Transcript 駒宮研ミーティング

Progress of Shintake Monitor
(ATF2 IP-BSM)
ATF2 weekly meeting : KEK site meeting
2008/7/25
T. Yamanaka
干渉縞測定セットアップ
• ピンホール付き、フォトダイオードを自動ステージで動かし、レーザー光の
プロファイルを測定
• 別の場所でもフォトダイオードで光量を測定し、光量のジッターを補正
• 本番と同じセットアップで測定
位相安定化用
ディレイライン
R=100% mirror
R=100% prism
φ1μm pinhole
photo diode
R=50% splitter
イメージ反転
ダブプリズム
R=100% mirror
f=250mm
convex lens
automatic stage
干渉縞の測定結果
今回の測定
前回の測定
• 干渉縞の乱れが小さくなっている ← レーザーの収束点で測定したため
• レーザー光のプロファイルそのものの形が目立つようになっている
干渉縞のコントラスト
• 片方のpathのみのプロファ
イルから、干渉縞のとり得る
最大値と最小値を計算
Imax = I1 + I2 + 2(I1 I2)1/2
Imin = I1 + I2 - 2(I1 I2)1/2
• 測定した干渉縞と重ねて
プロット
• 一見したところ、中央付近
でのコントラストが悪いよう
に見えるが、これは2つの光
の光量に差があるためで、
それを考慮すると、良いコン
トラストが得られている
光学系の配置
垂直定盤(正面図）
レーザー定盤(上面図)
PSD2
PSD1
垂
直
定
盤
へ
IP
レ
ー
ザ
ー
定
盤
か
ら
位置のジッター
レーザー定盤上のPSD(PSD1)
20,000パルスのレーザーでの測定結果
垂直定盤上のPSD(PSD2)
IPでの位置ずれの計算
• レーザーの出射口での角度と位置を指定し、
IPまでの光路を計算。同時に2か所のPSD上
での位置が出る
• 2か所のPSDで測定すれば、レーザー出射口
での角度と位置が一意的に求まるので、IPで
の位置も求まる
• PSDでの位置測定データとIPでのレーザー光
プロファイルを同時に取得することでIPでの位
置ずれの補正が可能と考えられる
光線追跡の計算結果
レーザー出射口において、
角度：±0.001°(17.5μrad)
位置：±0.1 mm
の範囲で振ってみて、PSD1、PSD2、
IPでの位置の変化を計算
光線追跡計算
• PSD1とPSD2での位置のジッターの実測値を
再現するように、角度、位置を振ると、IPでの
位置ずれはおよそ±1μm
• IPがレーザーの収束点になるようにしてある
ので、出射口での位置ずれはIPでの位置ず
れには効かず、角度ずれのみが問題になっ
てくる