Transcript Micro-fluorescenza (strumentazione del Centro Scansetti)

LABORATORIO DI MICRO-FLUORESCENZA A RAGGI X
(STRUMENTAZIONE CENTRO SCANSETTI)
Responsabili:
Dott. Gloria Vaggelli (CNR), e-mail: [email protected]; tel.: +39 011 670.5177
Dott. Roberto Cossio (DST), e-mail: [email protected]; tel: +39 011 670.5177
Dott. Francesco Turci (DC), e-mail: [email protected]; tel.: +39 011 670.7577
Attrezzature:
• μ-XRF Eagle III-XPL
• detector EDS Si(Li), 30 mm2, finestra di Be
• tubo a raggi X microfocus (80 x 80 μm), anodo di
Rh (50 kV, 1mA) raffreddato ad aria.
• ottica raggi X policapillare(sino a 105 CPS):
diametro fascio 30 µm (Varispot 30÷300 µm)
• filtri primari
• Camera portacampioni (Ø 330 mm x 350 mm ).
analisi in vuoto/aria
• stage motorizzato X-Y-Z (100*100*60 mm), step
1.5 µm
• 2 telecamere a colori: area 20 x 20 mm e 1.5 x 1.5 mm (autofocus)
• opzioni di quantificazione
• software per profili e mappe a raggi X
Il Laboratorio di microfluorescenza a raggi X, ospitato presso il Dipartimento di Scienze
della Terra (DST) dell’Università degli Studi di Torino. Lo spettrometro µ-XRF Eagle IIIXPL con detector EDS Si(Li) 30 mm2 e software analitico Edax Vision32, è di proprietà del
Centro Interdipartimentale “G. Scansetti” per lo Studio degli Amianti e di altri Particolati
Nocivi, è stato acquistato con fondi della Compagnia di San Paolo ed inventariato presso
in Dipartimento di Chimica (DC) dell’Università di Torino.
Costi e regolamento
Prenotazione dello strumento
Ricercatori e dottorandi che hanno seguito il corso μ-XRF possono prenotare l’accesso
al laboratorio inviando un e-mail ai responsabili La disponibilità di turni (from lunedì’ a
venerdì):
I. Turn
9-13 h
II. Turn
14-18 h
È accessibile da qui.
Manuale Eagle μ-XRF
Diapositive del course
Applicazioni:
• Analisi chimica di elementi in traccia
• Mappe e profili di concentrazione (risoluzione laterale 30 µm)
Esempi di ricerche:
Condotte nel laboratorio:
• G. Vaggelli and R. Cossio (2012) “μ-XRF analysis of glasses: a non-destructive utility for cultural heritage
applications” Analyst, 137, 662
Riferimenti utili (vedere il corso XRF per detagli):
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
Beattie H.J., Brissey, R.M., (1954) Analytical Chemistry 26, 980-983.
Bertin E.P, Introduction to X-Ray Spectrometric Analysis (1978) Plenum Press, New York.
Bogaerts A., Gijbels R., and Vleck J.(1998). Spectrochim. Acta, Part B 53, 1517–1526
Bogaerts A. and Gijbels R., (1998) J. Anal. At. Spectrom. 13, 721–726
Bogaerts A., Chen Z., Gijbels R., and Vertes A., (2003) Spectrochim. Acta, Part B 58, 1867–1893.
Borghi A., Cossio R.Serra M. and Vaggelli G. (2009) μ-XRF Spectrometer for the study of rock forming
minerals. ICXOM20 Karlsruhe, Germany 14-18/09/2009.
Borkhodoev V.Y., (2002). X-Ray Spectrometry 31, 209–218.
Criss, J.W., Birks, L.S.(1968) Analytical Chemistry 40, 1080-1086.
http://www.esrf.eu/UsersAndScience/Experiments/Imaging/ID22
Gerward L. (1981). “X-ray attenuation coefficients and atomic photoelectric absorption cross sections of
silicon” J. Phys. B: At. Mol. Phys. 14, 3389-3395.
D.S. Gholap et al. (2010) Analytica Chimica Acta 664, 19–26.
George J. Havrilla, Velma Montoya, Stephen Lamont, Lav Tandon . Aerosol Filter Analysis using
Scanning Micro X-ray Fluorescence. Denver X-ray Conference, 2007.
Henke B.L., Gullikson E.M., and. Davis J.C, (1993). X-ray interactions: photoabsorption, scattering,
transmission, and reflection at E=50-30000 eV, Z=1-92, (1993). Atomic Data and Nuclear Data Tables 54,
181-342.
Jenkins R., Gould R.W., and Gedcke D., Quantitative X-Ray Spectrometry, 2nd edition (Marcel Dekker,
Inc., New York, 1995).
Kotula P. G., Keenan M. R., and Michael J. R. (2003), Automated Analysis of SEM X-ray Spectral
Images: A Powerful New Microanalysis Tool, Microsc. Microanal. 91, 17
Lucas-Tooth J., Pyne C., (1963) Advances in X-ray Analysis, 7, 523-541.
Martin W.C and Wiese W.L., Atomic Spectroscopy: A Compendium of Basic Ideas, Notation, Data, and
Formulas ( National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland, 1999). Online at
http://physics.nist.gov/Pybs/AtSpec/ .
Miller et al. (2005) Spectrochimica Acta Part B 60, 1458–1467.
Rafał Sitko(2009). Quantitative X-ray fluorescence analysis of samples of less than ‘infinite thickness’:
Difficulties and possibilities. Spectrochimica Acta Part B 64, 1161–1172.
Sherman, J., (1954) ASTM Special Tech. Publ. No. 157.
Sherman J., (1955). Spectrochim. Acta 7, 283.
Shiraiwa, T., Fujino, N.(1966) Japanese Journal of Applied Physics 5, 886-899.
Tertian R. and Claisse F., Principles of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis (1982) Heyden,
London.
Thomasin C., Miller G. J. Havrilla (2005) Elemental Imaging For Pharmaceutical Tablet Formulation
Analysis By Micro X-ray Fluorescence. Advances in X-ray Analysis 48, 274-283.
Thomsen V., Schatzlein D., and Mercuro D., (2005). Spectroscopy 20, 22–25.
Uzu et al. (2010) Foliar Lead Uptake by Lettuce Exposed to Atmospheric Fallouts. Environ. Sci. Technol.
44, 1036
Wang et al. (2010) Quantitative imaging of element spatial distribution in the brain section of a mouse
model of Alzheimer’s disease using synchrotron radiation X-ray fluorescence analysis J. Anal. At.
Spectrom. 25, 328–333