屬的公司名稱集合；用戶藉 由用戶介面從公司名稱集合中選擇至少一個公司名稱；根據所選公司 名稱，系統自動從一遠端資料庫下載所選公司所擁有的專利；用戶藉 由用戶介面選擇專利指標類型；專利指標分析裝置啟動對應於所選專 利指標類型的專利指標計算裝置；根據該專利指標計算裝置設置的參 數搜索本地資料庫獲取參數值；專利指標計算裝置根據所獲得的參數 值計算出專利指標值。 8. 如申請專利範圍第7項所述之專利指標分析方法，其還包括有將專利 指標值藉由客戶端電腦展現給用戶的步驟。 9. 如申請專利範圍第7項所述之專利指標分析方法，其還包括有用戶藉 由用戶介面查詢、新增、修改及刪除公司名稱集合及公司名稱集合內 的公司名稱的步驟。 專利指標分析系統硬體架構 專利指標分析方法 藉由一專利指標分析系統統計計算專利指標值，包括有如下步驟： 1. 用戶藉由一使用者介面輸入公司名稱； 專利自動下載裝置從一本地資料庫中讀取該公司所屬的公司名稱集合； 用戶藉由使用者介面從公司名稱集合中選擇至少一個公司名稱； 根據所選公司名稱，系統自動從一遠端資料庫下載所選公司所擁有的 專利； 用戶藉由使用者介面選擇專利指標類型； 專利指標分析裝置啟動對應於所選專利指標類型的專利指標計算裝置； 根據該專利指標計算裝置設置的參數搜索本地資料庫獲取參數值； 專利指標計算裝置根據所獲得的參數值計算專利指標值。 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 專利指標分析系統功能裝置圖 本發明專利指標分析方法作業流程圖 專利指標內容 提供的專利指標類型包括有專利數量、技術領域專利增長率、技術領 域公司專利比率、專利引證次數、技術循環指標、科學關聯指標及科 學力量指標等。 專利指標分析裝置122中都有一對應於該專利指標類型的計算裝置， 每一計算裝置設置有一個或多個可變參數，如下：幾種專利指標類型 及其參數(假定所調查公司為甲公司，其在美國專利商標局所獲取之 專利總數為n) 專利數量(=n)，其中n為參數；專利增長率(=(nt+1nt)/nt*100%)，其中時點t及該時點對應的專利數量nt；技術領域公司 專利比率(=nc/n*100%)，其中某技術領域內專利數量nc及n為參數； 專利引證次數(=c)，其中公司專利被後來專利引證總次數c為參數； 技術循環指標(=ta/n)，其中n及所有專利前案檢索的中間年份與公告 年份的時間差的總和ta為參數；科學關聯指標(=m/n)，其中n及公司 所有專利引用科學文獻總數m為參數；科學力量指標(=m)，其中公司 所有專利引用科學文獻總數m為參數。