16.00 Современный Рентгеновский анализ в геологии Bruker
Download
Report
Transcript 16.00 Современный Рентгеновский анализ в геологии Bruker
Современный рентгеновский
анализ в геологии
2012
1
Who is Bruker?
Bruker Physik AG:
Основана в 1960
Целью компании было разработка,
в Карлсруе (Германия)
производство и продажи научного и
профессором Гюнтером
аналитического оборудования
Лаукеном
2
Bruker
Наши офисы и представительства
Головные офисы компании
Сервисные центы
Сервисно-методическая поддержка, продажи
Компания Bruker
Bruker BioSpin
4
Bruker Optics
Bruker Daltonics
Bruker AXS
Bruker AXS
Рентгеновская спектрометрия и дифрактометрия
Оптико-эмиссионная спектрометрия
CS/ONH – анализ
Атомно-силовая микроскопия
Профилометрия и оптическая метрология
Трибология
Рентгенофлуоресцентный анализ
все материалы: жидкости, металлы,
порошки, газы (на фильтрах)
все элементы: от Be(4) до U(92)
широкий диапазон концентрации: от миллионных долей (ppm) до 100 %
высокая точность до 0.1 % отн.
экспрессность: время анализа до 1 мин
минимальная пробоподготовка
минимальная трудоемкость
анализ без использования стандартных образцов
6
Определение элементного состава
геологических проб
Элементный анализ
Волно-дисперсионный
WDX
Последовательный
Sequential — S8 Tiger
7
Параллельный
Simultaneously — S8 Lion
S8 Dragon
Энерго-дисперсионный
ЕDX
Ручные - S1
Настольные S2
M1-M4
Элементный анализ
Рентгенофлуоресцентные
спектрометры
S8 TIGER(((
S2 PICOFOX
TXRF
8
S8 LION
TRACERturbo-SD
Ручной РФА
S2 RANGER
QUANTAX
РФА на микроскопе
S2 RANGER
Энергодисперcионный спектрометр
Компактный и простой в управлении прибор
– анализ одним касанием
Большой магазин с возможностью загрузки
проб различных типов в любой момент
С автоматической
загрузкой
Уникальные характеристики безазотного
SDD детектора XFlash® – <124 эВ при
скорости счета 100000 имп/сек
Анализ без необходимости
использования стандартов при
помощи программы EQUA ALL
С ручной загрузкой
9
S2 PICOFOX
TXRF спектрометр
Настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр с
полным внешним отражением
10
(((
S8 TIGER волнодисперсионный
спектрометр последовательного типа
11
Рентгеновская трубка с торцевым
окном 1, 3 и 4кВт
Наилучшая чувствительность по
легким элементам благодаря 175мА
Улучшенная система защиты
спектрометрической камеры и трубки
от загрязнений
Высокая скорость движущихся
механизмов
Встроенный сенсорный экран
управления.
Малые размеры (менее 1 м2)
Автоматический сменщик масок
S8 TIGER: высокая аналитическая
гибкость, чувствительность и
разрешение
проба
коллиматорная маска
вакуум-затвор
до 10 фильтров
первичного пучка
75m
возбуждение:
4kW (до 60kV
или 150mA)
Rh
проточный
счетчик
Сцинтилляционный
детектор
до 4
коллиматоров
до 8
кристаллованализаторов
S8 LION S8 DRAGON
спектрометры многоканального
типа
До 16 анализируемых каналов
Наилучшая чувствительность по
легким элементам благодаря 170мА
Высокая скорость анализа
Диффракционный канал — S8 LION
EDX канал — S8 DRAGON
13
Рентгеновская трубка с торцевым 3 и
4кВт
Встроенный сенсорный экран
управления.
Малые размеры (менее 1 м2)
Автоматический сменщик масок
S8 LION
схема измерительной камеры
S8 LION
Термо-статированные кристаллы под
каждую группу элементов
Пропорциональный счётчик для лёгких элементов
Сцинтилляционный – для тяжёлых
Быстрая и точная пробоподача
с системой SampleCare
& Easy Load
Дифракционный канал
для определения
свободной извести
S8 DRAGON
Встроенный энергодисперсионный канал
позволяет видеть всю таблицу менделеева,
помимо 15 выбранных элементов.
Элементный анализ в электронной
микроскопии QUANTAX
QUANTAX - EDS с
детекторами Xflash и Si(Li)
Картирование с
количественным анализом
17
M1 MISTRAL – микроанализ
массивных проб и слоёв
- анализ от Ti до U
- размер объекта 100×100 мм
- видео-микроскоп
- лазерная указка для выбора области
- дискретность исследуемой области от
100 мкм
- моторизованный столик
- точность 0.2 % масс. На драгоценных
металлах
M4 TORNADO – микроанализ,
картирование, спектр в каждой
точке образца
- анализ от Na до U
- дискретность анализа 20 мкм
- анализ многослойных систем
- качественный и количественный
анализ
- встроенный вакуумный насос,
безмасляная откачка
- встроенные системы
термостатирования и охлаждения трубки
- до двух трубок с различными анодами
Картирование образца бетона,
Анализируемая площадь : 15×11 мм, размер пятна 37 мкм,
Общее время измерения с усреднением:
5 мин.
23 мин.
Скорость счёта в точке (37 мкм) имп/с:
4
15
80 мин.
30
Управление приборами, измерение,
обработка и передача данных:
SPECTRAplus
количественный и полуколичественный
анализ
простое, удобное и безопасное управление
приборами
обработка результатов во время
измерения в реальном многозадачном
режиме
современная матричная коррекция и
анализ без использования стандартных
образцов
гибкое и удобное для пользователя
представление результатов анализа (Word,
Excel, PowerPoint,…)
интегрированная база данных для любых
параметров интересуемой пробы
быстрая и надежная передача всех данных
по локальной сети
21
SPECTRAplus
Оптимизация параметров измерения в
режиме on-line
22
Рентгеноструктурный и фазовый
анализ
более 15 моделей дифрактометров !!!
D8 ADVANCE
23
D4 ENDEAVOR
D2 PHASER
D8 ADVANCE:
широкие возможности и гибкость
24
качественный фазовый анализ с
программой DIFFRACplus SEARCH
количественный фазовый анализ с
программами DQUANT или TOPAS
изучение фазовых превращений при
изменении температуры и других
внешних условий
рефлектометрия при помощи
программы LEPTOS
анализ текстуры и микронапряжений
по программе TexEval и STRESS
D2 PHASER – настольный
порошковый дифрактометр
настольная система с аналитическими
характеристиками стационарной
составной гониометр –
высокотехнологичное решение
уникальный детектор LYNXEYE
высокоточные направляющие для
позиционирования оборудования
включил – работай, нет необходимости в
юстировке
Качественный и количественный анализ
фазового (минерального) состава с
программным обеспечением EVA и
TOPAS
25
Рентгеновский дифракционный
анализ
Качественный фазовый анализ
Количественный фазовый анализ
26
Рентгеновская дифрактометрия –
качественный фазовый анализ с
программой DIFFRACplus SEARCH
27
DIFFRACplus TOPAS
Аппроксимация пика
Размер кристаллитов
Микронапряжения
...
Определение структуры
Уточнение структуры по Rietveld
28
Анализ дифрактограммы
(Pawley, LeBail)
Параметры ячейки
...
Количественный фазовый анализ по Rietveld
Сертификаты ГОССТАНДАРТА РФ
Все приборы внесены
в Госреестр средств
измерений,
допущенных
к применению
в Российской
Федерации
29
ООО Брукер
Благодарим за внимание!
www.bruker.ru
www.bruker-axs.com
30