Современная электронная компонентная база на основе

Download Report

Transcript Современная электронная компонентная база на основе

«Современная электронная компонентная база на основе арсенида галлия»

E-mail: [email protected]

Тел. (834) 225-46-74 Докладчик: Зам. технического директора по техническому развитию и инновациям С. Н. Кузнецов 1

 

GaAs

– материал, сочетает преимущества

Si

формирование приборных структур) и

SiC

(технология получения, – широкий диапазон рабочих температур (до 250 o

C

), широкий диапазон рабочих частот – десятки и сотни

ГГц

, вполне оправданно занимает нишу между

SiC

. Не претендуя на замену ни

Si

, ни

SiC

,

GaAs

технологично и относительно недорого изготавливать широкую и, заканчивая, силовыми полупроводниковыми приборами.

Si

и позволяет достаточно гамму полупроводниковых приборов, начиная от самых маломощных Быстродействие полупроводниковых приборов на

GaAs

примере такого параметра как «

Время восстановления

на

обратного сопротивления

» силовых диодов может составлять единицы

нс

без радиационной обработки

.

Профиль концентрации примесей в

GaAs p-i-n

структуре –

Использование современного аналитического оборудования обеспечивает высококачественный анализ структуры, изготавливаемых кристаллов GaAs p-i-n – диодов (профилометр CVP 21 )

Электрические параметры диодов на основе GaAs ( в сравнении с

Si

диодами и

SiC

– диодами Шоттки )

Наименование параметра

1 Обратное напряжение

U

RRM , (В) 2 Максимальный рабочий ток

I

F , (А) 3 Прямое напряжение

U

F , В 4 Время обратного восстановления

t

rr , (нс) 5 Емкость перехода

С

J , пФ 6 Максимальная температура кристалла, o C

Режим измерения

I

RRM ≤ 100 мкА

T

J = 150

I

F =

I

F max  C

T

J = 150  C

I

F = 1 А;

di/dt

= 200 А/мкс

U

RRM = 200 В

U

R

U

R = 0 В; = 200 В 7 Относительная стоимость (относительно кремниевых диодов) 80 100 20 150 1,0

Si*

600 15,0 1,1

GaAs

600 15,0 1,5 35 12 8 250 1,5

SiC*

600 15,0 1,7 < 10 440 40 175 5,0 * Использованы материалы передовых фирм: Кремниевые UFRED – HFA08TB60 (International Rectifier, США) SiC ДШ – IDC08S60C (Infineon, Германия) и C3D08060G (Cree, США)

Кристаллы диодов АД6101Б (1,4X 1,4 мм, I max =1 А) АД6106Б (7,0X 7,0 мм, I max =50 А) и

GaAs

диоды в корпусе КТ-111А-2.01

7

Электрические параметры GaAs диодов в корпусе КТ-111А-2.01

(основание корпуса - изолированное), прямые токи – до 3

А

, прямые напряжения – не более 1,8

В

на токе 3

А

, обратные напряжения – от 600 до 1000

В

, время обратного восстановления – от 20 до 60

нс

, рабочий диапазон температур – от минус 60 o

C

до +250 o

C

, тепловое сопротивление «Переход-корпус» – не более 80 o

C

/

Вт

8

GaAs

диоды в корпусе КТ-28 (ТО-220)

9

Электрические параметры GaAs диодов в корпусе КТ-28 (ТО-220)

прямые токи – до 15

А

, прямые напряжения – не более 2,0

В

на токе 15

А

, обратные напряжения – от 600 до 1000

В

, время обратного восстановления – от 20 до 70

нс

, рабочий диапазон температур – от минус 60 o

C

до +150 o

C

тепловое сопротивление «Переход-корпус» – не более 15 o

C

/

Вт

10

GaAs

диоды в корпусе КТ-93-1 (SMD-0,5)

11

Электрические параметры GaAs диодов в корпусе КТ-93-1 (SMD-0,5)

прямые токи – до 15

А

, прямые напряжения – не более 2,0

В

на токе 15

А

, обратные напряжения – от 600 до 1000

В

, время обратного восстановления – от 20 до 70

нс

, рабочий диапазон температур – от минус 60 o C до +250 o C, тепловое сопротивление «Переход-корпус» – не более 10 o

C

/

Вт

12

__Jпр__ Jобр.вос.

1

Динамические характеристики GaAs – диодов, производства ОАО «Орбита» (в сравнении с Si быстровосстанавливающимися диодами)

Время обратного восстановления Si – диод (БВД)

-1 0

Tj=25 0 C Tj=125 0 C Tj=150 0 C

0 10 20 30 40 50 60 70 80 t, нс

GaAs – диод (p-i-n - диод)

13

Время обратного восстановления

GaAs p-i-n

(

I

F =1 А,

U

R =20 В,

T

=25 o

C

) – диодов № диода 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

t

RR , нс 100 80 70 70 70 80 70 60 70 60 № диода 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

t

RR , нс 50

t

RR , нс Ср.

54,5 40 60 60 50 50 50 80 50 70

Обратная ветвь ВАХ диода АД6108Б

Электрические параметры быстродействующих GaAs диодов, производства ОАО «Орбита» (в сравнении с диодами на основе Si и SiC) Исходный материал

Прибор (фирма) ________________________________________ Электрические параметры Максимальное обратное напряжение,

В

Si

LXA15T600 ( Фирма «Power Integrations ») 600

SiC

Диод Шоттки SDT12S60 ( «Infineon») 600

GaAs

Диод («Орбита») 600 Максимальный постоянный прямой ток, При

Т

=+100 °

С

При

Т

=+175 °

С А

15 0 12 0 15 15 Максимально прямое напряжение, (

I

F =15

А

) При

Т

=+25 °

С

При

Т

=+125 °

С В

Время обратного восстановления,

нс

(di/dt=200

А/мкс

; 200

В

, 15

А

) При

Т

=+125 °

С

При

Т

=+150 °

С

Ёмкость перехода,

пФ

(

f

=1,0

МГц

)

U

R =0

В U

R =600

В

Частота коммутации,

МГц

Максимальная рабочая температура, °

С

3,1 2,8 25 55 250 25 3,0 150 1,8 2,0 18 20 700 45 2,0 175 1,8 1,8 35 25 22 15 5,0 250 16

Разработаны быстродействующие, высоковольтные, высокотемпературные GaAs-диоды, позволяющие достигнуть в преобразовательных устройствах следующих результатов

:     малых габаритов устройств при неизменных рабочих напряжениях и токах, за счёт перехода на более высокие частоты преобразования; меньших потерь активной мощности, обусловленных протеканием обратных токов в

GaAs

диодах; высокой эффективности преобразовательных устройств за счёт быстрого восстановления обратного сопротивления

GaAs

диодов.

Разработанные высоковольтные, высокотемпературные, быстродействующие

GaAs

- диоды имеют низкие значения времени

t

rr

во всём диапазоне рабочих температур кристалла (-60÷250 о

С

). К дополнительным достоинствам следует отнести малую ёмкость диодной структуры, слабо зависимую от обратного напряжения .

Испытания чипов и приборов p-i-n − GaAs диодов показали следующее

:    1 P-i-n − GaAs диоды показали высокую устойчивость к лавинному пробою (энергостойкость); 2 P-i-n − GaAs диоды показали высокие эксплуатационные характеристики и работоспособность при температуре окружающей среды − +250 o С и продемонстрировали возможность работы в экстремальных условиях (в два раза выше требований военных стандартов «Климат-7» и стандарта США − MIL STD-883); 3 Результаты проведённых испытаний p-i-n − GaAs диодов указывают на реальную возможность широкого применения полупроводниковых приборов на основе GaAs в области силовой, быстродействующей, высокотемпературной электроники.

Биполярные гетеротранзисторы на основе структур AlGaAs/GaAs

Резкое изменение состава на границе эмиттер-база «Сшивание» Физической структуры Плавное изменение состава на границе эмиттер-база Формирование встроенного поля в базе за счет изменения состава – уменьшение времени пролета

Постановка задачи  Одной из актуальных задач, с научной, технико-технологической и коммерческой точек зрения, является создание высококачественных высоковольтных СВЧ транзисторов, работающих в сантиметровом диапазоне длин волн с возможностью применения во вторичных источниках питания. Разработка и изготовление подобных быстродействующих транзисторов возможна на основе

AlGaAs

/

GaAs

– гетеротранзисторных структур.

П араметр ы AlGaAs/GaAs гетероструктурных n-p-n транзистор ов

Статический коэффициент передачи тока в схеме

ОЭ

при

U

КБ = 5

В

,

I

Э = 1

А

Граничная частота коэффициента передачи тока в схеме

ОЭ

при

U

КБ = 5

В

,

I

К = 50

мА

Граничное напряжение при

I

Э = 0,1

А I

Б Напряжение насыщения коллектор-эмиттер при

I

К = 0,08

А

= 1

А

,

I

Напряжение насыщения база-эмиттер при

I

К = 1 Б = 0,08

А А

, Время включения при

U

КЭ = 150

В

,

I

К = 1

А

,

I

Б = 0,08 А Время выключения при

U

КЭ

I

Б = 0,08

А

= 150

В

,

I

К = 1

А

, >20 > 4

МГц

150-200 < 0,5 < 1,2 <0,6

В В мкс

<10 мкс

В

Кристаллы AlGaAs/GaAs – гетероструктурных n-p-n транзисторов

AlGaAs/GaAs

n-p-n

– гетероструктурные – транзисторы в корпусе КТ-111

Выходная ВАХ (I C (U CE

)) AlGaAs/GaAs n-p-n – гетероструктурного транзистора

Переключательная характеристика AlGaAs/GaAs – гетероструктурного n-p-n – транзистора (длительность импульса 1 мкс)

Переключательная характеристика

быстродействующего Si n-p-n – транзистора (длительность импульса 1 мкс)

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Проводимые разработки позволяют существенно расширить спектр быстродействующих полупроводниковых приборов и технологий гетероструктур для современных приборов твердотельной СВЧ электроники (биполярные гетеротранзисторы, резонансно туннельные диоды и т. п.)